公开(公告)号：CN107393481A

公开(公告)日：2017-11-24

申请号：CN201710730695.2

申请日：2017-08-23

申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

发明人： 高弘玮 ,  张国庆 ,  白晓鹏 ,  赵普查 ,  刘耀荣 ,  杨红霞 ,  王晓伟 ,  赵科 ,  宗岩 ,  王伟峰 ,  王星亮 ,  陈浩田 ,  邬杰

IPC分类号： G09G3/3258

摘要： 本发明提出一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法和系统，所述方法包括以下步骤：根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；获取预设老化电流值；根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值，从而，通过闭环恒流控制能够精确控制OLED的发光层电流，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L-Aging工艺，避免L-Aging过程中由于电流过高或过低导致的L-Aging不充分或灼伤类的不良，提升L-Aging工艺的稳定性，更好控制L-Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

公开(公告)号：CN108053782B

公开(公告)日：2021-09-10

申请号：CN201711293784.1

申请日：2017-12-08

申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

发明人： 王伟峰 ,  张国庆 ,  杨红霞 ,  付裕 ,  王星亮 ,  郭志鑫 ,  党延斌 ,  王晓伟 ,  邬杰 ,  田飞文 ,  赵普查 ,  王琛巍 ,  季学鹏

IPC分类号： G09G3/00

摘要： 本发明提供一种显示面板测试方法及信号发生器，通过在测试中分阶段加载测试电压，即先加载较小的测试电压，并在此过程中检测加载了该测试电压的显示面板的至少一对相邻的导电电极是否发生短路，若未发生短路，再加载较大的测试电压，可以避免短路烧毁信号发生器和待测试显示面板，不但能够为显示面板提供实时保护，提高产品良率和显示效果，而且还能提高信号发生器的可靠性和安全性，增加信号发生器的使用寿命。

公开(公告)号：CN107393481B

公开(公告)日：2019-12-06

申请号：CN201710730695.2

申请日：2017-08-23

申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

发明人： 高弘玮 ,  张国庆 ,  白晓鹏 ,  赵普查 ,  刘耀荣 ,  杨红霞 ,  王晓伟 ,  赵科 ,  宗岩 ,  王伟峰 ,  王星亮 ,  陈浩田 ,  邬杰

IPC分类号： G09G3/3258

摘要： 本发明提出一种有机发光二极管OLED的寿命老化方法和系统，所述方法包括以下步骤：根据写入电压驱动所述OLED以控制所述OLED的发光层电流；检测所述OLED的发光层电流以生成电流检测值；获取预设老化电流值；根据所述预设老化电流值与所述电流检测值之间的差值对所述写入电压进行调节，并根据调节后的写入电压驱动所述OLED，以使所述OLED的发光层电流维持在所述预设老化电流值，从而，通过闭环恒流控制能够精确控制OLED的发光层电流，使得发光层电流在与预设老化电流值基本无误差的情况下进行L‑Aging工艺，避免L‑Aging过程中由于电流过高或过低导致的L‑Aging不充分或灼伤类的不良，提升L‑Aging工艺的稳定性，更好控制L‑Aging过程中Aging量，提升工艺良率。

公开(公告)号：CN108053782A

公开(公告)日：2018-05-18

申请号：CN201711293784.1

申请日：2017-12-08

申请人： 京东方科技集团股份有限公司 ,  鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司

发明人： 王伟峰 ,  张国庆 ,  杨红霞 ,  付裕 ,  王星亮 ,  郭志鑫 ,  党延斌 ,  王晓伟 ,  邬杰 ,  田飞文 ,  赵普查 ,  王琛巍 ,  季学鹏

IPC分类号： G09G3/00

摘要： 本发明提供一种显示面板测试方法及信号发生器，通过在测试中分阶段加载测试电压，即先加载较小的测试电压，并在此过程中检测加载了该测试电压的显示面板的至少一对相邻的导电电极是否发生短路，若未发生短路，再加载较大的测试电压，可以避免短路烧毁信号发生器和待测试显示面板，不但能够为显示面板提供实时保护，提高产品良率和显示效果，而且还能提高信号发生器的可靠性和安全性，增加信号发生器的使用寿命。