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公开(公告)号：CN105092994A
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201410181425.7
申请日：2014-04-30
摘要： 一种ESD检测方法、装置以及ESD调试方法、装置，ESD检测方法包括：接收输入文件；通过技术工具文件提取对应版图文件的网表；检测网表中挂载在电源线上的电路单元所设置的ESD保护器件类型；通过检测网表的电路单元中器件的分布坐标，获取网表中各电路单元分布范围；计算各电路单元分布范围与网表中顶层电路单元分布范围的比值；当比值大于或等于第一预设值时，判定电路单元中包括核芯器件，判断ESD保护器件类型是否为适用于核芯器件的ESD保护器件；当ESD保护器件类型不适用于核芯器件的ESD保护器件，判定电路违反ESD设计规则；当比值小于第一预设值，检测电路单元中是否包含核芯器件。所述方法和装置减少了检测时间。
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公开(公告)号：CN109426738B
公开(公告)日：2021-11-12
申请号：CN201710740049.4
申请日：2017-08-23
发明人： 林松
摘要： 本发明提供一种硬件加密器及加密方法、电子装置，该硬件加密器包括：数组存储单元、扫描器、缓冲器、打包单元、可编程线性反馈移位寄存器、逻辑单元和控制单元，所述控制单元从计算设备根据密码本的随机地址读取源数据，并将源数据放入逻辑单元的第一操作数中，以及将所述可编程线性反馈移位寄存器产生的伪随机数发送至所述计算设备中的通用中央处理单元或通用图形处理单元进行浮点哈希运算，并将返回的浮点数放入所述逻辑单元的第二操作数中，通过逻辑运算生成目标数据，然后打包目标数据并输出至所述计算设备的输出文件中。该硬件加密器可以提高加密程度，增加破译难度。该加密方法和电子装置具有类似的优点。
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公开(公告)号：CN105823976B
公开(公告)日：2018-10-16
申请号：CN201510011959.X
申请日：2015-01-09
申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及对芯片进行检测及对芯片测试结果进行验证的方法。对芯片进行检测的方法包括如下步骤：提取所述功能模块的等效电阻及适于从所述芯片电阻中划分功能模块电阻的过渡器件；建立所述功能模块的电阻特性矩阵；在所述过渡器件的位置上设定所述功能模块的等效电流并进行仿真以获得所述功能模块第一端口上的加载电压；基于每次仿真时所述功能模块的等效电流及所述加载电压求取所述功能模块的电阻特性矩阵；验证所述功能模块的电阻特性矩阵；验证通过时基于所述电阻特性矩阵输出检测结果。本发明能够在芯片检测过程中实现自我验证，从而加强检测结果的正确性。
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公开(公告)号：CN105092994B
公开(公告)日：2017-11-28
申请号：CN201410181425.7
申请日：2014-04-30
摘要： 一种ESD检测方法、装置以及ESD调试方法、装置，ESD检测方法包括：接收输入文件；通过技术工具文件提取对应版图文件的网表；检测网表中挂载在电源线上的电路单元所设置的ESD保护器件类型；通过检测网表的电路单元中器件的分布坐标，获取网表中各电路单元分布范围；计算各电路单元分布范围与网表中顶层电路单元分布范围的比值；当比值大于或等于第一预设值时，判定电路单元中包括核芯器件，判断ESD保护器件类型是否为适用于核芯器件的ESD保护器件；当ESD保护器件类型不适用于核芯器件的ESD保护器件，判定电路违反ESD设计规则；当比值小于第一预设值，检测电路单元中是否包含核芯器件。所述方法和装置减少了检测时间。
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公开(公告)号：CN105823976A
公开(公告)日：2016-08-03
申请号：CN201510011959.X
申请日：2015-01-09
申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明涉及对芯片进行检测及对芯片测试结果进行验证的方法。对芯片进行检测的方法包括如下步骤：提取所述功能模块的等效电阻及适于从所述芯片电阻中划分功能模块电阻的过渡器件；建立所述功能模块的电阻特性矩阵；在所述过渡器件的位置上设定所述功能模块的等效电流并进行仿真以获得所述功能模块第一端口上的加载电压；基于每次仿真时所述功能模块的等效电流及所述加载电压求取所述功能模块的电阻特性矩阵；验证所述功能模块的电阻特性矩阵；验证通过时基于所述电阻特性矩阵输出检测结果。本发明能够在芯片检测过程中实现自我验证，从而加强检测结果的正确性。
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公开(公告)号：CN106291300B
公开(公告)日：2019-03-12
申请号：CN201510272047.8
申请日：2015-05-25
申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本发明提供了一种芯片压降、结构的测试方法以及芯片改进方法。在芯片压降的测试方法中，通过获取点对点的电阻数值(包括外部电压输入端与各功能模块之间的第一等效电阻、以及多个功能模块两两之间的第二等效电阻)，以及各功能模块的功耗电流数值，形成电阻特性矩阵Mii和功耗电流的列矩阵Ni，并由Mii乘Ni获取芯片压降值，上述方法可准确、便捷且快速地获取芯片中各功能模块的压降值，快速地反应芯片各部分的压降值信息，从而客观地获取芯片上各部分的压降值分布数据，进而为后续芯片结构改进提供准确而快速的信息，以提高芯片制造整体的进度。
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公开(公告)号：CN109426738A
公开(公告)日：2019-03-05
申请号：CN201710740049.4
申请日：2017-08-23
发明人： 林松
摘要： 本发明提供一种硬件加密器及加密方法、电子装置，该硬件加密器包括：数组存储单元、扫描器、缓冲器、打包单元、可编程线性反馈移位寄存器、逻辑单元和控制单元，所述控制单元从计算设备根据密码本的随机地址读取源数据，并将源数据放入逻辑单元的第一操作数中，以及将所述可编程线性反馈移位寄存器产生的伪随机数发送至所述计算设备中的通用中央处理单元或通用图形处理单元进行浮点哈希运算，并将返回的浮点数放入所述逻辑单元的第二操作数中，通过逻辑运算生成目标数据，然后打包目标数据并输出至所述计算设备的输出文件中。该硬件加密器可以提高加密程度，增加破译难度。该加密方法和电子装置具有类似的优点。
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公开(公告)号：CN106291300A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201510272047.8
申请日：2015-05-25
申请人： 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
IPC分类号： G01R31/26
摘要： 本发明提供了一种芯片压降、结构的测试方法以及芯片改进方法。在芯片压降的测试方法中，通过获取点对点的电阻数值(包括外部电压输入端与各功能模块之间的第一等效电阻、以及多个功能模块两两之间的第二等效电阻)，以及各功能模块的功耗电流数值，形成电阻特性矩阵Mii和功耗电流的列矩阵Ni，并由Mii乘Ni获取芯片压降值，上述方法可准确、便捷且快速地获取芯片中各功能模块的压降值，快速地反应芯片各部分的压降值信息，从而客观地获取芯片上各部分的压降值分布数据，进而为后续芯片结构改进提供准确而快速的信息，以提高芯片制造整体的进度。
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