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公开(公告)号：CN111337174B
公开(公告)日：2021-06-01
申请号：CN202010208148.X
申请日：2020-03-23
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01L5/00
Abstract: 本发明公开了一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法，涉及残余应力检测领域。该方法包括以下步骤：测量圆管外表面残余应力真实值；车削圆管外表面，壁厚剥除h1；对圆管继续进行电解抛光，壁厚进一步剥除h2，形成对圆管进行第1次剥层后的新表面，测量此时新表面的半径值r1；测量新表面残余应力测量值；采用改进的修正公式计算半径r1处的轴向、环向、径向残余应力真实值；重复车削抛光至计算步骤，直至ri＝1.2a，ri为对圆管进行第i次剥层后形成的新表面对应的半径值；计算得到圆管内表面轴向和环向残余应力真实值。本发明提供的测量方法简单，结果可靠，重复性好，适用于厚壁圆管内部残余应力的测定。
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公开(公告)号：CN110057850B
公开(公告)日：2024-12-10
申请号：CN201910390994.5
申请日：2019-05-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法，属于涂层缺陷无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。使用时，首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。本发明可检测涂层的缺陷，如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等。本发明结构简单,方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112857624A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110004916.4
申请日：2021-01-04
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供一种镀层内应力的测量装置及操作方法，属于内应力检测技术领域。该装置包括：电源装置，为电镀提供电压；电镀装置，包括镀槽、阳极板、阴极等；自动温控装置，包括温控箱、加热管、热电偶等，为镀液以及工作液提供恒温环境；应力测量装置，包括工作腔体、毛细管等；支架；摄像机，对毛细管液面刻度进行监测；计算机，自动读取摄像机提供的照片中毛细管液面刻度变化值，经过软件处理将电信号转化为内应力值，最后显示为镀层内应力随时间变化的曲线。本发明结构简单，方便携带，操作简便，检测结果准确，不损伤破坏镀层。
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公开(公告)号：CN112857624B
公开(公告)日：2021-12-24
申请号：CN202110004916.4
申请日：2021-01-04
Applicant: 北京科技大学
Abstract: 本发明提供一种镀层内应力的测量装置及操作方法，属于内应力检测技术领域。该装置包括：电源装置，为电镀提供电压；电镀装置，包括镀槽、阳极板、阴极等；自动温控装置，包括温控箱、加热管、热电偶等，为镀液以及工作液提供恒温环境；应力测量装置，包括工作腔体、毛细管等；支架；摄像机，对毛细管液面刻度进行监测；计算机，自动读取摄像机提供的照片中毛细管液面刻度变化值，经过软件处理将电信号转化为内应力值，最后显示为镀层内应力随时间变化的曲线。本发明结构简单，方便携带，操作简便，检测结果准确，不损伤破坏镀层。
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公开(公告)号：CN111337174A
公开(公告)日：2020-06-26
申请号：CN202010208148.X
申请日：2020-03-23
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01L5/00
Abstract: 本发明公开了一种厚壁圆管内部残余应力的测量方法，涉及残余应力检测领域。该方法包括以下步骤：测量圆管外表面残余应力真实值；车削圆管外表面，壁厚剥除h1；对圆管继续进行电解抛光，壁厚进一步剥除h2，形成对圆管进行第1次剥层后的新表面，测量此时新表面的半径值r1；测量新表面残余应力测量值；采用改进的修正公式计算半径r1处的轴向、环向、径向残余应力真实值；重复车削抛光至计算步骤，直至ri＝1.2a，ri为对圆管进行第i次剥层后形成的新表面对应的半径值；计算得到圆管内表面轴向和环向残余应力真实值。本发明提供的测量方法简单，结果可靠，重复性好，适用于厚壁圆管内部残余应力的测定。
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公开(公告)号：CN110057850A
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201910390994.5
申请日：2019-05-10
Applicant: 北京科技大学
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本发明提供一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法，属于涂层缺陷无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。使用时，首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。本发明可检测涂层的缺陷，如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等。本发明结构简单,方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。
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公开(公告)号：CN210037669U
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201920665905.9
申请日：2019-05-10
Applicant: 北京科技大学 , 邯郸爱斯特应力技术有限公司
IPC: G01N23/2055
Abstract: 本实用新型提供一种涂层缺陷X射线无损检测装置，属于无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。主机包括激光定位器、X射线管和X射线探测器，主机安装在支架上，X射线管和X射线探测器依据X射线衍射原理布置，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。该装置依据X射线衍射和吸收原理，可检测涂层的缺陷，例如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等缺陷。本装置结构简单,重量轻方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利
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