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公开(公告)号：CN109425616B
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN201811024997.9
申请日：2018-09-03
Applicant: 住友化学株式会社
Abstract: 本发明提供能够减小膜的缺陷与标记之间的间隔且能够抑制膜的缺陷信息的记录遗漏产生的缺陷记录系统、膜制造系统以及膜的制造方法。缺陷记录系统具备：检查部，其设置在膜的输送路径上，对膜的缺陷进行检查；印刷部，其在输送路径中设置于检查部的下游，在膜上印刷并记录信息；以及控制部，其基于检查部的检查结果，对印刷部的动作进行控制，印刷部具有：喷墨装置，其沿着与长边方向交叉的方向延伸设置且印刷信息；以及移动装置，其使喷墨装置沿着交叉的方向移动，喷墨装置具有多个射出孔，多个射出孔从交叉的方向上的膜的一端到另一端离散地配置，控制部基于检查结果，控制由移动装置进行的喷墨装置的位置移动和由喷墨装置进行的印刷。
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公开(公告)号：CN109616602B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201811213198.6
申请日：2015-09-18
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: H01M50/403 , H01M50/417 , H01M50/491 , H01M10/0525 , B26D1/03 , B26D7/14 , B26D7/26
Abstract: 本发明提供膜制造方法及膜制造装置，膜制造方法包括：卷料缺陷信息取得工序，取得表示膜卷料的缺陷的位置的信息即卷料缺陷位置信息；分切工序，将所述膜卷料在沿着长度方向的分切线处分切而得到多个膜；以及缺陷标记施加工序，在所述缺陷的周围的多个部位施加表示该缺陷的位置的标记，在所述缺陷标记施加工序中，在隔着一个所述分切线而邻接的两个膜中的一个膜上存在的所述缺陷的周围施加至少一个所述标记，在所述两个膜中的另一个膜上的与所述标记的位置对应的位置施加至少一个所述标记。
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公开(公告)号：CN106796182B
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201580054771.1
申请日：2015-09-18
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892
CPC classification number: H01M2/145 , B26D1/035 , B26D7/14 , B26D7/2614 , B65H16/10 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2557/62 , G01N21/892 , G01N21/894 , G03B1/04 , G03B1/42 , G03B1/56 , G03B17/00 , G03B17/30 , G03B17/425 , G03B21/00 , G03B21/328 , G03B2217/243 , H01M2/1653 , H01M2/166 , H01M2/1686 , H01M10/0525
Abstract: 隔膜的制造方法包含：卷绕工序，将检测出缺陷(D)的隔膜(12a、12b)卷绕于芯(81、53)；以及第一缺陷码施加工序，将包括缺陷(D)在隔膜(12a、12b)的长度方向上的位置信息的缺陷码(DC2)形成在卷绕于芯(81、53)的隔膜(12a、12b)的最外周部(86、86b)、或供隔膜(12a、12b)卷绕的芯(81、53)。
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公开(公告)号：CN108535274B
公开(公告)日：2022-09-09
申请号：CN201810170418.5
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892
CPC classification number: G01N21/892 , G01N2021/8924 , G01N2021/8925
Abstract: 本发明提供即使在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅有飞沫的情况下，也能够抑制飞沫附着于膜的缺陷位置以外的区域，从而提高产品的成品率的标注装置、缺陷检查系统以及膜制造方法。标注装置能够通过对光学膜射出液滴而标注信息，其中，标注装置具备：液滴射出装置，其具有形成有向光学膜射出液滴的射出孔的射出面；以及吸引装置，其设置在射出面与光学膜之间，且能够吸引在液滴从射出孔射出直至喷落于光学膜的过程中飞溅的飞沫。
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公开(公告)号：CN108693199A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810292650.6
申请日：2018-03-30
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N23/04 , H01M2/14 , H01M10/0525
CPC classification number: G01N23/16 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2301/4148 , B65H2553/412 , B65H2557/50 , B65H2701/12 , B65H2701/1842 , B65H2801/72 , G01N23/083 , G01N23/18 , G01N23/04 , H01M2/145 , H01M10/0525
Abstract: 本发明提供一种检查装置、检查方法及膜卷绕体的制造方法。缺陷检查装置(1)具备：射线源(2)，其对隔膜卷绕体(10)呈放射状射出电磁波(R)；TDI传感器(4)，其对透过隔膜卷绕体(10)的电磁波(R)进行检测；以及移动机构(3)，其一边将射线源(2)与隔膜卷绕体(10)的距离以及射线源(2)与TDI传感器(4)的距离保持为大致固定，一边使隔膜卷绕体(10)中的检查区域移动。
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公开(公告)号：CN106796183A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201580054773.0
申请日：2015-09-18
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892
CPC classification number: H01M2/145 , B26D1/035 , B26D7/14 , B26D7/2614 , B65H16/10 , B65H18/08 , B65H26/02 , B65H2557/62 , G01N21/892 , G01N21/894 , G03B1/04 , G03B1/42 , G03B1/56 , G03B17/00 , G03B17/30 , G03B17/425 , G03B21/00 , G03B21/328 , G03B2217/243 , H01M2/1653 , H01M2/166 , H01M2/1686 , H01M10/0525
Abstract: 膜制造方法包括：缺陷信息取得工序，取得包含隔膜卷料(12b)的缺陷(D)的位置信息的缺陷信息；分切工序，将隔膜卷料(12b)分切而得到多个隔膜(12a)；以及判定工序，根据一个与缺陷(D)相关的缺陷信息，将实际含有缺陷(D)的隔膜(12a)以及与该隔膜(12a)邻接的其他隔膜(12a)判定为不合格隔膜。
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公开(公告)号：CN108535273B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN201810169803.8
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社 , 东友精细化工有限公司
Abstract: 本发明涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。印刷装置(50)在搬运长条带状的膜(F105)的期间，在膜(F105)的沿着端缘部的记录区域(S)进行印刷，其中，印刷装置具备：印刷头(13a)，其对膜(F105)进行印刷；蛇行检测部(53)，其检测膜(F105)的蛇行；头操作部(51)，其对印刷头(13a)进行操作而使该印刷头沿与膜(F105)的搬运方向交叉的方向移动，与蛇行检测部(53)检测到的膜(F105)的蛇行相应地，头操作部(51)使印刷头(13a)移动至与记录区域(S)对置的位置。
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公开(公告)号：CN106796184B
公开(公告)日：2019-11-19
申请号：CN201580054791.9
申请日：2015-01-30
Applicant: 住友化学株式会社
IPC: G01N21/892 , G01N21/894
Abstract: 本发明的课题在于容易地确定隔膜的缺陷位置。隔膜卷料(12b)的制造方法包括：形成工序，形成在隔膜卷料(12c)上涂覆有耐热层的隔膜卷料(12b)；缺陷检测工序，对通过所述形成工序形成的隔膜卷料(12b)中存在的缺陷(D)进行检测；以及缺陷信息记录工序，记录包括缺陷(D)在所述隔膜卷料(12b)的宽度方向上的位置信息的缺陷信息。
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