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公开(公告)号:CN104587567B
公开(公告)日:2018-01-05
申请号:CN201510008013.8
申请日:2015-01-05
申请人: 华南师范大学 , 深圳市国华光电科技有限公司 , 深圳市国华光电研究院
IPC分类号: A61M5/32 , A61M5/158 , H01L21/302 , H01L21/00 , B81C1/00
摘要: 本发明公开了一种微型空心硅针的制备方法,本发明通过光刻技术在单晶硅片上制作光刻胶的方形阵列图形,结合单晶硅各向异性蚀刻,以及金属辅助的各向同性蚀刻构建大面积、尺寸可控的微型空心硅针结构;化学湿法蚀刻使用浓度是1~80wt%的氢氧化钾溶液或者浓度是5~50wt%的四甲基氢氧化铵溶液,解决了干法蚀刻需要的高真空环境、蚀刻速度慢以及能耗高的缺点;金属辅助的各向同性蚀刻使用体积比是0.01~100:1的氢氟酸和双氧水混合溶液,加快了反应的速率,缩短了生产周期;同时,通过控制金颗粒的大小,可以控制针孔的尺寸,进而满足不同的用途。本发明方法步骤简单、成本低廉,并且适合大规模、大面积微型空心硅针的生产。
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公开(公告)号:CN104587567A
公开(公告)日:2015-05-06
申请号:CN201510008013.8
申请日:2015-01-05
申请人: 华南师范大学 , 深圳市国华光电科技有限公司 , 深圳市国华光电研究所
IPC分类号: A61M5/32 , A61M5/158 , H01L21/302 , H01L21/00 , B81C1/00
CPC分类号: A61M37/0015 , A61B17/205 , A61M2037/0046 , A61M2037/0053
摘要: 本发明公开了一种微型空心硅针的制备方法,本发明通过光刻技术在单晶硅片上制作光刻胶的方形阵列图形,结合单晶硅各向异性蚀刻,以及金属辅助的各向同性蚀刻构建大面积、尺寸可控的微型空心硅针结构;化学湿法蚀刻使用浓度是1~80wt%的氢氧化钾溶液或者浓度是5~50wt%的四甲基氢氧化铵溶液,解决了干法蚀刻需要的高真空环境、蚀刻速度慢以及能耗高的缺点;金属辅助的各向同性蚀刻使用体积比是0.01~100:1的氢氟酸和双氧水混合溶液,加快了反应的速率,缩短了生产周期;同时,通过控制金颗粒的大小,可以控制针孔的尺寸,进而满足不同的用途。本发明方法步骤简单、成本低廉,并且适合大规模、大面积微型空心硅针的生产。
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