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发明公开
一种基于神经辐射场的抗混叠采样方法审中-实审

公开(公告)号：CN118196263A

公开(公告)日：2024-06-14

申请号：CN202410329426.5

申请日：2024-03-21

Applicant: 北京市遥感信息研究所

Inventor： 路遥 , 刘洋 , 张一鸣 , 张开锋 , 何浩辰 , 张晶

IPC: G06T15/00 , G06N3/04

Abstract: 本发明公开了一种基于神经辐射场的抗混叠采样方法，该方法包括：获取神经辐射场深度值信息；神经辐射场深度值信息包括度量距离信息、光线半径信息和采样点交点值信息；对神经辐射场深度值信息进行采样处理，得到初始采样点信息；初始采样点信息包括N个原始采样点信息；对初始采样点信息进行优化处理，得到目标采样点信息；目标采样点信息包括若干个目标抗混叠采样点信息。

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