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公开(公告)号:CN102539738B
公开(公告)日:2014-05-21
申请号:CN201110419608.4
申请日:2011-12-15
Applicant: 南京大学
IPC: G01N33/531
Abstract: 本发明公开了一种适配体修饰的纳米银,它以直径为10~30nm的纳米银球为内核,银球外表面键合有适配体链和寡核苷酸链。本发明还公开了上述适配体修饰的纳米银的制备方法、包含该适配体修饰的纳米银的试剂盒、及该适配体修饰的纳米银在制备检测IgE的试剂中的应用。利用本发明的纳米银材料进行IgE的检测,灵敏度高,检测时间短(大约2-3h),操作简单易行,检测结果可视化,无需特殊昂贵的检测仪器,目视即可达到孔内半定量检测。成本低廉,可实现大批量检测,适于推广使用。
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公开(公告)号:CN102830103B
公开(公告)日:2014-05-21
申请号:CN201210302369.9
申请日:2012-08-23
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种荧光分子修饰的纳米银探针。纳米银探针以直径为10~30nm的纳米银球为内核,银球外表面键合有荧光分子链和适配体链。本发明还公开了包含上述探针的试剂盒与在检测人IgE中的应用。本发明的纳米银探针耦合荧光增强液的方法能大大提高荧光检测的灵敏度,检测人IgE的线性范围宽从0.5ng/ml至10μg/ml,检测限低,特异性好。此种纳米银探针的合成及修饰方法成熟,荧光增强液廉价易得,两者的联合可以使检测人IgE的灵敏度大大提高。此种信号放大的方法为蛋白质标志物的荧光分析检测提供了一种极好的方法。
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公开(公告)号:CN102539738A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110419608.4
申请日:2011-12-15
Applicant: 南京大学
IPC: G01N33/531
Abstract: 本发明公开了一种适配体修饰的纳米银,它以直径为10~30nm的纳米银球为内核,银球外表面键合有适配体链和寡核苷酸链。本发明还公开了上述适配体修饰的纳米银的制备方法、包含该适配体修饰的纳米银的试剂盒、及该适配体修饰的纳米银在制备检测IgE的试剂中的应用。利用本发明的纳米银材料进行IgE的检测,灵敏度高,检测时间短(大约2-3h),操作简单易行,检测结果可视化,无需特殊昂贵的检测仪器,目视即可达到孔内半定量检测。成本低廉,可实现大批量检测,适于推广使用。
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公开(公告)号:CN102796737B
公开(公告)日:2014-06-04
申请号:CN201210303189.2
申请日:2012-08-23
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种荧光分子修饰的纳米银探针。纳米银探针以直径为10~30nm的纳米银球为内核,银球外表面键合有荧光分子链和寡核苷酸链。本发明还公开了包含上述探针的试剂盒与在检测链霉亲和素中的应用。本发明的纳米银探针耦合荧光增强液的方法能大大提高荧光检测的灵敏度,不需要通过改变仪器的结构来提高检测性能,巧妙地提高了检测能力。此种探针的合成及修饰方法成熟,荧光增强液廉价易得,两者的联合使用可以得到惊人的结果。为蛋白质的荧光分析检测提供了一种极好的信号放大的方法。
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公开(公告)号:CN102796737A
公开(公告)日:2012-11-28
申请号:CN201210303189.2
申请日:2012-08-23
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种荧光分子修饰的纳米银探针。纳米银探针以直径为10~30nm的纳米银球为内核,银球外表面键合有荧光分子链和寡核苷酸链。本发明还公开了包含上述探针的试剂盒与在检测链霉亲和素中的应用。本发明的纳米银探针耦合荧光增强液的方法能大大提高荧光检测的灵敏度,不需要通过改变仪器的结构来提高检测性能,巧妙地提高了检测能力。此种探针的合成及修饰方法成熟,荧光增强液廉价易得,两者的联合使用可以得到惊人的结果。为蛋白质的荧光分析检测提供了一种极好的信号放大的方法。
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公开(公告)号:CN102830103A
公开(公告)日:2012-12-19
申请号:CN201210302369.9
申请日:2012-08-23
Applicant: 南京大学
Abstract: 本发明公开了一种荧光分子修饰的纳米银探针。纳米银探针以直径为10~30nm的纳米银球为内核,银球外表面键合有荧光分子链和适配体链。本发明还公开了包含上述探针的试剂盒与在检测人IgE中的应用。本发明的纳米银探针耦合荧光增强液的方法能大大提高荧光检测的灵敏度,检测人IgE的线性范围宽从0.5ng/ml至10μg/ml,检测限低,特异性好。此种纳米银探针的合成及修饰方法成熟,荧光增强液廉价易得,两者的联合可以使检测人IgE的灵敏度大大提高。此种信号放大的方法为蛋白质标志物的荧光分析检测提供了一种极好的方法。
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