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公开(公告)号:CN112456434B
公开(公告)日:2022-12-09
申请号:CN202011226273.X
申请日:2020-11-05
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于悬空微桥工艺的太赫兹探测器的制备方法,在Si和SiO2双层衬底上进行磁控溅射,生长Nb5N6热敏薄膜;在Nb5N6薄膜上旋涂光刻胶,通过深紫外曝光的方式绘制天线图形,磁控生长Au薄膜后,剥离出电极;在Nb5N6薄膜上旋涂光刻胶,通过深紫外曝光的方式绘制微桥图形,通过反应离子刻蚀法刻蚀多余的Nb5N6,形成Nb5N6薄膜微桥;在衬底表面旋涂AZ4620光刻胶,通过紫外光刻的方式在微桥两侧形成窗口,通过湿法刻刻蚀掉窗口中的SiO2,通过反应离子分步刻蚀法,先刻蚀掉窗口的部分Si,再横向刻蚀微桥下方,形成空气腔。本发明提高了工艺的稳定性和太赫兹阵列探测器的良品率。
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公开(公告)号:CN112456434A
公开(公告)日:2021-03-09
申请号:CN202011226273.X
申请日:2020-11-05
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种基于悬空微桥工艺的太赫兹探测器的制备方法,在Si和SiO2双层衬底上进行磁控溅射,生长Nb5N6热敏薄膜;在Nb5N6薄膜上旋涂光刻胶,通过深紫外曝光的方式绘制天线图形,磁控生长Au薄膜后,剥离出电极;在Nb5N6薄膜上旋涂光刻胶,通过深紫外曝光的方式绘制微桥图形,通过反应离子刻蚀法刻蚀多余的Nb5N6,形成Nb5N6薄膜微桥;在衬底表面旋涂AZ4620光刻胶,通过紫外光刻的方式在微桥两侧形成窗口,通过湿法刻刻蚀掉窗口中的SiO2,通过反应离子分步刻蚀法,先刻蚀掉窗口的部分Si,再横向刻蚀微桥下方,形成空气腔。本发明提高了工艺的稳定性和太赫兹阵列探测器的良品率。
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