公开(公告)号：CN1537226A

公开(公告)日：2004-10-13

申请号：CN02813945.3

申请日：2002-07-04

Applicant: 乌斯特技术股份公司

Inventor： P·皮拉尼 ,  H·瓦普弗勒

IPC: G01N21/89 ,  D06H3/08 ,  G01N33/36 ,  G01N21/892

CPC classification number: G01N21/94 ,  D06H3/08 ,  G01N21/8915 ,  G01N21/8983 ,  G01N33/365

Abstract: 本发明涉及用于识别一种纺织基本材料(1、3、5)的杂质的方法和装置，其中将纺织基本材料用射线(35，36)照射和得到基本材料上反射的射线(44)并且将其转换为一个电信号。为了有目的地了解在材料中的杂质并且相互区分，则将所有或只将不希望的杂质挑出，被发射的射线(35，36)主要有两个限定的和不同的波长范围(λ1和λ2)而被反射的两个波长范围的射线同时和一起被检测。优选地第一限定的波长范围可以如此选择，使在基本材料上反射的射线对于至少两个不同的杂质在电信号上得到可以是任意的第一组数值。而对于另一限定的波长范围的射线应该这样选择，使对于两种杂质反射的射线在电信号上有与第一波长范围对应的电信号不同的比例。该装置具有在至少两个波长范围的射线(35，36)的一个发射源(19)和用于测量在基本材料上总反射射线的一个接收器(20)。

公开(公告)号：CN1307417C

公开(公告)日：2007-03-28

申请号：CN02813945.3

申请日：2002-07-04

Applicant: 乌斯特技术股份公司

Inventor： P·皮拉尼 ,  H·瓦普弗勒

IPC: G01N21/89 ,  D06H3/08 ,  G01N33/36 ,  G01N21/892

CPC classification number: G01N21/94 ,  D06H3/08 ,  G01N21/8915 ,  G01N21/8983 ,  G01N33/365

Abstract: 本发明涉及用于识别一种纺织基本材料(1、3、5)的杂质的方法和装置，其中将纺织基本材料用射线(35，36)照射和得到基本材料上反射的射线(44)并且将其转换为一个电信号。为了有目的地了解在材料中的杂质并且相互区分，则将所有或只将不希望的杂质挑出，被发射的射线(35，36)主要有两个限定的和不同的波长范围(λ1和λ2)而被反射的两个波长范围的射线同时和一起被检测。优选地第一限定的波长范围可以如此选择，使在基本材料上反射的射线对于至少两个不同的杂质在电信号上得到可以是任意的第一组数值。而对于另一限定的波长范围的射线应该这样选择，使对于两种杂质反射的射线在电信号上有与第一波长范围对应的电信号不同的比例。该装置具有在至少两个波长范围的射线(35，36)的一个发射源(19)和用于测量在基本材料上总反射射线的一个接收器(20)。