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公开(公告)号:CN103094434B
公开(公告)日:2015-11-18
申请号:CN201210492605.8
申请日:2012-11-27
Applicant: 南京大学
Abstract: ICP刻蚀GaN基多量子阱制备纳米阵列图形的方法,包括以下步骤:取一衬底,衬底的材料为硅、蓝宝石或氮化镓;在衬底依次外延生长GaN缓冲层,n型GaN层、InGaN/GaN量子阱层和P型GaN,形成初步的GaN基片;量子阱层整个厚度约50nm-200nm,周期数为2-10;在GaN基片上采用PVD进行蒸镀金属层;对蒸镀生长金属层的基片进行高温退火;利用ICP刻蚀工艺,刻蚀GaN基片直至n型GaN层或部分n型GaN层;形成InGaN/GaN纳米柱。
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公开(公告)号:CN103094434A
公开(公告)日:2013-05-08
申请号:CN201210492605.8
申请日:2012-11-27
Applicant: 南京大学
Abstract: ICP刻蚀GaN基多量子阱制备纳米阵列图形的方法,包括以下步骤:取一衬底,衬底的材料为硅、蓝宝石或氮化镓;在衬底依次外延生长GaN缓冲层,n型GaN层、InGaN/GaN量子阱层和P型GaN,形成初步的GaN基片;量子阱层整个厚度约50nm-200nm,周期数为2-10;在GaN基片上采用PVD进行蒸镀金属层;对蒸镀生长金属层的基片进行高温退火;利用ICP刻蚀工艺,刻蚀GaN基片直至n型GaN层或部分n型GaN层;形成InGaN/GaN纳米柱。
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