一种高速高光谱工业杂物检测装置和方法

    公开(公告)号:CN117929288A

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202311722099.1

    申请日:2023-12-14

    IPC分类号: G01N21/25 G01N21/01

    摘要: 本发明公开了一种高速高光谱工业杂物检测装置和方法,该装置包括:光谱数据采集系统,用像采集得到物料的光谱数据;照明系统,用于对物料进行宽谱段高密度照明;光谱处理系统,用于基于光谱数据识别出物料中的杂物,并确定杂物的位置;一体化多维调节系统,用于实现对光谱数据采集系统、照明系统、检测装置工作平面的调节。本发明基于杂物和物料的空间分布特征和光谱吸收特征差异进行杂物位置和属性信息提取,实现对杂物的实时检测,区分不同类型杂物、不同质量产品并返回杂物及低质量产品位置信息和类型,解决传统杂物检测中机器视觉检测受训练样本限制,复杂背景下杂物检测能力低的问题和高端产品化学成分难以实现大批量实时普查的问题。