一种ns级电磁脉冲场探头校准系统、方法及装置

    公开(公告)号:CN118425860A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202311852234.4

    申请日:2023-12-29

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本说明书公开了一种ns级电磁脉冲场探头校准系统、方法及装置,涉及脉冲场探头校准领域,旨在解决现有的校准系统对脉冲场探头的校准准确度较低的问题。本发明系统包括:脉冲源、定向耦合器、TEM室、衰减器、示波器、计算机;脉冲源产生脉冲电压信号;定向耦合器将脉冲电压信号耦合,产生第一直通信号、第二直通信号,第二直通信号馈入示波器的第三输入通道;第一直通信号经TEM室、衰减器后进入示波器的第一输入通道;设置在TEM室中的被校脉冲场探头获得电压信号进入示波器的第二输入通道;计算机根据U1、U2、U3,计算被校脉冲场探头的校准系数,对被校脉冲场探头进行校准。本发明提高脉冲场探头性能校准结果的准确度。

    一种减小暗室反射性能测量误差的方法

    公开(公告)号:CN112763515A

    公开(公告)日:2021-05-07

    申请号:CN202011449327.9

    申请日:2020-12-09

    IPC分类号: G01N23/00

    摘要: 本发明公开一种减小暗室反射性能测量误差的方法,包括:提供一被测暗室,在所述被测暗室内设置天线支架台,将发射天线与接收天线置于所述天线支架台上,保持收发天线及天线支架台相对位置固定;将所述天线支架台正对暗室墙面进行测量,获取被测暗室墙面的第一反射信号;在被测暗室墙面位置处放置参考金属板,将所述天线支架台正对暗室墙面进行测量,获取参考金属板的第一反射信号;将所述天线支架台背对暗室墙面进行测量,获取被测暗室墙面的第二反射信号;在被测暗室墙面位置处放置参考金属板,将所述天线支架台背对暗室墙面进行测量,获取参考金属板的第二反射信号;计算得到被测暗室墙面反射性能。本发明的优点是:实现简单,减小测量误差。

    一种校准装置
    4.
    发明公开
    一种校准装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN110988771A

    公开(公告)日:2020-04-10

    申请号:CN201911319280.1

    申请日:2019-12-19

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种校准装置,该装置包括支撑同轴内芯穿过电流探头或电流注入探头卡口通孔的左支撑部和右支撑部,所述左支撑部和右支撑部为可分离式结构;所述电流探头或所述电流注入探头置入校准装置后处于所述校准装置的测试区。该装置解决了传统校准夹具和校准装置不适用于电流探头CT1和电流注入探头CT2的问题,且结构简单,物理尺寸小,不影响校准精度,操作流程方便,可以完成CT1和CT2等类型的小型电流探头和电流注入探头的校准工作。

    一种用于大功率脉冲场源线性度提升的方法

    公开(公告)号:CN117335820A

    公开(公告)日:2024-01-02

    申请号:CN202311190092.X

    申请日:2023-09-14

    摘要: 本申请公开了一种用于大功率脉冲场源线性度提升的方法,包括:输入测试信号,选择非线性模型模拟射频前端与ADC的非线性失真;构建非线性补偿模型,对失真信号求离散傅里叶变换,求取信号的功率谱密度,绘制出信号的功率谱密度图,设置功率谱门限,判断失真信号频段;根据失真信号频段构造多通带滤波器,获取滤波器系数,对失真信号进行滤波后得到补偿后信号失真分量;根据失真信号分量构造自相关矩阵,通过最小二乘法对非线性补偿模型的核向量进行迭代计算,更新非线性补偿模型参数,载入更新非线性补偿模型参数得到的核系数,完成非线性失真量相消。本申请无需增加额外ADC来获取实际输入信号,而能够较好的改善系统SFDR性能。

    一种减小暗室反射性能测量误差的方法

    公开(公告)号:CN112763515B

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202011449327.9

    申请日:2020-12-09

    IPC分类号: G01N23/00

    摘要: 本发明公开一种减小暗室反射性能测量误差的方法,包括:提供一被测暗室,在所述被测暗室内设置天线支架台,将发射天线与接收天线置于所述天线支架台上,保持收发天线及天线支架台相对位置固定;将所述天线支架台正对暗室墙面进行测量,获取被测暗室墙面的第一反射信号;在被测暗室墙面位置处放置参考金属板,将所述天线支架台正对暗室墙面进行测量,获取参考金属板的第一反射信号;将所述天线支架台背对暗室墙面进行测量,获取被测暗室墙面的第二反射信号;在被测暗室墙面位置处放置参考金属板,将所述天线支架台背对暗室墙面进行测量,获取参考金属板的第二反射信号;计算得到被测暗室墙面反射性能。本发明的优点是:实现简单,减小测量误差。

    一种舱体支撑架
    9.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114518473A

    公开(公告)日:2022-05-20

    申请号:CN202111641345.1

    申请日:2021-12-29

    IPC分类号: G01R1/04 G01R29/10

    摘要: 本发明公开了一种舱体支撑架,包括方位转台,所述方位转台的上端安装有底座,所述底座的上端安装有支撑座,所述支撑座的后端安装有两个侧支撑,所述底座的内侧安装有多个底座锁紧螺钉,所述支撑座的顶部安装有多个锁紧螺钉和四个轴承组件,所述轴承组件位于锁紧螺钉的下方,所述支撑座的上端安装有舱体安装环,所述舱体安装环的内侧安装有舱体。本发明所述的一种舱体支撑架,解决了航空航天领域开展舱体天线性能测试的问题,实现手动调节、结构简单和价格低的优点,使舱体安装环进行极化转动时通过轴承芯旋转可以极大减小摩擦阻力,极大便利了极化转动,并且舱体安装环的外侧设计了周向刻度盘的刻度尺,方便极化角度的定位。

    一种波束赋形天线测量装置
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114204244A

    公开(公告)日:2022-03-18

    申请号:CN202111362108.1

    申请日:2021-11-17

    IPC分类号: H01Q1/12 H01Q1/24 H01Q3/04

    摘要: 本申请公开了一种波束赋形天线测量装置,包括方位总装配体和俯仰总装配体,俯仰总装配体安装在方位总装配体上;方位总装配体上设置方位驱动总成,方位驱动总成用于驱动俯仰总装配体在水平范围内做方位转动运动;俯仰总装配体上设置俯仰轴承座,俯仰轴承座上设置俯仰驱动轴,俯仰驱动轴驱动连接俯仰装配架,俯仰装配架上设置镂空结构的末端安装支撑组件;俯仰驱动轴用于驱动俯仰装配架在竖直范围内做俯仰转动运动;末端安装支撑组件用于将被测试天线安装在其内部;能够减少或消除遮挡或反射的影响作用,提高波束赋形天线自身的指向精度和主波束幅值,避免金属结构对天线的影响,实现360°范围的俯仰转动运动。