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公开(公告)号：CN113078172B
公开(公告)日：2023-05-26
申请号：CN202110334781.8
申请日：2021-03-29
申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L21/77 , H01L23/60 , H10K59/12 , G02F1/1362 , G02F1/1368
摘要： 本发明提供一种显示基板及其制备方法和显示面板。该显示基板包括显示区和围设于显示区外围的周边区；显示基板还包括：基底，设置于基底上的栅线、静电环和第一晶体管；栅线由显示区延伸至周边区，静电环和第一晶体管位于周边区；第一晶体管包括栅极、栅绝缘层、有源层、第一极和第二极；第一极、第二极和有源层位于栅绝缘层的背离栅极的一侧；栅线、栅极和静电环采用相同材料且同层设置；栅线通过开设在栅绝缘层中的第一过孔连接第一极，静电环通过开设在栅绝缘层中的第二过孔连接第二极。该显示基板使栅线上累积的静电在达到一定量时能及时释放至静电环，避免栅线上累积的静电对显示区内晶体管的有源层造成击穿，确保显示基板的品质和良率。
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公开(公告)号：CN113066412A
公开(公告)日：2021-07-02
申请号：CN202110344715.9
申请日：2021-03-29
申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明提供一种阵列基板的电路控制方法、检测方法、制备方法，属于显示技术领域，其可解决现有的OLED显示面板容易出现亮点带线亮点簇类型的不良显示现象智能在面板检测阶段检测出，无法进行修复的问题。本发明的阵列基板的电路控制方法，用于阵列基板的检测阶段过程中，对阵列基板的电路进行控制；电路控制方法包括：向像素电路的控制端写入关断信号，以使像素电路关断；初始化阶段：向至少部分信号线写入第一充电信号；向感测单元的控制端写入第一控制信号，向感测单元的第二端写入第一感测信号，以使感测单元关断；检测阶段：向感测单元的控制端写入第二控制信号，以使感测单元开启，并将第二感测信号写入像素电压输出端。
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公开(公告)号：CN110706629A
公开(公告)日：2020-01-17
申请号：CN201910931871.8
申请日：2019-09-27
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC分类号： G09G3/00 , G09G3/3225 , H01L27/32
摘要： 本发明提供一种显示基板的检测方法和检测装置，该检测方法包括：在第一写入阶段，向各数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向数据线提供的有效电压的绝对值；在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压。本发明的技术方案，可以在Array阶段检测出第一栅线中是否存在断点不良。
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公开(公告)号：CN113066412B
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202110344715.9
申请日：2021-03-29
申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明提供一种阵列基板的电路控制方法、检测方法、制备方法，属于显示技术领域，其可解决现有的OLED显示面板容易出现亮点带线亮点簇类型的不良显示现象智能在面板检测阶段检测出，无法进行修复的问题。本发明的阵列基板的电路控制方法，用于阵列基板的检测阶段过程中，对阵列基板的电路进行控制；电路控制方法包括：向像素电路的控制端写入关断信号，以使像素电路关断；初始化阶段：向至少部分信号线写入第一充电信号；向感测单元的控制端写入第一控制信号，向感测单元的第二端写入第一感测信号，以使感测单元关断；检测阶段：向感测单元的控制端写入第二控制信号，以使感测单元开启，并将第二感测信号写入像素电压输出端。
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公开(公告)号：CN113409714A
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202110676622.6
申请日：2021-06-16
申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
摘要： 本公开提供了一种显示面板及显示装置，属于显示技术领域。该显示面板包括多条检测线，与该多条检测线一一对应耦接的多条检测线引线，与该多条检测线引线耦接的检测信号传输线，以及分别耦接至该检测信号传输线的一端和中间位置处的至少两个第一检测探针。如此，相对于仅设置一个检测探针耦接检测信号传输线而言，可以使得探测信号经较短的信号线传输至检测探针，进而传输至检测探针的探测信号受电压降影响出现的偏差较低。相应的，检测设备可以从检测探针处可靠采集到探测信号，并基于探测信号对显示面板进行精确检测。
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公开(公告)号：CN107102181A
