公开(公告)号：CN116818147A

公开(公告)日：2023-09-29

申请号：CN202310737113.9

申请日：2023-06-21

申请人： 北京强度环境研究所

发明人： 王伟 ,  王成亮 ,  武小峰 ,  赵洁 ,  李嘉伟 ,  郝逍然 ,  杜安革 ,  谢新杨 ,  徐宁 ,  陆红 ,  朱仪凡 ,  巨亚堂

IPC分类号： G01K17/08 ,  G01K17/00 ,  G01M99/00

摘要： 本申请实施例中提供了一种激光加热热场测试装置，包括：支架；热密度检测组件，热密度检测组件固定于支架上，用以检测当前位置处的热密度值；三轴动力驱动组件，与支架固定连接，三轴动力驱动组件带动支架和热密度检测组件移动；激光发射组件，与支架相对设置，用于向热密度检测组件一侧发射激光；控制组件，分别与热密度检测组件、三轴动力驱动组件和激光发射组件连接。三轴动力驱动组件带动热密度检测组件实现三向扫描，能够自动快速获取不同位置的热流密度值，进而绘制出热场，解决现有高速飞行器地面结构热试验中热流传感器只能获得单点热流密度值而无法直接测量热场的问题。

公开(公告)号：CN117232663A

公开(公告)日：2023-12-15

申请号：CN202311110184.2

申请日：2023-08-30

申请人： 北京强度环境研究所

发明人： 王成亮 ,  武小峰 ,  符泰然 ,  李嘉伟 ,  何鑫炜 ,  王伟 ,  曹志伟 ,  何振威 ,  赵洁 ,  刘宇轩 ,  甄雷兴 ,  谢新杨 ,  温东翰 ,  何钦华 ,  邱恒斌 ,  程俊 ,  郑毅 ,  徐宁 ,  王晓帆 ,  陈翠圆 ,  孙毅

IPC分类号： G01J5/90 ,  G01J5/53

摘要： 本发明公开了一种辐射温度误差测量装置及方法，其中，该装置包括：平板试件、标准红外测温组合、待检红外测温仪、第一加热器和第二加热器；其中，平板试件的内部开设两个圆柱腔体，一个圆柱腔体为第一等效黑体，另一个圆柱腔体为第二等效黑体；标准红外测温组合设置于平板试件的外侧；第一加热器设置于平板试件的一侧，第二加热器设置于平板试件的另一侧，第一加热器和第二加热器相对，第一加热器和第二加热器用于对平板试件加热；待检红外测温仪设置于第二加热器远离平板试件的一侧。本发明规避了加热器辐射光干扰以及目标发射率变化对测温基准的影响，进而实现了辐射加热环境下对红外测温仪的准确测温误差。

公开(公告)号：CN118258466A

公开(公告)日：2024-06-28

申请号：CN202410188232.8

申请日：2024-02-20

申请人： 北京强度环境研究所

发明人： 乔通 ,  赵洁 ,  吴小峰 ,  宫文然 ,  张霞 ,  朱超杰 ,  王则力 ,  徐宁

IPC分类号： G01F23/22

摘要： 本发明公开了一种分布式光纤低温液位传感器，属于超低温液位参数测量领域，包括聚酰亚胺弱反射分布光纤、高衰减光纤、不锈钢毛细管、不锈钢波纹管、光纤接头、第一绝缘铜导线、第一冷压铜端子、第二绝缘铜导线、第二冷压铜端子、复合低温密封胶和穿舱法兰，将分布式光纤低温液位传感器垂直浸入被测液体，将第一绝缘铜导线和第二绝缘铜导线分别与直流稳压电源相连，通过直流稳压电源对不锈钢毛细管施加连续电压或脉冲电压激励；将光纤接头接入光纤解调仪，监测并采集光纤光谱信号沿光纤方向的空间分布，通过分析光谱特征即可获得液位的空间位置。

公开(公告)号：CN221077885U

公开(公告)日：2024-06-04

申请号：CN202321586435.X

申请日：2023-06-21

申请人： 北京强度环境研究所

发明人： 王伟 ,  王成亮 ,  武小峰 ,  赵洁 ,  李嘉伟 ,  郝逍然 ,  杜安革 ,  谢新杨 ,  徐宁 ,  陆红 ,  朱仪凡 ,  巨亚堂

IPC分类号： G01K17/08 ,  G01K17/00 ,  G01M99/00

摘要： 本申请实施例中提供了一种激光加热热场测试装置，包括：支架；热密度检测组件，热密度检测组件固定于支架上，用以检测当前位置处的热密度值；三轴动力驱动组件，与支架固定连接，三轴动力驱动组件带动支架和热密度检测组件移动；激光发射组件，与支架相对设置，用于向热密度检测组件一侧发射激光；控制组件，分别与热密度检测组件、三轴动力驱动组件和激光发射组件连接。三轴动力驱动组件带动热密度检测组件实现三向扫描，能够自动快速获取不同位置的热流密度值，进而绘制出热场，解决现有高速飞行器地面结构热试验中热流传感器只能获得单点热流密度值而无法直接测量热场的问题。

公开(公告)号：CN220670726U

公开(公告)日：2024-03-26

申请号：CN202322351234.8

申请日：2023-08-30

申请人： 北京强度环境研究所

发明人： 王成亮 ,  武小峰 ,  符泰然 ,  李嘉伟 ,  何鑫炜 ,  王伟 ,  曹志伟 ,  何振威 ,  赵洁 ,  刘宇轩 ,  甄雷兴 ,  谢新杨 ,  温东翰 ,  何钦华 ,  邱恒斌 ,  程俊 ,  郑毅 ,  徐宁 ,  王晓帆 ,  陈翠圆 ,  孙毅

IPC分类号： G01J5/90 ,  G01J5/53

摘要： 本发明公开了一种辐射温度误差测量装置，其中，该装置包括：平板试件、标准红外测温组合、待检红外测温仪、第一加热器和第二加热器；其中，平板试件的内部开设两个圆柱腔体，一个圆柱腔体为第一等效黑体，另一个圆柱腔体为第二等效黑体；标准红外测温组合设置于平板试件的外侧；第一加热器设置于平板试件的一侧，第二加热器设置于平板试件的另一侧，第一加热器和第二加热器相对，第一加热器和第二加热器用于对平板试件加热；待检红外测温仪设置于第二加热器远离平板试件的一侧。本发明规避了加热器辐射光干扰以及目标发射率变化对测温基准的影响，进而实现了辐射加热环境下对红外测温仪的准确测温误差。