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公开(公告)号:CN115808294A
公开(公告)日:2023-03-17
申请号:CN202111081948.0
申请日:2021-09-15
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: G01M11/02
摘要: 本发明公开了一种基于相干接收的光器件时延测量方法及装置,其中,所述方法包括:将单波长光源输出的光信号分为探测路信号和本振路信号,其中,所述探测路信号经由电光调制模块调制后,送入待测光器件,所述本振路信号通过移频模块进行移频处理;将所述待测光器件输出的第一光信号与移频处理后的第二光信号合束后进行光电转换,生成携带时延信息和光相位噪声的光电流;从所述光电流中提取指定频率分量的相位信息,并消除所述相位信息中的共模相位噪声,以确定所述待测光器件的时延。本发明提供的技术方案,能够大幅度提升现有光器件时延测量系统的灵敏度,从而实现对插入损耗较大的光链路时延的高精度测量。
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公开(公告)号:CN113395110A
公开(公告)日:2021-09-14
申请号:CN202110658913.2
申请日:2021-06-15
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/079 , H04B10/524 , H04B10/54 , H04B10/548
摘要: 本发明公开了一种基于单频微波相推的光时延测量方法,用频率固定的单频微波信号对连续的单波长光信号进行强度调制,并使用电脉冲信号对所得到的强度调制光信号进行调制,在时域上形成分立的一组光脉冲;以所述光脉冲对待测光链路进行探测,并对所得到的携带了待测光链路时延信息的光脉冲串进行拍频处理;以所述电脉冲信号为参考触发,同时对拍频信号和所述单频微波信号进行模数转换,在数字域得到拍频信号和所述单频微波信号之间的缠绕相位差;基于电脉冲信号的时域信息进行相位解缠,进而依据相推法解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于单频微波相推的光时延测量装置。本发明可实现大范围、高精度、多点的光时延测量。
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公开(公告)号:CN113340571A
公开(公告)日:2021-09-03
申请号:CN202110596035.6
申请日:2021-05-29
申请人: 南京航空航天大学 , 苏州六幺四信息科技有限责任公司
IPC分类号: G01M11/02
摘要: 本发明公开了一种基于光矢量分析的光时延测量方法,用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制;然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号;提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。本发明还公开一种基于光矢量分析的光时延测量装置。相比现有技术,本发明同时具有超远的测量距离及较高的时域分辨力和时延测量精度。
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公开(公告)号:CN113872684B
公开(公告)日:2024-03-22
申请号:CN202111248271.5
申请日:2021-10-26
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/077
摘要: 本发明公开了一种光时延测量方法,用两路不同频率的微波信号对同一路窄线宽光载波进行多边带调制,所述两路微波信号的频率差与待测光时延的乘积小于等于二分之一;将所生成的调制光信号分为两路,一路经过待测光链路作为测量路,另一路不经过待测光链路作为参考路,对测量路和参考路光信号分别进行光电转换,得到两路具有多个稀疏波长簇且每一个波长簇中包含多个密集频率分量的多频微波信号;在数字域中提取出至少两个相邻稀疏波长簇中多个不同频率分量在两路多频微波信号中的相位差,并依据所述相位差使用相推法解算出待测光时延。本发明还公开了一种光时延测量装置。相比现有技术,本发明具有测量稳定度高,测量速度快,结构简单的优点。
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公开(公告)号:CN113340571B
公开(公告)日:2023-11-10
申请号:CN202110596035.6
申请日:2021-05-29
申请人: 南京航空航天大学 , 苏州六幺四信息科技有限责任公司
IPC分类号: G01M11/02
摘要: 本发明公开了一种基于光矢量分析的光时延测量方法,用微波扫频信号对频率随时间周期性变化的单频光载波进行强度调制;然后将所生成的调制光信号输入待测光链路并将反射回来的调制光信号转换为电信号;提取所述电信号的幅相信息并对其进行逆傅里叶变换,得到待测光链路的时域脉冲响应,并根据其中所包含的各反射点的时域脉冲响应计算出各反射点的光时延。本发明还公开一种基于光矢量分析的光时延测量装置。相比现有技术,本发明同时具有超远的测量距离及较高的时域分辨力和时延测量精度。
