一种超声波探头性能高集成检测试块

    公开(公告)号:CN111289624A

    公开(公告)日:2020-06-16

    申请号:CN201811502249.7

    申请日:2018-12-10

    IPC分类号: G01N29/30 G01N29/24

    摘要: 本发明提供一种超声波探头性能高集成检测试块,包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体,所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径,所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径。本发明由于将第一扇体、第二扇体和第三扇体设置成为半圆柱状扇体,因此能够快速进行纵波直探头、横波斜探头及纵波小角度探头声轴偏斜角的测定,由于在平面及端面上有刻线,且第一扇体、第三扇体的半径为第二扇体半径的2倍左右,因此能够快速进行凹面和平面斜探头入射点、前沿长度的测定,利用圆弧可以检测探头的脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽。

    一种探头性能测试配套装置

    公开(公告)号:CN209727871U

    公开(公告)日:2019-12-03

    申请号:CN201822066888.5

    申请日:2018-12-10

    IPC分类号: G01N29/30 G01N29/24

    摘要: 本实用新型提供一种探头性能测试配套装置,包括A型试块、B型试块、C型试块和试块通用转动支承装置;所述A型试块、B型试块和C型试块通过试块通用转动支承装置进行夹持翻转。在测试时,首先确定探头的类型和该探头所需测试的性能,再根据探头的类型选择配套装置进行测试。本实用新型通过将三种不同类型的试块与支承装置的配合使用构成探头测试的专用配套装置,根据不同类型的探头以及探头需要测试的性能,能够自由选择试块,满足多种类型探头性能测试的需要,同时降低试块数量、减少测试成本、提高测试效果。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    超声波探头性能高集成检测试块

    公开(公告)号:CN209542529U

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201822075914.0

    申请日:2018-12-10

    IPC分类号: G01N29/30 G01N29/24

    摘要: 本实用新型提供一种超声波探头性能高集成检测试块,包括依次连成一体且半径不同的半圆柱体状第一扇体、第二扇体和第三扇体,所述第二扇体的半圆柱体的半径小于所述第一扇体的半圆柱体的半径,所述第一扇体的半圆柱体的半径小于第三扇体的半圆柱体的半径。本实用新型由于将第一扇体、第二扇体和第三扇体设置成为半圆柱状扇体,因此能够快速进行纵波直探头、横波斜探头及纵波小角度探头声轴偏斜角的测定,由于在平面及端面上有刻线,且第一扇体、第三扇体的半径为第二扇体半径的2倍左右,因此能够快速进行凹面和平面斜探头入射点、前沿长度的测定,利用圆弧可以检测探头的脉冲宽度、相对脉冲回波灵敏度、中心频率和相对带宽。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    多功能声束特性检测试块

    公开(公告)号:CN209542528U

    公开(公告)日:2019-10-25

    申请号:CN201822066890.2

    申请日:2018-12-10

    IPC分类号: G01N29/30 G01N29/24

    摘要: 本实用新型提供一种多功能声束特性检测试块,包括立方体状测试块体,在所述测试块体的正面上设有与背面相通的横通孔;所述左端面与所述底面相邻的一端设有平底孔;所述左端面和右端面的中部各设有一个中心孔。本实用新型由于底面平面和凸圆弧面上有角度刻线,因此能够快速测定纵波小角度探头、凹面横波探头的折射角,利用横通孔可以测定纵波直探头的声轴偏斜角及纵波双晶直探头的焦距,利用上端面、正面和背面,可以测定纵波小角度探头、横波探头的声轴偏斜角。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利