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发明公开
一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法审中-实审

公开(公告)号：CN110057850A

公开(公告)日：2019-07-26

申请号：CN201910390994.5

申请日：2019-05-10

申请人： 北京科技大学

发明人： 张津 , 连勇 , 徐伟生 , 焦进超 , 杨振波

IPC分类号： G01N23/2055

摘要： 本发明提供一种金属构件表面涂层缺陷的X射线无损检测装置及方法，属于涂层缺陷无损检测技术领域。该装置包括主机、支架和控制显示部分，主机通过支架固定，控制显示部分控制主机运行和支架移动，并对探测信号进行显示。使用时，首先针对涂层基底材料的种类进行衍射晶面计算，然后调整主机，对待测部位通过红外激光定位，利用嵌入式软件，获取衍射图，根据衍射图的颜色或衍射信号强弱，对比标准无缺陷涂层样件的衍射图，根据德拜环形状或衍射强弱信息，判定涂层缺陷的贯穿与否或涂层的均匀性。本发明可检测涂层的缺陷，如磕碰划伤、气泡、疏松、腐蚀等。本发明结构简单,方便携带，操作简便,检测时间短，探测器与工件非接触，不损伤破坏涂层。