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发明公开
一种用于快中子成像的探测器及其校正方法审中-实审

公开(公告)号：CN113189640A

公开(公告)日：2021-07-30

申请号：CN202110474710.8

申请日：2021-04-29

申请人： 华北电力大学 , 哈尔滨工业大学

发明人： 孙世峰 , 谷颖 , 李兴冀 , 张晓东

IPC分类号： G01T7/00 , G01T3/06

摘要： 本发明涉及一种用于快中子成像的探测器及其校正方法，该探测器从上至下依次包括：第一光电转换器件、第一耦合层、有机闪烁体阵列、第二耦合层和第二光电转换器件；所述有机闪烁体阵列为柱体结构；所述第一耦合层和第二耦合层用于将所述第一光电转换器件、有机闪烁体阵列和第二光电转换器件耦合在一起，所述第一光电转换器件、第二光电转换器件和有机闪烁体阵列的横截面积相同。本发明提供的探测器对快中子具有深度识别能力，解决了快中子探测中轴向位置定位不准确的问题，从而在伴随粒子成像系统中，提高系统的时间分辨率。