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公开(公告)号:CN103296579A
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201310172666.0
申请日:2013-05-10
申请人: 华中科技大学
IPC分类号: H01T2/02 , H01H33/664
摘要: 本发明公开了一种沿面击穿型真空开关的触发电极,包括低压极、钼套圈、陶瓷管、金属触发极、钼环、半导体涂敷层、触发极凹槽,陶瓷管设置于低压极及钼套圈中心处的贯穿孔中,并与钼套圈紧密接触,用于保证低压极与金属触发极之间的电气绝缘,金属触发极设置于陶瓷管及钼环中心处的贯穿孔中,用于保证钼环与金属触发极等电位,钼环设置于陶瓷管的上部,半导体涂覆层设置于钼套圈与钼环之间陶瓷管的管壁上,半导体涂覆层的方向与高压极施加的间隙电场方向一致,触发极凹槽设置于钼套圈、钼环、半导体涂覆层外围的低压极上。本发明能够解决现有触发电极存在的使用寿命短、耐高温性能不佳、容易烧蚀损坏的问题。
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公开(公告)号:CN103296579B
公开(公告)日:2015-05-20
申请号:CN201310172666.0
申请日:2013-05-10
申请人: 华中科技大学
IPC分类号: H01T2/02 , H01H33/664
摘要: 本发明公开了一种沿面击穿型真空开关的触发电极,包括低压极、钼套圈、陶瓷管、金属触发极、钼环、半导体涂敷层、触发极凹槽,陶瓷管设置于低压极及钼套圈中心处的贯穿孔中,并与钼套圈紧密接触,用于保证低压极与金属触发极之间的电气绝缘,金属触发极设置于陶瓷管及钼环中心处的贯穿孔中,用于保证钼环与金属触发极等电位,钼环设置于陶瓷管的上部,半导体涂覆层设置于钼套圈与钼环之间陶瓷管的管壁上,半导体涂覆层的方向与高压极施加的间隙电场方向一致,触发极凹槽设置于钼套圈、钼环、半导体涂覆层外围的低压极上。本发明能够解决现有触发电极存在的使用寿命短、耐高温性能不佳、容易烧蚀损坏的问题。
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公开(公告)号:CN103456555A
公开(公告)日:2013-12-18
申请号:CN201310329692.X
申请日:2013-07-31
申请人: 华中科技大学
IPC分类号: H01H33/664
摘要: 本发明属于真空开关技术,具体涉及一种带挡弧盘的真空开关触发电极结构,它包括钼环、陶瓷套管、触发极、触发极凹槽、沿面绝缘层和触发挡弧盘;触发极轴对称形,其中部为圆台形状,上下两端为圆柱体,陶瓷套管的轴向贯穿孔靠近主间隙一端设置有渐开式斜槽,触发极、陶瓷套管和钼环由内至外同轴布置,触发极的圆台的侧面与陶瓷套管的贯穿孔渐开式斜槽相配合,触发极凹槽设置于钼环外围,形状为渐开式凹槽;沿面绝缘层设置于陶瓷套管位于触发极凹槽内的一端表面;触发挡弧盘设置于触发极位于主间隙一端的端面,以增大触发极靠近主间隙一端端面的径向面积。本发明增加了真空开关的可靠性,提高了真空开关的性能参数及使用寿命等。
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