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公开(公告)号：CN115172350A
公开(公告)日：2022-10-11
申请号：CN202210806410.X
申请日：2022-07-08
申请人： 中建材玻璃新材料研究院集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： H01L25/075 , H01L21/50 , H01L33/56 , H01L33/52 , H01L33/48
摘要： 本申请实施例提供了一种LED发光模组及其制作方法，该LED发光模组包括：基板；多个LED芯片，LED芯片电连接于基板的第一表面；固定框架，固定框架设置于第一表面且具有多个用于定位LED芯片的网孔，一个网孔对应一个LED芯片；封装胶，封装胶至少部分地设置于固定框架与多个LED芯片之间。本申请实施例的LED发光模组，其封装胶至少部分地被限制于固定框架与各LED芯片的间隙中，在固定框架的阻隔下，封装胶整体的涨缩受到抑制，使得该LED发光模组整体的应力降低、良率提高；且封装胶与固定框架两者可共同形成对该多个LED芯片朝各个方向出射的光产生反射作用的结构层，以此实现对各LED芯片的光的隔离，这样可以实现LED发光模组均匀发光。
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公开(公告)号：CN117164214B
公开(公告)日：2024-08-13
申请号：CN202310972576.3
申请日：2023-08-03
申请人： 中建材玻璃新材料研究院集团有限公司 , 凯盛科技集团有限公司 , 蚌埠中光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种高世代显示玻璃生产工艺，该工艺中通过差异化控制分部加热熔窑各部分的加热温度，实现熔窑中热力场的可控分布，通过分部加热熔窑与分级排泡澄清装置相结合，实现两个工艺步骤产生协同作用，保证了较低残留微气泡率与低能耗，提高玻璃熔体流速和流量，加大产量；采用不同区域锡蒸汽和锡槽废气的差异化排出的锡槽装置，实现锡槽进气与排气的精准控制、温度场的精准控制；本发明对显示玻璃基板生产工艺的多个工序进行组合创新研究，形成了资源充分利用、优势协同互补、产线有机统一的显示玻璃基板生产工艺。
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公开(公告)号：CN117164214A
公开(公告)日：2023-12-05
申请号：CN202310972576.3
申请日：2023-08-03
申请人： 中建材玻璃新材料研究院集团有限公司 , 凯盛科技集团有限公司 , 蚌埠中光电科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种高世代显示玻璃生产工艺，该工艺中通过差异化控制分部加热熔窑各部分的加热温度，实现熔窑中热力场的可控分布，通过分部加热熔窑与分级排泡澄清装置相结合，实现两个工艺步骤产生协同作用，保证了较低残留微气泡率与低能耗，提高玻璃熔体流速和流量，加大产量；采用不同区域锡蒸汽和锡槽废气的差异化排出的锡槽装置，实现锡槽进气与排气的精准控制、温度场的精准控制；本发明对显示玻璃基板生产工艺的多个工序进行组合创新研究，形成了资源充分利用、优势协同互补、产线有机统一的显示玻璃基板生产工艺。
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公开(公告)号：CN118908565A
公开(公告)日：2024-11-08
申请号：CN202410965244.7
申请日：2024-07-18
申请人： 中建材玻璃新材料研究院集团有限公司 , 蚌埠中光电科技有限公司 , 凯盛科技集团有限公司 , 中国建材国际工程集团有限公司
摘要： 本申请公开了一种微缺陷、高品质、高世代TFT‑LCD玻璃基板浮法工艺。相较于普通浮法工艺，本发明针对TFT‑LCD玻璃基板特殊性，配料工序基于优化设计的原料配方，采用喷吹、振动手段辅助投料，提高组分均匀稳定性；熔化工序采用立体气‑电复合加热实现充分熔化；澄清工序特别采用铂金通道澄清及强制扰流均化完成高效澄清均化；成型工序通过对加热单元与微型拉边机的精细调控，提升展薄质量；退火工序通过独立分区精密退火控制，实现精细退火；研磨工序采用特殊设计倒角研磨盘和研磨垫，以及优选硬度的研磨垫进行研磨，实现优异的加工效果。通过上述工序的优化设计与创新组合，开发了全新的高世代TFT‑LCD玻璃基板浮法生产工艺。
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公开(公告)号：CN115100143B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202210720848.6
申请日：2022-06-23
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/40 , G06V10/764
摘要： 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及背光模组瑕疵的检测方法；该方法是一种利用光学手段，具体是利用可见光手段采集可见光图像以此检测或分析材料的方法，对背光模组进行检测，具体为：采集背光模组在不同拍摄角度下的发光图像，得到发光图像的灰度图像；基于灰度图像，计算各像素点属于各类别的模糊分类结果；然后计算不同间距下所有点对中的两像素点对各类别的统计贡献；根据统计贡献，计算各类别的分布稳定系数；进而得到所有像素点对各类别的剔除影响；基于剔除影响，判断对应像素点是否为瑕疵点。本发明利用背光模组能够自发光的物理性质，获取背光模组的发光图像，通过发光图像检测背光模组的瑕疵，能够准确检测到背光模组的瑕疵。
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公开(公告)号：CN115100143A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210720848.6
申请日：2022-06-23
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/40 , G06V10/764
摘要： 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及背光模组瑕疵的检测方法；该方法是一种利用光学手段，具体是利用可见光手段采集可见光图像以此检测或分析材料的方法，对背光模组进行检测，具体为：采集背光模组在不同拍摄角度下的发光图像，得到发光图像的灰度图像；基于灰度图像，计算各像素点属于各类别的模糊分类结果；然后计算不同间距下所有点对中的两像素点对各类别的统计贡献；根据统计贡献，计算各类别的分布稳定系数；进而得到所有像素点对各类别的剔除影响；基于剔除影响，判断对应像素点是否为瑕疵点。本发明利用背光模组能够自发光的物理性质，获取背光模组的发光图像，通过发光图像检测背光模组的瑕疵，能够准确检测到背光模组的瑕疵。
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公开(公告)号：CN115117222A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210720851.8
申请日：2022-06-23
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： H01L33/58 , H01L33/50 , H01L33/56 , H01L25/075 , H01L21/66
摘要： 本发明涉及半导体发光器件技术领域，具体涉及一种带预制凝胶光学隔离层的LED芯片阵列及其制作方法。该方法获得透明胶体点胶时每个点胶过程中的点胶数据。通过对点胶数据进行分析，确定每个点胶数据的点胶质量评价。根据点胶质量评价和点胶数据对每个点胶过程进行分类，获得多个点胶过程类别。根据每个点胶过程类别对应的点胶时间和点胶质量构建点胶劣化阶段曲线。通过凝胶光学隔离层空间邻域范围内的透明胶体的点胶时间获得对应的劣化值，进而调整凝胶光学隔离层点胶时的涂胶量。本发明通过调整凝胶光学隔离层的涂胶量补偿了点胶异常的LED芯片附近的光路，提高了LED芯片阵列制作过程中的良品率。
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