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公开(公告)号：CN108053782B
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN201711293784.1
申请日：2017-12-08
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明提供一种显示面板测试方法及信号发生器，通过在测试中分阶段加载测试电压，即先加载较小的测试电压，并在此过程中检测加载了该测试电压的显示面板的至少一对相邻的导电电极是否发生短路，若未发生短路，再加载较大的测试电压，可以避免短路烧毁信号发生器和待测试显示面板，不但能够为显示面板提供实时保护，提高产品良率和显示效果，而且还能提高信号发生器的可靠性和安全性，增加信号发生器的使用寿命。
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公开(公告)号：CN108120915B
公开(公告)日：2020-05-05
申请号：CN201711352725.7
申请日：2017-12-15
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种应用于显示面板的老化处理方法及老化处理系统，通过根据显示面板中需要进行老化处理的晶体管的初始特性曲线，确定晶体管的初始截止电压范围；根据初始截止电压范围，确定晶体管所需的栅源电压和漏源电压，以增大晶体管的截止电压范围；根据确定的各晶体管所需的栅源电压和漏源电压，对显示面板中需要进行老化处理的晶体管进行老化处理。该方法中由于对各显示面板施加的老化处理电压是根据该显示面板中的晶体管获得的，因此老化处理后的效果好，能够有效保证工艺良率及产品TFT特性的稳定性。
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公开(公告)号：CN105785607A
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：CN201610197453.7
申请日：2016-03-31
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 本发明的提供了一种显示基板、点灯设备及点灯测试探针对位检测方法，所述显示基板包括显示驱动信号线及至少一组测试焊盘，同一组测试焊盘中多个测试焊盘依次排列；每组测试焊盘包括：与所述显示驱动信号线连接的多个点灯测试焊盘；每组测试焊盘还包括：与所述显示驱动信号线不连接的两个探针错位测试焊盘，且两个探针错位测试焊盘之间电连接。所述点灯设备中每组探针的排列方式和与其对应的一组测试焊盘的排列方式相同。所述方法利用如上所述的点灯设备对如上所述的显示基板进行点灯测试探针对位检测。本发明能够不增加额外的检查时间，可靠性高，不需要人员接触显示基板操作，降低静电和产品破损风险。
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公开(公告)号：CN108230974B
公开(公告)日：2021-02-02
申请号：CN201810075877.5
申请日：2018-01-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明公开一种发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法，涉及显示技术领域，以提高发光器件的非本质老化不良检出率。该发光器件缺陷检测电路包括电源信号调节单元、数据信号调节单元、第一初始信号调节单元，第二初始信号调节单元以及与驱动晶体管的控制端连接的存储电容；存储电容在电源信号、数据信号和初始信号的作用下控制驱动晶体管关断，使得第二初始信号调节单提供初始信号给发光单元，使得发光单元发光。所述显示驱动装置包括上述技术方案所提的发光器件缺陷检测电路。本发明提供的发光器件缺陷检测电路及方法、显示驱动装置、显示装置及其检测方法用于检测发光器件非本质老化。
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公开(公告)号：CN108169577B
公开(公告)日：2020-06-23
申请号：CN201810078389.X
申请日：2018-01-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
摘要： 本发明提供了一种电容检测方法，涉及显示技术领域。本发明通过向像素驱动电路的测量电压输入端依次输入一组电压值不同的测量电压，对于一组电压值不同的测量电压，检测每个测量电压下像素驱动电路中的发光器件的发光状态，根据发光器件的发光状态，确定像素驱动电路中的存储电容是否正常。在不改变像素驱动电路的工作时序的情况下，修改测量电压输入端输入的测量电压，通过测量电压的电压大小控制驱动晶体管的开关程度，进而控制发光器件是否发光，以发光器件是否发光的状态判断像素驱动电路中的存储电容是否正常，可快速检测电容膜层异常导致的电性不良，提高电容检测的效率。
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公开(公告)号：CN108562839A
