-
-
公开(公告)号：CN1247727C
公开(公告)日：2006-03-29
申请号：CN200410026876.X
申请日：2004-04-16
Applicant: 华南理工大学
IPC: C09J133/06
Abstract: 本发明公开了一种水溶性丙烯酸酯印花台板胶，本发明还公开该胶粘剂的制备方法及其作为织物印花台板胶的应用。本发明的胶粘剂用水作主要溶剂，无刺激性的甲醇，安全环保；本发明的胶粘剂水溶性好，用户可以根据实际需要，用任何比例的水调整粘度；本发明的胶粘剂用作毛巾印花时，对毛巾的粘着力强，毛巾在上面不易滑动及脱离，使得印花套色准确，花纹线条清晰，而且在剥离毛巾时无残留物，台板易清洗，使用非常方便。
-
公开(公告)号：CN107392890B
公开(公告)日：2020-05-19
申请号：CN201710491626.0
申请日：2017-06-20
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种FPC铜线表面氧化缺陷检测方法及其检测系统，包括图像采集装置和图像处理单元，首先采集一定数目的FPC样本图像，提取出铜线表面氧化缺陷ROI，人工标注氧化程度等级，分别选取出各氧化程度等级的铜线表面氧化缺陷ROI，作为训练样本；提取出各训练样本的颜色特征；将各训练样本的颜色特征输入DAG‑SVMS模型训练到DAG‑SVMS分类器；采集待检测的FPC样本图像，提取出铜线表面氧化缺陷ROI，作为测试样本；提取出测试样本的颜色特征，将测试样本的颜色特征输入至DAG‑SVMS分类器中，通过分类器确定出测试样本所属的氧化程度等级。本发明能够实现对FPC铜线表面氧化缺陷和氧化程度的精确检测。
-
公开(公告)号：CN109406527A
公开(公告)日：2019-03-01
申请号：CN201811036012.4
申请日：2018-09-06
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统及方法，系统包括金相显微镜成像平台、载物台、工控机；所述金相显微成像平台由显微放大装置、同轴光源和工业相机组成；载物台包括X、Y轴编码器和光栅尺、电机箱；工控机用于控制电动载物台位移和实现精密缺陷检测算法。方法包括：(1)对金相显微镜平台相机进行标定；(2)定位到模具中第一个摄像模组；(3)采用“Z”字型方法，依次采集微型摄像模组图像；(4)采用图像处理算法检测微型模组镜头精细外观缺陷；(5)反馈镜头存在缺陷的摄像模组与缺陷类型。本发明能够实现摄像模组外观微米级缺陷的精密检测，提高检测精度与自动化程度，为产品质量提供保证。
-
公开(公告)号：CN109191433A
公开(公告)日：2019-01-11
申请号：CN201810858023.4
申请日：2018-07-31
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开柔性IC基板覆铜表面粗糙度Ra的显微成像检测方法，该方法采用柔性IC基板显微成像系统及铜箔表面粗糙度Ra检测分析系统。其中，铜箔表面粗糙度Ra检测分析包括建立训练样本库、分割铜箔表面、提取图像特征、训练神经网络、计算铜箔表面粗糙度Ra模块。本发明利用神经网络建立图像纹理特征与铜箔表面粗糙度的关系，输入待检测的铜箔表面纹理特征参数，从而计算得到铜箔表面粗糙度Ra。本发明方法为非接触式检测方法，避免对铜箔表面的损伤，解决了柔性IC基板覆铜表面粗糙度Ra的快速检测难题。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109406527B
公开(公告)日：2021-03-30
申请号：CN201811036012.4
申请日：2018-09-06
Applicant: 华南理工大学
IPC: G01N21/88
Abstract: 本发明公开了一种微型摄像模组镜头精细外观缺陷检测系统及方法，系统包括金相显微镜成像平台、载物台、工控机；所述金相显微成像平台由显微放大装置、同轴光源和工业相机组成；载物台包括X、Y轴编码器和光栅尺、电机箱；工控机用于控制电动载物台位移和实现精密缺陷检测算法。方法包括：(1)对金相显微镜平台相机进行标定；(2)定位到模具中第一个摄像模组；(3)采用“Z”字型方法，依次采集微型摄像模组图像；(4)采用图像处理算法检测微型模组镜头精细外观缺陷；(5)反馈镜头存在缺陷的摄像模组与缺陷类型。本发明能够实现摄像模组外观微米级缺陷的精密检测，提高检测精度与自动化程度，为产品质量提供保证。
-
公开(公告)号：CN107392890A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：CN201710491626.0
申请日：2017-06-20
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种FPC铜线表面氧化缺陷检测方法及其检测系统，包括图像采集装置和图像处理单元，首先采集一定数目的FPC样本图像，提取出铜线表面氧化缺陷ROI，人工标注氧化程度等级，分别选取出各氧化程度等级的铜线表面氧化缺陷ROI，作为训练样本；提取出各训练样本的颜色特征；将各训练样本的颜色特征输入DAG-SVMS模型训练到DAG-SVMS分类器；采集待检测的FPC样本图像，提取出铜线表面氧化缺陷ROI，作为测试样本；提取出测试样本的颜色特征，将测试样本的颜色特征输入至DAG-SVMS分类器中，通过分类器确定出测试样本所属的氧化程度等级。本发明能够实现对FPC铜线表面氧化缺陷和氧化程度的精确检测。
-
公开(公告)号：CN109978843B
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201910196050.4
申请日：2019-03-15
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种晶圆掺杂物的图像分割方法、系统、计算机设备及存储介质，所述方法包括：获取晶圆图像；构建区域型变分水平集模型；将晶圆图像输入区域型变分水平集模型，利用区域型变分水平集模型的总体能量泛函对晶圆图像进行分割，输出得到晶圆掺杂物的图像；所述系统包括获取模块、构建模块和分割模块。本发明通过将受噪音影响的晶圆图像输入构建的区域型变分水平集模型，利用区域型变分水平集模型的总体能量泛函对该晶圆图像进行分割，可以从该晶圆图像中准确分割出晶圆掺杂物，并且有利于提高对比度低的图像分割精度。
-
公开(公告)号：CN110358743A
公开(公告)日：2019-10-22
申请号：CN201910474705.X
申请日：2019-06-03
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种单加氧酶DszC突变体，该单加氧酶DszC突变体对4S途径终产物HBP反馈抑制脱敏，该单加氧酶DszC突变体是将来源于Rhodococcuserythropolis IGTS8的DszC的第101位丙氨酸突变为赖氨酸，第327位色氨酸突变为半胱氨酸，氨基酸序列如SEQ NO:4所示。本发明还提供制备该单加氧酶DszC突变体的方法及该单加氧酶DszC突变体在制备高校脱硫剂中的应用。本发明的技术方案通过获得在HBP抑制下酶活性最高的DszC酶突变体AKWC，能够对4S途径终产物HBP反馈抑制脱敏，显著地脱硫效率。
-
公开(公告)号：CN109615606A
公开(公告)日：2019-04-12
申请号：CN201811328664.5
申请日：2018-11-09
Applicant: 华南理工大学
Abstract: 本发明公开了一种柔性IC基板点线面缺陷的快速分类方法，包括，根据点线面缺陷图像检测步骤，得到缺陷检测结果；采用点线面智能分类步骤，对缺陷检测结果进行分类，得到分类结果。本发明解决了柔性IC基板点线面缺陷快速分类难题，为生产过程品质监控提供科学依据。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
13
records
(took 0.022 seconds)
