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公开(公告)号：CN108535273B
公开(公告)日：2022-03-25
申请号：CN201810169803.8
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社 , 东友精细化工有限公司
Abstract: 本发明涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。印刷装置(50)在搬运长条带状的膜(F105)的期间，在膜(F105)的沿着端缘部的记录区域(S)进行印刷，其中，印刷装置具备：印刷头(13a)，其对膜(F105)进行印刷；蛇行检测部(53)，其检测膜(F105)的蛇行；头操作部(51)，其对印刷头(13a)进行操作而使该印刷头沿与膜(F105)的搬运方向交叉的方向移动，与蛇行检测部(53)检测到的膜(F105)的蛇行相应地，头操作部(51)使印刷头(13a)移动至与记录区域(S)对置的位置。
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公开(公告)号：CN108535273A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810169803.8
申请日：2018-02-28
Applicant: 住友化学株式会社 , 东友精细化工有限公司
CPC classification number: G01N21/8422 , B41J3/407 , B41J11/00 , G01N21/89
Abstract: 本发明涉及缺陷检查系统、膜制造装置、膜制造方法、印刷装置以及印刷方法。印刷装置(50)在搬运长条带状的膜(F105)的期间，在膜(F105)的沿着端缘部的记录区域(S)进行印刷，其中，印刷装置具备：印刷头(13a)，其对膜(F105)进行印刷；蛇行检测部(53)，其检测膜(F105)的蛇行；头操作部(51)，其对印刷头(13a)进行操作而使该印刷头沿与膜(F105)的搬运方向交叉的方向移动，与蛇行检测部(53)检测到的膜(F105)的蛇行相应地，头操作部(51)使印刷头(13a)移动至与记录区域(S)对置的位置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105548193A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201510690667.3
申请日：2015-10-22
Applicant: 东友精细化工有限公司
IPC: G01N21/88
CPC classification number: G01N21/88 , G01N21/8806 , G01N2021/8809
Abstract: 本发明公开缺陷检测系统和方法。根据本发明的一个实施例的缺陷检测系统，作为用于检测光透射率比光反射率低的检查对象体上的缺陷的系统，包含：对上述检查对象体照射光的光源；在上述光源与上述检查对象体之间配置的光屏蔽掩模；和接收从上述检查对象体反射的光而捕捉上述检查对象体的图像的摄像设备。
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公开(公告)号：CN102901734A
公开(公告)日：2013-01-30
申请号：CN201210260972.5
申请日：2012-07-25
Applicant: 东友精细化工有限公司
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种薄膜成品率预测系统以及方法，其用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测以算出产品的预期成品率。本发明涉及的成品率预测系统包含：第一检查部，其在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；第二检查部，其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；数据合并部，其合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及成品率预测部，其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。
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公开(公告)号：CN105486687B
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201510644460.2
申请日：2015-10-08
Applicant: 东友精细化工有限公司
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开触摸面板检查装置和方法。根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置，包括：图像获得部，其中，获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glass sheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像；区域设定部，其中，接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell‑to‑cell)比较区域的输入；和缺陷检测部，其中，在上述图像中进行用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素的第1图像检查和用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域的第2图像检查中的至少一个，检测上述玻璃片上的缺陷。
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公开(公告)号：CN102901734B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201210260972.5
申请日：2012-07-25
Applicant: 东友精细化工有限公司
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明提供一种薄膜成品率预测系统以及方法，其用于对在制造光学薄膜时产生的缺陷进行检测以算出产品的预期成品率。本发明涉及的成品率预测系统包含：第一检查部，其在光学薄膜的制造工序中，对执行特定步骤中的光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第一缺陷数据；第二检查部，其对执行区别于所述特定步骤的所述制造工序的其它步骤中的所述光学薄膜上的缺陷进行检测，生成包含检测出的缺陷的位置的第二缺陷数据；数据合并部，其合并所述第一缺陷数据和所述第二缺陷数据；以及成品率预测部，其根据由所述数据合并部合并得到的缺陷数据，算出基于所述光学薄膜的预期切削位置和切削尺寸的所述光学薄膜的预期成品率。
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公开(公告)号：CN105486687A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201510644460.2
申请日：2015-10-08
Applicant: 东友精细化工有限公司
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开触摸面板检查装置和方法。根据本发明的一实施例的触摸面板检查装置，包括：图像获得部，其中，获得将包含多个单元区域的触摸面板用玻璃片(glass sheet)作为一个整体区域摄像、或者分割为划分的区域进行摄像的图像；区域设定部，其中，接收对于上述图像指定周期比较区域和单元对单元(cell-to-cell)比较区域的输入；和缺陷检测部，其中，在上述图像中进行用于用预先设定的周期单位比较上述周期比较区域内的像素的第1图像检查和用于在上述图像中在上述多个单元区域中的至少3个单元区域之间比较上述单元对单元比较区域的第2图像检查中的至少一个，检测上述玻璃片上的缺陷。
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