直接测量晶向偏离角的晶体定向仪及测量方法

    公开(公告)号:CN103257150A

    公开(公告)日:2013-08-21

    申请号:CN201210317112.0

    申请日:2012-08-31

    Abstract: 一种直接测量晶向偏离角的晶体定向仪,其特征在于在载物台一侧连接一个X射线发生器,另一侧连接一个X射线探测器,在载物台上有一个水平旋转台,水平旋转台可使待测晶体平行于光线传播面旋转,在水平旋转台的中心固定有一个垂直旋转台,垂直旋转台可以使待测晶体在垂直于光线传播面的平面内旋转,利用该晶体定向仪,能直接找到加工面和晶面的相交线,无需通过数据计算就能通过载物台的角度测量仪直接读取晶向偏离角β。本发明克服了现有X射线晶体定向仪操作方法复杂,测量过程需多次旋转、拆卸及固定被测晶体,测量效率低,容易引起累计误差和X射线泄露的缺陷。

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