一种绝缘特性测试平台
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115753419A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211470743.6

    申请日:2022-11-23

    IPC分类号: G01N3/18 G01N3/02 G01N25/20

    摘要: 本申请属于高压绝缘特性实验技术领域,特别是涉及一种绝缘特性测试平台。在进行多应力下绝缘材料的绝缘特性测试实验时,材料实际加热温度与温控设定值有较大偏差,影响到了实验结果的准确性。本申请提供了一种绝缘特性测试平台温度控制系统,包括施压机构、加热机构及温度测量机构,其中温度测量机构采集所述绝缘材料表面温度,得到所述绝缘材料表面温度随压力变化情况,通过计算得到接触热阻随压力的变化的拟合公式,进而根据某一压力下的接触热阻计算出温度控制系统设定温度的修正量,对温控设定值进行修正,使得绝缘材料表面温度达到预计温度。解决了多应力下绝缘特性测试实验中,因压力导致的材料接触热阻变化对材料表面温度产生影响的问题。