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公开(公告)号:CN103295855A
公开(公告)日:2013-09-11
申请号:CN201310211048.2
申请日:2013-05-29
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明提供一种指数掺杂反射式GaAs光电阴极及其制备方法,该阴极自下而上由高质量的n型GaAs衬底、p型GaAs过渡层、p型Ga1-xAlxAs缓冲层、p型指数掺杂的GaAs发射层以及Cs/O激活层组成;其中,p型Ga1-xAlxAs缓冲层中x取值范围为0.5~0.8,厚度在500~1000nm,采用均匀掺杂方式;p型指数掺杂GaAs发射层为3个以上单元分层结构,掺杂浓度按内建电场减小型指数掺杂分布,从后界面处单元分层的1.0×1019cm-3下降到发射表面处单元分层的1.0×1018cm-3,总厚度为1000~3000nm。本发明中充当后界面电子壁垒的p型Ga1-xAlxAs缓冲层以及具有减小型内建电场的p型指数掺杂GaAs发射层,提高了在后界面处吸收近红外光产生电子的发射效率,使反射式GaAs光电阴极具有更高的近红外响应和积分灵敏度。