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公开(公告)号：CN114213029A
公开(公告)日：2022-03-22
申请号：CN202111600665.2
申请日：2021-12-24
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 凯盛科技股份有限公司 , 中建材蚌埠玻璃工业设计研究院有限公司
IPC分类号： C03C15/00
摘要： 本发明公开了一种柔性玻璃化学减薄自动化生产工艺，包括，S1、将工件在第一减薄室进行化学减薄；S2、将在第一减薄室减薄后的工件上下翻转180°；S3、将翻转后的工件在第二减薄室进行化学减薄；S4、将在第二减薄室减薄后的工件在第三减薄室进行化学减薄；所述工件包括待减薄玻璃。本发明所述工艺能够在提高生产效率、保证较高成品率的同时，使得到的柔性玻璃厚度均匀性较好，保证产品的质量。
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公开(公告)号：CN114446940A
公开(公告)日：2022-05-06
申请号：CN202111672354.7
申请日：2021-12-31
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 凯盛科技股份有限公司
IPC分类号： H01L25/075 , H01L33/00 , H01L33/62
摘要： 本发明涉及电子器件技术领域，具体涉及Mini LED制备方法，首先进行预处理，得到洁净的玻璃基片以备用；然后通过黄光制程刻蚀制作Mini LED线路板，以形成焊盘，在焊盘内设置锡膏作为焊点，用以定位芯片的固定位置，再将芯片转移到相对应的位置进行固定；接下来利用氮气保护或真空回流焊形成芯片电极互连；最后进行检测并修补，完成Mini LED的制备。本发明不但提高了Mini LED灯板的精度，还可以提高其平整度，且降低不良率，实用性强；第一金属图案和第二金属图案可以根据需要进行选择或改变，扩大了其适用范围；设置的透明胶保护膜，使得导电基板不外漏，避免氧化问题的存在，且结构中的材料可重复利用，节约了耗材和成本。
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公开(公告)号：CN216730122U
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202123416298.9
申请日：2021-12-31
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 凯盛科技股份有限公司
IPC分类号： B23K26/38 , B23K26/402 , B23K26/70 , C03B33/02 , C03B33/09
摘要： 本实用新型提供一种膜材和玻璃一体激光切割装置，包括X‑Y‑Z驱动组件和激光切割机构，X‑Y‑Z驱动组件的执行部件上设有旋转气缸，激光切割机构包括支架、激光切割器、竖向调整机构和高度差标尺组件，支架与旋转气缸的动力输出端连接，竖向调整机构的两个执行部件分别与两个激光切割器连接用于调整两个激光切割器的高度差，高度差标尺组件用于检测两个激光切割器的高度差。通过激光切割器活动安装在支架上并由竖向调整机构调整其高度差，进而在面对不同类型、和尺寸的待切割玻璃和膜材时均能保证高效的切割状态，而高度差标尺组件用于检测两个激光切割器的高度差，使得两个激光切割器的位置能够直接得出，避免二次测量高度差的情况。
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公开(公告)号：CN216736477U
公开(公告)日：2022-06-14
申请号：CN202123416300.2
申请日：2021-12-31
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 凯盛科技股份有限公司
IPC分类号： B65G49/06
摘要： 本实用新型提供一种可快速拆卸U形开口轮子，包括轮子本体和支撑转轴，轮子本体的径向上开设有贯穿式的U形槽，其中U形槽从轮子本体的圆心处延伸至圆柱面构成开口槽，轮子本体的径向螺纹孔内设有限位螺栓。通过呈开口式的U形槽设置使得轮子本体能够直接从支撑转轴上取下，并且轮子本体的位置也能进行随意调整，可在保证线体平顺运输玻璃能力下，把多余的轮子快速拆下，减少因玻璃与滚轮接触处出现脏污或划伤；或者快速把轮子调整位置避开重点位置，提高产品的良品率。
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公开(公告)号：CN115100143A
公开(公告)日：2022-09-23
申请号：CN202210720848.6
申请日：2022-06-23
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/40 , G06V10/764
摘要： 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及背光模组瑕疵的检测方法；该方法是一种利用光学手段，具体是利用可见光手段采集可见光图像以此检测或分析材料的方法，对背光模组进行检测，具体为：采集背光模组在不同拍摄角度下的发光图像，得到发光图像的灰度图像；基于灰度图像，计算各像素点属于各类别的模糊分类结果；然后计算不同间距下所有点对中的两像素点对各类别的统计贡献；根据统计贡献，计算各类别的分布稳定系数；进而得到所有像素点对各类别的剔除影响；基于剔除影响，判断对应像素点是否为瑕疵点。本发明利用背光模组能够自发光的物理性质，获取背光模组的发光图像，通过发光图像检测背光模组的瑕疵，能够准确检测到背光模组的瑕疵。
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公开(公告)号：CN115100143B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202210720848.6
申请日：2022-06-23
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： G06T7/00 , G06T5/40 , G06V10/764
摘要： 本发明涉及材料检测技术领域，具体涉及背光模组瑕疵的检测方法；该方法是一种利用光学手段，具体是利用可见光手段采集可见光图像以此检测或分析材料的方法，对背光模组进行检测，具体为：采集背光模组在不同拍摄角度下的发光图像，得到发光图像的灰度图像；基于灰度图像，计算各像素点属于各类别的模糊分类结果；然后计算不同间距下所有点对中的两像素点对各类别的统计贡献；根据统计贡献，计算各类别的分布稳定系数；进而得到所有像素点对各类别的剔除影响；基于剔除影响，判断对应像素点是否为瑕疵点。本发明利用背光模组能够自发光的物理性质，获取背光模组的发光图像，通过发光图像检测背光模组的瑕疵，能够准确检测到背光模组的瑕疵。
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公开(公告)号：CN115117222A
公开(公告)日：2022-09-27
申请号：CN202210720851.8
申请日：2022-06-23
申请人： 凯盛科技集团有限公司 , 扬州中科半导体照明有限公司
IPC分类号： H01L33/58 , H01L33/50 , H01L33/56 , H01L25/075 , H01L21/66
摘要： 本发明涉及半导体发光器件技术领域，具体涉及一种带预制凝胶光学隔离层的LED芯片阵列及其制作方法。该方法获得透明胶体点胶时每个点胶过程中的点胶数据。通过对点胶数据进行分析，确定每个点胶数据的点胶质量评价。根据点胶质量评价和点胶数据对每个点胶过程进行分类，获得多个点胶过程类别。根据每个点胶过程类别对应的点胶时间和点胶质量构建点胶劣化阶段曲线。通过凝胶光学隔离层空间邻域范围内的透明胶体的点胶时间获得对应的劣化值，进而调整凝胶光学隔离层点胶时的涂胶量。本发明通过调整凝胶光学隔离层的涂胶量补偿了点胶异常的LED芯片附近的光路，提高了LED芯片阵列制作过程中的良品率。
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