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公开(公告)号:CN103413512B
公开(公告)日:2015-10-21
申请号:CN201310314638.8
申请日:2013-07-24
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方视讯科技有限公司
Inventor: 赵家庆
Abstract: 本发明提供一种显示器同步信号检测方法及检测装置、显示器,属于显示器制造技术领域,其可解决现有的检测方法步骤繁琐,速度慢的问题。本发明的显示器同步信号检测方法,包括取得显示器的真实的垂直同步信号频率,并与预存的标准同步信号表中的标准垂直同步信号频率比较,从中选取与真实的垂直同步信号频率的差在第一误差范围内的标准垂直同步信号频率作为候选的垂直同步信号频率;取得显示器的真实的水平同步信号频率,与上述步骤中取得的候选的垂直同步信号频率所对应的标准水平同步信号子表中的标准水平同步信号频率进行比较,得到两者的差在第二误差范围内的标准水平同步信号频率,作为正确的水平同步信号频率,从而得到显示器的分辨率。
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公开(公告)号:CN103413512A
公开(公告)日:2013-11-27
申请号:CN201310314638.8
申请日:2013-07-24
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 北京京东方视讯科技有限公司
Inventor: 赵家庆
Abstract: 本发明提供一种显示器同步信号检测方法及检测装置、显示器,属于显示器制造技术领域,其可解决现有的检测方法步骤繁琐,速度慢的问题。本发明的显示器同步信号检测方法,包括取得显示器的真实的垂直同步信号频率,并与预存的标准同步信号表中的标准垂直同步信号频率比较,从中选取与真实的垂直同步信号频率的差在第一误差范围内的标准垂直同步信号频率作为候选的垂直同步信号频率;取得显示器的真实的水平同步信号频率,与上述步骤中取得的候选的垂直同步信号频率所对应的标准水平同步信号子表中的标准水平同步信号频率进行比较,得到两者的差在第二误差范围内的标准水平同步信号频率,作为正确的水平同步信号频率,从而得到显示器的分辨率。
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公开(公告)号:CN105098076B
公开(公告)日:2018-03-09
申请号:CN201510335120.1
申请日:2015-06-16
Applicant: 京东方科技集团股份有限公司 , 上海交通大学
CPC classification number: H01L51/107 , H01L51/0055 , H01L51/0541 , H01L51/0558 , H01L51/105 , H01L2251/303
Abstract: 本发明提供了一种薄膜晶体管及其制作方法、阵列基板、显示装置,该薄膜晶体管包括:有机半导体层和源漏电极层,还包括金属氧化物绝缘层,所述金属氧化物绝缘层设置在所述有机半导体层和所述源漏电极层之间,功函高于所述源漏电极层的功函。本发明提供的薄膜晶体管中,功函较高的金属氧化物绝缘层能够产生界面偶极势垒以降低源漏电极中的载流子进入到有机半导体层中的难度,从而能够减小源漏电极层与半导体层之间的接触电阻,提高薄膜晶体管的电学性能。
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