晶片的缺陷测量装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106574900B

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201580041304.5

    申请日:2015-07-28

    发明人: 姜憄勋 韩基润

    IPC分类号: G01N21/95 H01L21/66

    摘要: 本发明涉及一种用于测量晶片缺陷的装置,该装置能够同时测量晶片的上表面、下表面和侧表面上的缺陷,而同时防止损坏晶片。本发明提供一种用于测量晶片缺陷的装置,该装置包括:下鼓风机,通过将空气喷射到晶片的下表面来缓冲晶片;上鼓风机,设置为能够相对于下鼓风机上下移动,并且通过将空气喷射到晶片的上表面来使晶片固定;上污染测量件,设置在上鼓风机的上侧,并且检测晶片的上表面上的污染;下污染测量件,设置在下鼓风机的下侧,并且检测晶片的下表面上的污染;以及侧污染测量件,设置在上鼓风机与下鼓风机之间,并且检测晶片的侧表面上的污染。

    一种基于底板拟合的自动脏污检测方法

    公开(公告)号:CN109060831A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201810903743.8

    申请日:2018-08-09

    发明人: 郭江波 郭江鸿

    IPC分类号: G01N21/94

    摘要: 本发明公开一种基于底板拟合的自动脏污检测方法,实时检测电子摄像设备的接入,并进行驱动加载;确定脏污检测阈值;获取原始白板图像;对所述原始白板图像进行降噪处理,构成新的脏污检测图像,对脏污检测图像进行底板拟合,获得脏污检测图像的拟合底板图像;求取脏污检测图像与拟合底板图像的灰度差,并与产线脏污特征阈值进行比对,根据比对结果判定脏污点;将邻居脏污点合并为脏污区域,并在原始白板图像上显色标注,相比基于人眼观察,可有效降低眼部疲劳,降低不良品误判率。

    显示屏的杂质的检测方法和装置

    公开(公告)号:CN109060830A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201810645792.6

    申请日:2018-06-21

    IPC分类号: G01N21/94 G02F1/13

    CPC分类号: G01N21/94 G02F1/1309

    摘要: 本申请公开了一种显示屏的杂质的检测方法和装置。该方法包括:获取目标显示屏的最小外接矩形,得到第一目标图像;获取第一目标图像的噪声信息,其中,噪声信息至少包括噪声的尺寸以及噪声在第一目标图像中的位置,噪声信息的类型至少包括杂质信息和背景信息,杂质信息至少包括灰尘信息,背景信息为最小外接矩形中目标显示屏以外的区域;在第一目标图像的噪声信息中去除第一图像的四个角所在区域中的噪声信息,得到第一目标信息;基于第一目标信息确定目标显示屏的杂质信息。通过本申请,解决了相关技术中采用最大内接矩形法检测圆角显示屏上的杂质,容易产生漏检风险的问题。

    一种检测内窥镜的设备及一种内窥镜系统

    公开(公告)号:CN108693191A

    公开(公告)日:2018-10-23

    申请号:CN201810596291.3

    申请日:2018-06-11

    发明人: 金烨

    IPC分类号: G01N21/88 G01N21/94

    CPC分类号: G01N21/8851 G01N21/94

    摘要: 本发明提供一种检测内窥镜的设备及一种内窥镜系统,包括:插入圆管、操作装置和显示装置;插入圆管的直径范围为1mm~3mm,内部设置有照明器和图像传感器;照明器布设在图像传感器的周围;图像传感器采集内窥镜的管道内部的图像信息给第一处理器;操作装置包括:操作把手和第一处理器;操作把手与插入圆管固定连接;第一处理器将内窥镜的管道内部的图像信息通过无线通讯方式发送给第二处理器;显示装置包括:第二处理器和显示屏;第二处理器通过无线通讯方式接收内窥镜的管道内部的图像信息,并通过显示屏实时显示。使用该检测内窥镜的设备,可以直接观察内窥镜的管道内部,极大程度提升内窥镜的清洗效率和使用安全性,降低内窥镜使用的感染率。

    基于发射光谱的焊接电弧污染物在线定温检测方法

    公开(公告)号:CN108572177A

    公开(公告)日:2018-09-25

    申请号:CN201810363188.4

    申请日:2018-05-21

    申请人: 中北大学

    IPC分类号: G01N21/94

    CPC分类号: G01N21/94

    摘要: 本发明公开了一种基于发射光谱的焊接电弧污染物在线定温检测方法,是在线采集焊接电弧光谱,根据不同波长特征谱线的谱线强度及对应的光谱参数,利用玻尔兹曼方程计算出光谱的瞬时温度,由此筛选出指定温度下指定特征谱线的谱线强度,由此半定量计算出待测污染元素的浓度。本发明方法用于对不同焊接材料在相同温度下产生的焊接电弧中同一污染元素的浓度进行比对。