一种快速精密短程光学延时系统及方法

    公开(公告)号:CN104503078A

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201410854897.4

    申请日:2014-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种快速精密短程光学延时测试系统及方法,其系统包括电压控制电压源、压电陶瓷片堆, 被压电陶瓷驱动的反射镜阵列和一个固定反射镜阵列以及一些固定件;其方法为:利用压电陶瓷快速精密控制反射镜阵列的运动,光束在反射镜阵列间的多次反射放大了压电陶瓷的运动对入射光程的影响。压电陶瓷可以在纳米量级精密控制光程的运动,同时有比较高的来回频率;反射镜阵列几何级数形式放大了光程的变化,这样实现了对光程的精密控制,并实现了对光程的高速调制。

    一种简单的飞秒脉冲宽度测量系统

    公开(公告)号:CN104501974A

    公开(公告)日:2015-04-08

    申请号:CN201410854858.4

    申请日:2014-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种简单的飞秒脉冲宽度测量系统,该系统包括聚焦元件、飞秒脉冲分光延时子系统、高压产生模块及数据采集处理系统;当未知脉宽的飞秒光学超短脉冲,经过聚焦元件后进入飞秒脉冲分光延时子系统,在该子系统中,飞秒光学超短脉冲被分光镜分为两束,这两束光的光程差由调节高压产生模块的输出信号从而改变压电陶瓷的伸缩量来控制。最后两束光经反射镜到达双光子探测器上同一位置。通过改变控制压电陶瓷的高压信号即改变脉冲的延迟时间,得到双光子探测器所测到的信号的时序变化,经过数据处理得到飞秒光学超短脉冲的宽度。本发明采用聚光元件、压电陶瓷和双光子探测器,具有简单、可行性强、结构紧凑的特点。

    一种超快原子力显微镜系统

    公开(公告)号:CN115078773B

    公开(公告)日:2024-09-13

    申请号:CN202210596468.6

    申请日:2022-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种超快原子力显微镜系统,其特征在于采用带有扩展接口的原子力显微镜与高速电流放大器、高速数据采集处理模块和皮秒激光器组成的测试系统,实现对半导体纳米颗粒或电子器件中的载流子动力学进行超快原位测量,所述带有扩展接口的原子力显微镜包括:激光二极管、光斑位置灵敏探测器、低通滤波器、扫描反馈数据采集电子学模块、扫描器、高压放大器、原子力针尖、锁相放大器和电脑。本发明与现有技术相比具有把扫描速度提高到能够看到这些微区中的动态物理特性,实现同时具有纳秒空间分辨率和纳秒时间分辨率的超快原子力显微镜,满足时间分辨数据和空间位置的对应关系,克服了原子力显微镜中的时间响应太慢的缺点。

    一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统

    公开(公告)号:CN105548722A

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201510897649.2

    申请日:2015-12-08

    CPC classification number: G01R27/2682

    Abstract: 本发明公开了一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统,该系统包括:飞秒激光脉冲发生装置、分光装置、太赫兹光发生装置、两激光脉冲延时装置、起偏装置、样品架、磁场发生装置、检偏装置、弱光光电探测器,太赫兹聚焦装置、时序太赫兹光强检测装置以及测试控制装置,本发明在测量铁磁样品在太赫兹波段的反射率的同时测量了样品在太赫兹波段磁化强度,能够计算出铁磁材料在太赫兹波段的准确介电常数。

    一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统

    公开(公告)号:CN105548722B

    公开(公告)日:2018-06-22

    申请号:CN201510897649.2

    申请日:2015-12-08

    Abstract: 本发明公开了一种铁磁材料太赫兹介电常数的测量系统,该系统包括:飞秒激光脉冲发生装置、分光装置、太赫兹光发生装置、两激光脉冲延时装置、起偏装置、样品架、磁场发生装置、检偏装置、弱光光电探测器,太赫兹聚焦装置、时序太赫兹光强检测装置以及测试控制装置,本发明在测量铁磁样品在太赫兹波段的反射率的同时测量了样品在太赫兹波段磁化强度,能够计算出铁磁材料在太赫兹波段的准确介电常数。

    一种超快原子力显微镜系统

    公开(公告)号:CN115078773A

    公开(公告)日:2022-09-20

    申请号:CN202210596468.6

    申请日:2022-05-30

    Abstract: 本发明公开了一种超快原子力显微镜系统,其特征在于采用带有扩展接口的原子力显微镜与高速电流放大器、高速数据采集处理模块和皮秒激光器组成的测试系统,实现对半导体纳米颗粒或电子器件中的载流子动力学进行超快原位测量,所述带有扩展接口的原子力显微镜包括:激光二极管、光斑位置灵敏探测器、低通滤波器、扫描反馈数据采集电子学模块、扫描器、高压放大器、原子力针尖、锁相放大器和电脑。本发明与现有技术相比具有把扫描速度提高到能够看到这些微区中的动态物理特性,实现同时具有纳秒空间分辨率和纳秒时间分辨率的超快原子力显微镜,满足时间分辨数据和空间位置的对应关系,克服了原子力显微镜中的时间响应太慢的缺点。

    一种简单的飞秒脉冲宽度测量系统

    公开(公告)号:CN104501974B

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201410854858.4

    申请日:2014-12-30

    Abstract: 本发明公开了一种简单的飞秒脉冲宽度测量系统,该系统包括聚焦元件、飞秒脉冲分光延时子系统、高压产生模块及数据采集处理系统;当未知脉宽的飞秒光学超短脉冲,经过聚焦元件后进入飞秒脉冲分光延时子系统,在该子系统中,飞秒光学超短脉冲被分光镜分为两束,这两束光的光程差由调节高压产生模块的输出信号从而改变压电陶瓷的伸缩量来控制。最后两束光经反射镜到达双光子探测器上同一位置。通过改变控制压电陶瓷的高压信号即改变脉冲的延迟时间,得到双光子探测器所测到的信号的时序变化,经过数据处理得到飞秒光学超短脉冲的宽度。本发明采用聚光元件、压电陶瓷和双光子探测器,具有简单、可行性强、结构紧凑的特点。

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