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    一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置
    3.
    发明授权
    一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置 失效

    公开(公告)号：CN104730217B

    公开(公告)日：2016-09-07

    申请号：CN201510180884.8

    申请日：2015-04-16

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

    发明人： 孙加冕 ,  袁亮 ,  陈燕楠 ,  南春香

    IPC分类号： G01N33/00

    摘要： 本发明公开了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示产品生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺生产中存在的问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。

    一种有机电致发光显示面板的检测方法及装置
    4.
    发明授权
    一种有机电致发光显示面板的检测方法及装置 有权

    公开(公告)号：CN104575346B

    公开(公告)日：2017-03-22

    申请号：CN201510044273.0

    申请日：2015-01-28

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

    发明人： 曲毅 ,  刘杰 ,  王军 ,  孙加冕

    IPC分类号： G09G3/00

    摘要： 本发明公开了一种有机电致发光显示面板的检测方法及装置，该检测方法包括：由信号发生器对有机电致发光显示面板加载不同数据电压信号，检测有机电致发光显示面板在不同数据电压信号下对应的电流值，并将检测出的电流值和数据电压信号对应的电压值发送给信号处理器；色彩分析仪采集有机电致发光显示面板在不同数据电压信号下的显示画面，并将采集的显示画面的亮度值发送给信号处理器；信号处理器根据接收的电流值、电压值和亮度值确定电流电压亮度曲线，并根据确定出的电流电压亮度曲线判断有机电致发光显示面板的显示亮度是否正常；上述方法并非局限于实验室测试环境，也可以适用于对量产环境下的有机电致发光显示面板进行检测。

    点灯治具
    6.
    发明公开
    点灯治具 无效

    公开(公告)号：CN104764959A

    公开(公告)日：2015-07-08

    申请号：CN201510178187.9

    申请日：2015-04-15

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

    发明人： 刘杰 ,  岳俊昕 ,  曲毅 ,  王军 ,  孙加冕

    IPC分类号： G01R31/00

    CPC分类号： G09G3/006 ,  G02F1/00 ,  G09G1/00 ,  H01L2221/00

    摘要： 本发明提供一种点灯治具，属于显示设备检测技术领域，其可解决现有的点灯治具在检测过程中容易造成检测探针破损的问题。本发明的点灯治具，其包括：工作承载台、升降单元，以及点灯测试单元；所述工作承载台，用于承载待进行点灯检测的显示面板；所述升降单元与所述点灯测试单元连接，用于驱动所述点灯测试单元的升降；所述点灯测试单元上具有多个探针，用于在升降单元驱动下，使得所述探针与所述显示面板上的电路测试点接触，以对显示面板进行点灯检测。本发明的点灯治具智能、灵活、适用性强。

    阵列基板的修复方法、修复装置和制备方法
    7.
    发明授权
    阵列基板的修复方法、修复装置和制备方法 失效

    公开(公告)号：CN105161517B

    公开(公告)日：2018-10-12

    申请号：CN201510502188.4

    申请日：2015-08-14

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

    发明人： 曲毅 ,  王军 ,  刘杰 ,  孙加冕

    IPC分类号： H01L27/32 ,  H01L21/77

    摘要： 本发明公开了一种阵列基板的修复方法、修复装置和制备方法，该修改方法包括：切断异常像素单元内像素驱动电路与第一电极之间的连接；根据备选像素单元和异常像素单元的位置在像素界定层上形成第一过孔和第二过孔；在像素界定层上形成导电连接部，导电连接部通过第一过孔与异常像素单元内的第一电极连接，且通过第二过孔与备选像素单元内的第一电极连接。本发明的技术方案通过将备选像素单元中的像素驱动电路与异常像素单元中的OLED电连接，以实现利用备选像素单元中的像素驱动电路对异常像素单元中的OLED进行驱动，从而完成对异常像素单元的修复。

    一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置
    8.
    发明公开
    一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置 失效

    公开(公告)号：CN104730217A

    公开(公告)日：2015-06-24

    申请号：CN201510180884.8

    申请日：2015-04-16

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

    发明人： 孙加冕 ,  袁亮 ,  陈燕楠 ,  南春香

    IPC分类号： G01N33/00

    摘要： 本发明公开了一种玻璃基板的缺陷分布显示方法及显示装置，玻璃基板上包括多个显示面板，显示方法包括：根据检测获得的玻璃基板上的多个显示面板的缺陷表征信息，生成相应的缺陷分布结果；将生成的缺陷分布结果生成相应的缺陷聚集分布图并进行显示，这样针对玻璃基板上的多个显示面板的不良缺陷分布情况生成对应的不良缺陷聚集分布图，通过观测生成的不良缺陷聚集分布图，精确观测出显示产品的不良缺陷聚集分布情况，这样可以供不良分析人员参考查看，分析获得显示产品生产过程中出现的不良情况，及时解决工艺生产中存在的问题，进一步优化生产工艺，降低生产成本，降低量产风险。

    一种有机电致发光显示面板的检测方法及装置
    9.
    发明公开
    一种有机电致发光显示面板的检测方法及装置 有权

    公开(公告)号：CN104575346A

    公开(公告)日：2015-04-29

    申请号：CN201510044273.0

    申请日：2015-01-28

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

    发明人： 曲毅 ,  刘杰 ,  王军 ,  孙加冕

    IPC分类号： G09G3/00

    摘要： 本发明公开了一种有机电致发光显示面板的检测方法及装置，该检测方法包括：由信号发生器对有机电致发光显示面板加载不同数据电压信号，检测有机电致发光显示面板在不同数据电压信号下对应的电流值，并将检测出的电流值和数据电压信号对应的电压值发送给信号处理器；色彩分析仪采集有机电致发光显示面板在不同数据电压信号下的显示画面，并将采集的显示画面的亮度值发送给信号处理器；信号处理器根据接收的电流值、电压值和亮度值确定电流电压亮度曲线，并根据确定出的电流电压亮度曲线判断有机电致发光显示面板的显示亮度是否正常；上述方法并非局限于实验室测试环境，也可以适用于对量产环境下的有机电致发光显示面板进行检测。

    一种显示面板及其制备方法、显示装置
    10.
    发明公开
    一种显示面板及其制备方法、显示装置 审中-实审

    公开(公告)号：CN116437743A

    公开(公告)日：2023-07-14

    申请号：CN202310626735.4

    申请日：2023-05-30

    申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  成都京东方光电科技有限公司

    发明人： 秦朝学 ,  孙加冕 ,  金楻 ,  林伟 ,  罗辉 ,  邱裕恒 ,  杨泽荣 ,  梁治强 ,  刘影 ,  王力

    IPC分类号： H10K59/122 ,  H10K71/00

    摘要： 本申请实施例提供一种显示面板及其制备方法、显示装置，属于显示技术领域，包括：开孔区以及至少部分围绕所述开口区的显示区，所述显示区与所述开孔区之间设置有过渡区；所述显示面板在所述显示区包括衬底以及设置在所述衬底一侧的第一像素定义层，所述第一像素定义层包括黑色材料；所述显示面板在所述过渡区包括所述衬底以及设置在所述衬底一侧的隔离坝；所述隔离坝包括第二像素定义层，所述第二像素定义层与所述第一像素定义层同层设置，且所述第二像素定义层的边缘延伸至所述隔离坝与所述开孔区之间。通过本申请实施例提供的一种显示面板及其制备方法、显示装置，可以减少出现开孔区出现漏光的情况。