一种风险评估方法以及风险评估设备

    公开(公告)号:CN116846572A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202210302708.7

    申请日:2022-03-25

    IPC分类号: H04L9/40

    摘要: 本申请公开了一种风险评估方法以及风险评估设备,用于网络安全技术领域。风险评估设备从安全设备获取威胁告警信息,其中,威胁告警信息是安全设备针对攻击目标为计算机设备的攻击事件产生的,风险评估设备根据威胁告警信息评估计算机设备的风险程度。威胁告警信息可以反映计算机设备已经遭受的外部攻击,因此,风险评估设备基于威胁告警信息评估计算机设备的风险程度时,可以提升评估结果的准确性。

    确定检测机台的检测性能的方法和装置

    公开(公告)号:CN118469893A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202310126239.2

    申请日:2023-02-07

    摘要: 本公开的实施例提供了一种确定检测机台的检测性能的方法及装置。该方法包括:确定在芯片制造过程中的导线的无缺陷图案;通过将多个不同尺寸的预定类型的缺陷分别加入到无缺陷图案中,生成与多个不同尺寸对应的多个带缺陷图案;基于无缺陷图案和多个带缺陷图案,生成目标图案;以及利用检测机台对包括目标图案的样本进行检测,以确定检测机台的检测性能。以此方式,本公开的实施例能够在目标图案中包括各种不同尺寸的预定类型的缺陷,以较低的成本生成能够反应真实芯片缺陷的样本,并且能够基于样本来确定检测机台的检测性能,进而有助于在利用检测机台进行芯片检测时的良率控制和成本控制。

    一种电子光学调试方法、装置和系统

    公开(公告)号:CN117995633A

    公开(公告)日:2024-05-07

    申请号:CN202211366898.5

    申请日:2022-11-02

    IPC分类号: H01J37/141 H01J37/28

    摘要: 本申请涉及光学技术领域,尤其涉及电子光学调试方法、装置和系统,该方案可以应用于需要调试入射电子束和电子收集系统的设备,如单束和多束扫描电子显微镜。在该方法中,使用带有调试图案的样品进行电子光学调试。基于该样品,可以根据第一探测器拍摄的第一图像对入射电子束进行调试,并且在确定入射电子束后,根据第二探测器拍摄的第二图像对第二探测器中的电子收集系统调试,从而将入射电子束和电子收集系统的调试解耦,进而避免了电子光学调试过程中更换样品的步骤,提高了调试的效率和精度。

    一种小区切换方法及装置

    公开(公告)号:CN106537982A

    公开(公告)日:2017-03-22

    申请号:CN201580036862.2

    申请日:2015-03-12

    发明人: 陈斌 王琰 张霄龙

    IPC分类号: H04W36/00

    摘要: 本发明提供了一种小区切换方法及装置,以避免由于微基站小区配置的物理小区标识PCI冲突导致的用户设备UE执行小区切换失败的问题。本发明方法包括:源小区接收用户设备UE上报的目标小区的物理小区标识PCI;源小区确定目标小区的小区类型;当源小区确定目标小区的小区类型为微基站小区时,获取目标小区的全球小区识别码CGI;源小区根据CGI唯一识别目标小区,并指示UE切换至目标小区。

    一种X2配置的自动删除方法、基站和网络系统

    公开(公告)号:CN103703822A

    公开(公告)日:2014-04-02

    申请号:CN201380001555.1

    申请日:2013-01-30

    IPC分类号: H04W24/02 H04W92/20

    CPC分类号: H04W8/30 H04W24/02 H04W92/20

    摘要: 本发明实施例公开了一种X2配置的自动删除方法、基站和网络系统,其中方法的实现包括:第一基站获取第二基站的邻区配置数据;第一基站依据所述第一基站的邻区配置数据以及所述第二基站的邻区配置数据,确定第一基站与第二基站之间是否存在邻区关系;若第一基站与第二基站之间不存在邻区关系,则删除所述第一基站与第二基站之间的X2接口对应的X2配置数据。以上方案实现了冗余的X2配置数据的自动删除,并不需要第一基站和第二基站共网管,实现分布式的X2配置数据管理,应用场景更广泛。