公开(公告)日：2018-09-21
申请号：CN201810264950.3
申请日：2018-03-28
申请人： 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 , 京东方科技集团股份有限公司
摘要： 本发明公开一种测试电路及其测试方法、测试系统，涉及显示技术领域，为解决现有的测试电路不能够提供理想的测试信号，导致待测试产品容易出现异常的问题。所述测试电路包括：测试信号输入端，用于输入初始测试信号；信号输出端，用于输出目标测试信号；分别与所述测试信号输入端和所述信号输出端连接的信号整形模块，所述信号整形模块用于将所述初始测试信号中的噪声信号滤除，得到所述目标测试信号。本发明提供的测试电路用于为待测试产品提供测试信号。
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公开(公告)号：CN108169577A
公开(公告)日：2018-06-15
申请号：CN201810078389.X
申请日：2018-01-26
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
摘要： 本发明提供了一种电容检测方法，涉及显示技术领域。本发明通过向像素驱动电路的测量电压输入端依次输入一组电压值不同的测量电压，对于一组电压值不同的测量电压，检测每个测量电压下像素驱动电路中的发光器件的发光状态，根据发光器件的发光状态，确定像素驱动电路中的存储电容是否正常。在不改变像素驱动电路的工作时序的情况下，修改测量电压输入端输入的测量电压，通过测量电压的电压大小控制驱动晶体管的开关程度，进而控制发光器件是否发光，以发光器件是否发光的状态判断像素驱动电路中的存储电容是否正常，可快速检测电容膜层异常导致的电性不良，提高电容检测的效率。
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公开(公告)号：CN108120915A
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201711352725.7
申请日：2017-12-15
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
摘要： 本发明公开了一种应用于显示面板的老化处理方法及老化处理系统，通过根据显示面板中需要进行老化处理的晶体管的初始特性曲线，确定晶体管的初始截止电压范围；根据初始截止电压范围，确定晶体管所需的栅源电压和漏源电压，以增大晶体管的截止电压范围；根据确定的各晶体管所需的栅源电压和漏源电压，对显示面板中需要进行老化处理的晶体管进行老化处理。该方法中由于对各显示面板施加的老化处理电压是根据该显示面板中的晶体管获得的，因此老化处理后的效果好，能够有效保证工艺良率及产品TFT特性的稳定性。
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公开(公告)号：CN108053782A
公开(公告)日：2018-05-18
申请号：CN201711293784.1
申请日：2017-12-08
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号： G09G3/00
摘要： 本发明提供一种显示面板测试方法及信号发生器，通过在测试中分阶段加载测试电压，即先加载较小的测试电压，并在此过程中检测加载了该测试电压的显示面板的至少一对相邻的导电电极是否发生短路，若未发生短路，再加载较大的测试电压，可以避免短路烧毁信号发生器和待测试显示面板，不但能够为显示面板提供实时保护，提高产品良率和显示效果，而且还能提高信号发生器的可靠性和安全性，增加信号发生器的使用寿命。
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公开(公告)号：CN107808653A
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201711192115.5
申请日：2017-11-24
申请人： 京东方科技集团股份有限公司 , 鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司
IPC分类号： G09G3/36 , G09G3/3208
CPC分类号： G09G3/36 , G09G3/3208 , G09G2320/0233 , G09G2330/00
摘要： 本发明涉及显示面板制造领域，提出一种显示面板供电装置、制造方法、供电方法及显示装置。该显示面板供电装置包括：第一线路、第一电源端子以及第二电源端子。第一线路环绕所述显示面板并与所述显示面板的子像素电连接；第一电源端子设于显示面板的第一端，且与所述第一线路中位于所述显示面板第一端的第一走线段连接；第二电源端子与所述第一线路中位于所述显示面板第二端的第二走线段连接以补偿所述第一电源端子在第一线路上的压降，其中，所述显示面板第一端和第二端为所述显示面板的相对两端。本发明可以有效降低显示面板第一端到第二端亮度的衰减，提高显示面板亮度均一性。
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