公开(公告)号：CN101236221A

公开(公告)日：2008-08-06

申请号：CN200810007403.3

申请日：2008-03-07

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 许良军 ,  芦娜 ,  彭廷钟 ,  马勇

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明公开了一种精密定位测试接触电阻的方法及装置，包含精密定位单元、运动控制单元、接触电阻测试单元、计算机控制平台单元及反馈单元，预先确定标准样块上表面交点至测试样片上接触斑点的平面距离参数，计算机控制平台单元发送定位指令，运动控制单元接收定位指令及反馈指令并转化为控制电压指令输出，控制精密定位单元，反馈单元将精密定位单元的距离信息反馈到运动控制单元，然后，计算机控制平台单元发送接触压力指令和测试指令，接触电阻测试单元开始进行接触电阻测试，从而实现接触区域内接触斑点精密定位、重定位，可进行多点、多接触压力下接触电阻的自动连续测试。

公开(公告)号：CN101236221B

公开(公告)日：2010-09-01

申请号：CN200810007403.3

申请日：2008-03-07

Applicant: 北京邮电大学

Inventor： 许良军 ,  芦娜 ,  彭廷钟 ,  马勇

IPC: G01R27/02

Abstract: 本发明公开了一种精密定位测试接触电阻的方法及装置，包含精密定位单元、运动控制单元、接触电阻测试单元、计算机控制平台单元及反馈单元，预先确定标准样块上表面交点至测试样片上接触斑点的平面距离参数，计算机控制平台单元发送定位指令，运动控制单元接收定位指令及反馈指令并转化为控制电压指令输出，控制精密定位单元，反馈单元将精密定位单元的距离信息反馈到运动控制单元，然后，计算机控制平台单元发送接触压力指令和测试指令，接触电阻测试单元开始进行接触电阻测试，从而实现接触区域内接触斑点精密定位、重定位，可进行多点、多接触压力下接触电阻的自动连续测试。