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公开(公告)号:CN110161965B
公开(公告)日:2020-08-18
申请号:CN201910386882.2
申请日:2019-05-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/401
Abstract: 本发明属于航天机匣数控加工领域,并公开了一种大型航天机匣斜孔的在机测量方法。该方法包括:(a)建立空间基坐标系,获取待测量斜孔中心轴线的单位矢量,第一次旋转机床的第四和五轴,调整测头方向与单位矢量同向;(b)利用测头第一次测量斜孔上端和下端内壁圆周,获得该斜孔上端和下端的圆心、中心轴线和半径;(c)第二次旋转机床的第四和第五轴,调整测头方向与第一次测量的中心轴线同向;(d)利用测头第二次测量斜孔上端和下端内壁圆周,获得上端和下端圆心和半径,利用将该次测量的结果转化至基坐标系中,计算斜孔的半径、圆心和中心轴线偏差,至此完成斜孔的在机测量。通过本发明,实现精准测量,提高测量精度,减少测量误差。
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公开(公告)号:CN110161965A
公开(公告)日:2019-08-23
申请号:CN201910386882.2
申请日:2019-05-10
Applicant: 华中科技大学
IPC: G05B19/401
Abstract: 本发明属于航天机匣数控加工领域,并公开了一种大型航天机匣斜孔的在机测量方法。该方法包括:(a)建立空间基坐标系,获取待测量斜孔中心轴线的单位矢量,第一次旋转机床的第四和五轴,调整测头方向与单位矢量同向;(b)利用测头第一次测量斜孔上端和下端内壁圆周,获得该斜孔上端和下端的圆心、中心轴线和半径;(c)第二次旋转机床的第四和第五轴,调整测头方向与第一次测量的中心轴线同向;(d)利用测头第二次测量斜孔上端和下端内壁圆周,获得上端和下端圆心和半径,利用将该次测量的结果转化至基坐标系中,计算斜孔的半径、圆心和中心轴线偏差,至此完成斜孔的在机测量。通过本发明,实现精准测量,提高测量精度,减少测量误差。
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