公开(公告)号：CN113238320B

公开(公告)日：2022-11-08

申请号：CN202110520191.4

申请日：2021-05-13

申请人： 之江实验室 ,  浙江大学

发明人： 唐伟杰 ,  林思蕙 ,  阮小可 ,  储涛

IPC分类号： G02B6/293 ,  G02B6/125 ,  G01M11/02

摘要： 本发明公开了一种基于微环谐振器的器件的插入损耗的测量方法，通过改变传统单环微环中的环形结构，将连接待测器件的微环谐振器得到的光谱与没有连接待测器件的微环谐振器得到的光谱进行比较和计算，进而得到插入器件的损耗，这种方法可以减小器件损耗测试所占用的芯片面积，提高测量精度，对于低损耗波导特别适用。

公开(公告)号：CN113238320A

公开(公告)日：2021-08-10

申请号：CN202110520191.4

申请日：2021-05-13

申请人： 之江实验室 ,  浙江大学

发明人： 唐伟杰 ,  林思蕙 ,  阮小可 ,  储涛

IPC分类号： G02B6/293 ,  G02B6/125 ,  G01M11/02

摘要： 本发明公开了一种基于微环谐振器的器件的插入损耗的测量方法，通过改变传统单环微环中的环形结构，将连接待测器件的微环谐振器得到的光谱与没有连接待测器件的微环谐振器得到的光谱进行比较和计算，进而得到插入器件的损耗，这种方法可以减小器件损耗测试所占用的芯片面积，提高测量精度，对于低损耗波导特别适用。