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公开(公告)号:CN109918857B
公开(公告)日:2021-05-28
申请号:CN201910316477.3
申请日:2019-04-19
Applicant: 南京大学
IPC: G06F30/3308
Abstract: 本发明公开了一种GaN HEMT器件适用的高频动态损耗的非线性分段时序模型建立方法。根据器件开关过程中不同时段电学参数状态,具体分为开通、关断、开启变换和关断变换四个阶段计算损耗。建模过程中,考虑了器件特有的高频工作下动态阻抗增大的问题,并通过搭建电路,实现器件高频工作时影响动态导通阻抗变化的参数准确提取;建模过程中,本发明采用栅电荷替代器件输出电容直接计算损耗的方法,避免了电容容值随电压变化造成的复杂、不精确计算。此外,发明首次通过在器件外部的漏极和源极之间并联外部电容,来比较器件漏极电流与实际沟道电流的差异,分析差异产生的具体来源和对开关损耗的真实影响,以此实现了模型的损耗计算的修正。
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公开(公告)号:CN116054801A
公开(公告)日:2023-05-02
申请号:CN202211722412.7
申请日:2022-12-30
Applicant: 南京大学
IPC: H03K17/687 , H03K7/08
Abstract: 本发明公开了一种新一代GaN功率器件的有源栅极驱动电路,该电路在栅极驱动回路中引入一个悬浮式脉冲电路,将传统的电压式驱动转变成电流式驱动,从而消除栅极路径中寄生电感的影响。同时,采用两段式栅极驱动电压,在提高栅压的同时保证器件的工作可靠性。另外,提升器件在关断时的电压,降低器件反向导通压降。最终,这种新型栅极驱动方案能够将GaN功率器件的工作频率提升至1MHz以上,并提高器件的高频工作效率超10%。
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公开(公告)号:CN109918857A
公开(公告)日:2019-06-21
申请号:CN201910316477.3
申请日:2019-04-19
Applicant: 南京大学
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种GaN HEMT器件适用的高频动态损耗的非线性分段时序模型建立方法。根据器件开关过程中不同时段电学参数状态,具体分为开通、关断、开启变换和关断变换四个阶段计算损耗。建模过程中,考虑了器件特有的高频工作下动态阻抗增大的问题,并通过搭建电路,实现器件高频工作时影响动态导通阻抗变化的参数准确提取;建模过程中,本发明采用栅电荷替代器件输出电容直接计算损耗的方法,避免了电容容值随电压变化造成的复杂、不精确计算。此外,发明首次通过在器件外部的漏极和源极之间并联外部电容,来比较器件漏极电流与实际沟道电流的差异,分析差异产生的具体来源和对开关损耗的真实影响,以此实现了模型的损耗计算的修正。
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