公开(公告)日：2017-08-29
申请号：CN201710549804.0
申请日：2017-07-07
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC分类号： G01R1/073
摘要： 一种测试探针、测试装置及测试方法。该测试探针包括针架以及至少部分伸入所述针架内部且可与所述针架相对移动的动针。所述动针配置为在相对所述针架移动的第一行程内与所述针架电连接以输出测试信号，在相对所述针架移动的第二行程内与所述针架断开电连接。该测试探针可以有效避免基板的扎伤风险。
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公开(公告)号：CN110706629B
公开(公告)日：2023-08-29
申请号：CN201910931871.8
申请日：2019-09-27
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
IPC分类号： G09G3/00 , G09G3/3225 , H10K59/131
摘要： 本发明提供一种显示基板的检测方法和检测装置，该检测方法包括：在第一写入阶段，向各数据线提供有效电压，向电源端提供有效电压，向待检测第一栅线的两端提供有效电压，其中，向数据线提供的有效电压的绝对值小于向电源端提供的有效电压的绝对值，向待检测第一栅线的两端提供的有效电压的绝对值小于向数据线提供的有效电压的绝对值；在第一检测阶段，维持向电源端提供的有效电压不变、向待检测第一栅线的两端提供的无效电压，检测待检测第一栅线所对应的存储电容第二极上的电压。本发明的技术方案，可以在Array阶段检测出第一栅线中是否存在断点不良。
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公开(公告)号：CN113409714B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202110676622.6
申请日：2021-06-16
申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本公开提供了一种显示面板及显示装置，属于显示技术领域。该显示面板包括多条检测线，与该多条检测线一一对应耦接的多条检测线引线，与该多条检测线引线耦接的检测信号传输线，以及分别耦接至该检测信号传输线的一端和中间位置处的至少两个第一检测探针。如此，相对于仅设置一个检测探针耦接检测信号传输线而言，可以使得探测信号经较短的信号线传输至检测探针，进而传输至检测探针的探测信号受电压降影响出现的偏差较低。相应的，检测设备可以从检测探针处可靠采集到探测信号，并基于探测信号对显示面板进行精确检测。
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公开(公告)号：CN113078172A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110334781.8
申请日：2021-03-29
申请人： 合肥鑫晟光电科技有限公司 , 京东方科技集团股份有限公司
IPC分类号： H01L27/12 , H01L21/77 , H01L23/60 , H01L27/32 , G02F1/1362 , G02F1/1368
摘要： 本发明提供一种显示基板及其制备方法和显示面板。该显示基板包括显示区和围设于显示区外围的周边区；显示基板还包括：基底，设置于基底上的栅线、静电环和第一晶体管；栅线由显示区延伸至周边区，静电环和第一晶体管位于周边区；第一晶体管包括栅极、栅绝缘层、有源层、第一极和第二极；第一极、第二极和有源层位于栅绝缘层的背离栅极的一侧；栅线、栅极和静电环采用相同材料且同层设置；栅线通过开设在栅绝缘层中的第一过孔连接第一极，静电环通过开设在栅绝缘层中的第二过孔连接第二极。该显示基板使栅线上累积的静电在达到一定量时能及时释放至静电环，避免栅线上累积的静电对显示区内晶体管的有源层造成击穿，确保显示基板的品质和良率。
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公开(公告)号：CN110264929B
公开(公告)日：2023-09-19
申请号：CN201910562385.3
申请日：2019-06-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 合肥鑫晟光电科技有限公司
发明人： 李广耀 , 王东方 , 汪军 , 王海涛 , 王庆贺 , 钱国平 , 季雨 , 黄先纯 , 张涛 , 周玉喜 , 甘由鹏 , 周超 , 胡洋 , 沈忱 , 汪焰兵 , 彭允 , 陈云 , 梁泉
IPC分类号： G09G3/00 , H10K59/123 , H10K59/126 , H10K59/131
摘要： 本发明公开了一种显示面板、显示装置和检测方法，以改善现有技术随着显示面板分辨率的提高，栅极驱动电路所在区可用于对显示区进行不良检测的空间较少，进而无法对显示区的不良进行检测的问题。所述显示面板，包括：多条沿同一方向延伸的扫描线，与每一所述扫描线分别通过一对应控制单元电连接的防静电线，所述防静电线的一端与测试垫电连接，所述测试垫位于所述非显示区的所述栅极驱动电路所在区域以外的其它区域；在对所述显示区进行不良检测时，所述控制单元被配置为将所述防静电线与各所述扫描线导通，所述防静电线被配置为将所述检测设备通过所述测试垫施加的电信号通过所述控制单元传输给各所述扫描线。
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