公开(公告)号：CN112558079B

公开(公告)日：2024-11-08

申请号：CN202010944630.X

申请日：2020-09-10

申请人： 亚德诺半导体国际无限责任公司

发明人： R·A·卡普斯塔 ,  B·D·汉密尔顿

IPC分类号： G01S17/02 ,  G01S17/08 ,  G01S7/4863

公开(公告)号：CN112558079A

公开(公告)日：2021-03-26

申请号：CN202010944630.X

申请日：2020-09-10

申请人： 亚德诺半导体国际无限责任公司

发明人： R·A·卡普斯塔 ,  B·D·汉密尔顿

IPC分类号： G01S17/02 ,  G01S17/08 ,  G01S7/4863

摘要： 本公开涉及用于光学检测的数据简化。在光学检测系统中，在与下游对象或者目标处理电路进行电路间通信之前，可以从ADC电路数据中识别目标特征。以这种方式，与其它方法相比，可以减少传输到此类下游处理电路的数据量，从而简化接收信号处理链并且节省功率。用于识别所述目标特征的第一层信号处理电路可以位于与ADC电路共用的集成电路封装上或者封装内，并且用于对象处理或者范围估计的下游处理电路可以由数据链路馈送，所述数据链路比所述ADC电路和所述第一层信号处理电路之间的链路满足更少的严格要求。