公开(公告)号：CN111964876A

公开(公告)日：2020-11-20

申请号：CN202010743163.4

申请日：2020-07-29

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 郭仁慧 ,  刘成兴 ,  宋萍萍 ,  廖之山 ,  许雅 ,  付航 ,  李建欣 ,  何勇

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于低秩近似和泰勒展开的非均匀快速傅里叶变换的平行平板光学均匀性的测量方法。首先使用菲索型波长移相干涉仪进行波长调谐移相干涉，分别获得放置待测平行平板和空腔下的干涉图；接着，对干涉图各点的干涉光强数据，进行基于低秩近似和泰勒展开的非均匀快速傅里叶变换，将其转化至频域进行频谱分析；最后，提取不同干涉腔长下对应的频率分量进行逆傅里叶变换获得干涉图的相位信息。将其恢复为波面信息后，计算得到待测平行平板的光学均匀性。本发明采用基于LRTE-NUFFT的频谱分析法，不需要采用过采样技术，可以大大节约计算机运行时的内存空间，快速计算非均匀干涉数据的频谱估计。

公开(公告)号：CN111964876B

公开(公告)日：2021-11-23

申请号：CN202010743163.4

申请日：2020-07-29

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 郭仁慧 ,  刘成兴 ,  宋萍萍 ,  廖之山 ,  许雅 ,  付航 ,  李建欣 ,  何勇

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于低秩近似和泰勒展开的非均匀快速傅里叶变换的平行平板光学均匀性的测量方法。首先使用菲索型波长移相干涉仪进行波长调谐移相干涉，分别获得放置待测平行平板和空腔下的干涉图；接着，对干涉图各点的干涉光强数据，进行基于低秩近似和泰勒展开的非均匀快速傅里叶变换，将其转化至频域进行频谱分析；最后，提取不同干涉腔长下对应的频率分量进行逆傅里叶变换获得干涉图的相位信息。将其恢复为波面信息后，计算得到待测平行平板的光学均匀性。本发明采用基于LRTE‑NUFFT的频谱分析法，不需要采用过采样技术，可以大大节约计算机运行时的内存空间，快速计算非均匀干涉数据的频谱估计。

公开(公告)号：CN111273453A

公开(公告)日：2020-06-12

申请号：CN202010024391.6

申请日：2020-01-10

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 李建欣 ,  尹智瑶 ,  郭仁慧 ,  宗毅 ,  段明亮 ,  钱佳敏 ,  宋萍萍 ,  毕书贤

IPC: G02B27/28

Abstract: 本发明公开了一种基于偏振复用的大视场成像装置及方法，装置包括覆盖目标视场的N个光通道，以及接收所有光通道出射光的同轴依次设置的成像物镜和偏振相机，所有光通道的出射光均为线偏振光。方法包括：来自目标的不同方向的光束分别入射至N个光通道，产生N束线偏振光；N束线偏振光同时入射至成像物镜，成像至偏振相机形成偏振复用的视场目标信息；从偏振复用的视场目标信息中采集N束线偏振光的强度，之后通过偏振解复用处理方法解算出N个光通道中线偏振光的强度。本发明通过多组平面反射镜与偏振相机相结合的形式进行目标偏振成像，能够实现超大视场角成像与目标信息采集，具有结构紧凑、复杂度低、成像视场角大、成像质量好等优点。

公开(公告)号：CN111273453B

公开(公告)日：2022-09-13

申请号：CN202010024391.6

申请日：2020-01-10

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 李建欣 ,  尹智瑶 ,  郭仁慧 ,  宗毅 ,  段明亮 ,  钱佳敏 ,  宋萍萍 ,  毕书贤

IPC: G02B27/28

Abstract: 本发明公开了一种基于偏振复用的大视场成像装置及方法，装置包括覆盖目标视场的N个光通道，以及接收所有光通道出射光的同轴依次设置的成像物镜和偏振相机，所有光通道的出射光均为线偏振光。方法包括：来自目标的不同方向的光束分别入射至N个光通道，产生N束线偏振光；N束线偏振光同时入射至成像物镜，成像至偏振相机形成偏振复用的视场目标信息；从偏振复用的视场目标信息中采集N束线偏振光的强度，之后通过偏振解复用处理方法解算出N个光通道中线偏振光的强度。本发明通过多组平面反射镜与偏振相机相结合的形式进行目标偏振成像，能够实现超大视场角成像与目标信息采集，具有结构紧凑、复杂度低、成像视场角大、成像质量好等优点。

公开(公告)号：CN111562088A

公开(公告)日：2020-08-21

申请号：CN202010368470.9

申请日：2020-04-30

Applicant: 南京理工大学

Inventor： 郭仁慧 ,  宋萍萍 ,  刘成兴 ,  许雅 ,  付航 ,  李建欣 ,  朱日宏 ,  陈磊 ,  何勇

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明公开了一种基于采样函数的平行平板光学参数的测量方法，首先在菲索型波长移相干涉仪中进行移相采样，分别得到放置待测平行平板和空腔下的干涉图；其次，根据实际目标要求得到移相算法的特征图并写出其特征多项式，然后利用Taylor公式展开得到算法的采样函数，将采集的干涉光强数据带入算法中计算；最后，利用不同的采样函数提取不同目标频率处的相位信息，将其恢复为波面信息后，计算得到待测平行平板的表面面形、光学厚度以及光学均匀性参数。本发明通过设计移相算法的采样函数，降低了由折射率色散以及波长调谐非线性导致的频移从而引起测量误差，所需干涉图少，操作简单，可用于大口径光学材料光学参数的高精度测量。