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公开(公告)号:CN118095155B
公开(公告)日:2024-08-23
申请号:CN202410523983.0
申请日:2024-04-29
申请人: 井芯微电子技术(天津)有限公司
IPC分类号: G06F30/33
摘要: 本发明属于功能仿真测试技术领域,尤其涉及基于通用验证方法学的反压过冲的功能仿真方法及系统,通过相应的反压过冲验证方法,验证电路模型的反压过冲功能是否符合预期功能,本发明解决现有技术存在由于采用硬件实现反压的功能,从而导致需要付出较高成本且比较复杂的工艺的问题,具有通过UVM仿真可以实现,反压过冲的仿真调试,实现反压过冲的功能验证,可以提前知道功能是否符合预期的技术效果。
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公开(公告)号:CN117749640B
公开(公告)日:2024-04-26
申请号:CN202410185948.2
申请日:2024-02-20
申请人: 井芯微电子技术(天津)有限公司
IPC分类号: H04L41/14 , G06F30/398 , H04L43/50
摘要: 本发明提供了一种以太网交换芯片UVM及FPGA原型验证方法及上位机,在UVM验证模式下,上位机生成配置文件和报文文件,UVM验证平台读取对应文件实现参数配置和报文发送。在FPGA原型验证模式下,可以通过串口和以太网口实现与FPGA原型验证平台的通信,串口用于配置信息下发,以太网口用于测试报文下发和RTL输出报文上传,上位机将接收到的报文与内部生成的参考报文进行比对。本方案可以为UVM验证与FPGA原型验证提供统一的用户接口,提高参数配置和测试报文配置操作的便利性;采用相同的配置文件和报文文件,能够实现两种验证方法的相互对照;基于验证报文的自动比对,能有效提高FPGA原型验证的效率。
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公开(公告)号:CN118095155A
公开(公告)日:2024-05-28
申请号:CN202410523983.0
申请日:2024-04-29
申请人: 井芯微电子技术(天津)有限公司
IPC分类号: G06F30/33
摘要: 本发明属于功能仿真测试技术领域,尤其涉及基于通用验证方法学的反压过冲的功能仿真方法及系统,通过相应的反压过冲验证方法,验证电路模型的反压过冲功能是否符合预期功能,本发明解决现有技术存在由于采用硬件实现反压的功能,从而导致需要付出较高成本且比较复杂的工艺的问题,具有通过UVM仿真可以实现,反压过冲的仿真调试,实现反压过冲的功能验证,可以提前知道功能是否符合预期的技术效果。
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公开(公告)号:CN117749640A
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN202410185948.2
申请日:2024-02-20
申请人: 井芯微电子技术(天津)有限公司
IPC分类号: H04L41/14 , G06F30/398 , H04L43/50
摘要: 本发明提供了一种以太网交换芯片UVM及FPGA原型验证方法及上位机,在UVM验证模式下,上位机生成配置文件和报文文件,UVM验证平台读取对应文件实现参数配置和报文发送。在FPGA原型验证模式下,可以通过串口和以太网口实现与FPGA原型验证平台的通信,串口用于配置信息下发,以太网口用于测试报文下发和RTL输出报文上传,上位机将接收到的报文与内部生成的参考报文进行比对。本方案可以为UVM验证与FPGA原型验证提供统一的用户接口,提高参数配置和测试报文配置操作的便利性;采用相同的配置文件和报文文件,能够实现两种验证方法的相互对照;基于验证报文的自动比对,能有效提高FPGA原型验证的效率。
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