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公开(公告)号:CN114039657B
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202111303217.6
申请日:2021-11-05
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/077
摘要: 本发明公开了一种基于单次采样的光时延测量方法,用多个频率不同、相位锁定的微波信号同时对光载波进行强度调制;将所生成的调制光信号分为两路,一路经过待测光链路作为探测路,另一路不经过待测光链路作为参考路,对探测路和参考路光信号分别进行光电转换,得到探测电信号和参考电信号;在数字域鉴相,提取出与所述个微波信号同频的各频率分量在探测电信号和参考电信号中的缠绕相位差;将所得到的缠绕相位差通过多频拟合实现相位解缠,进而依据相位解缠得到的整周模糊计算出精确的光时延。本发明还公开了一种基于单次采样的光时延测量装置。相比现有技术,本发明提高了测量效率,并实现了对任意单次采样时间都可以实现解出整周模糊。
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公开(公告)号:CN113328797B
公开(公告)日:2022-04-22
申请号:CN202110658905.8
申请日:2021-06-15
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/079 , H04B10/524
摘要: 本发明公开了一种基于脉冲光调制的光时延测量方法,用单频微波信号对光脉冲信号进行强度调制,并以生成的光载微波信号对待测光链路进行探测;对探测光信号进行光电转换,并从转换后的电信号中提取出单频微波信号的同频分量;在光脉冲信号的脉宽时间内对单频微波信号以及单频微波信号的同频分量同时进行数字化采样,并在数字域得到两者之间的相位差;以光脉冲信号的发出时刻至采样时刻之间的时间作为待测光链路的光时延粗测值,并基于光时延粗测值解算出整周模糊度,进而解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于脉冲光调制的光时延测量装置。本发明具有测量速度快,结构简单,实现成本低,不易受环境影响的优点。
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公开(公告)号:CN113872684A
公开(公告)日:2021-12-31
申请号:CN202111248271.5
申请日:2021-10-26
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/077
摘要: 本发明公开了一种光时延测量方法,用两路不同频率的微波信号对同一路窄线宽光载波进行多边带调制,所述两路微波信号的频率差与待测光时延的乘积小于等于二分之一;将所生成的调制光信号分为两路,一路经过待测光链路作为测量路,另一路不经过待测光链路作为参考路,对测量路和参考路光信号分别进行光电转换,得到两路具有多个稀疏波长簇且每一个波长簇中包含多个密集频率分量的多频微波信号;在数字域中提取出至少两个相邻稀疏波长簇中多个不同频率分量在两路多频微波信号中的相位差,并依据所述相位差使用相推法解算出待测光时延。本发明还公开了一种光时延测量装置。相比现有技术,本发明具有测量稳定度高,测量速度快,结构简单的优点。
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公开(公告)号:CN115529076A
公开(公告)日:2022-12-27
申请号:CN202211224670.2
申请日:2022-10-09
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/071 , H04B10/073 , H04B10/516 , H04B10/524
摘要: 本发明公开了一种光矢量分析方法,用于对并联于光链路中的复数个待测器件的幅相频率响应同时进行测量;该方法包括以下步骤:用步进频微波信号对光脉冲信号进行单边带调制,生成步进频光脉冲信号;以其作为探测光信号输入光链路,并对返回光信号进行光电探测,得到携带复数个待测器件的频率响应信息的电信号;以步进频微波信号作为参考,通过加窗的方式从所述电信号中将各个待测器件的时域脉冲响应分别选出,并对每个待测器件在各个频率处的时域脉冲响应做短时傅里叶变换,得到各待测器件在频域上的幅相响应。本发明还公开了一种光矢量分析装置。本发明可对复数个器件的幅相响应同时进行测量,且可同时保证具有高时域分辨率和高频率分辨率。
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公开(公告)号:CN113395110B
公开(公告)日:2022-04-22
申请号:CN202110658913.2
申请日:2021-06-15
申请人: 南京航空航天大学
IPC分类号: H04B10/079 , H04B10/524 , H04B10/54 , H04B10/548
摘要: 本发明公开了一种基于单频微波相推的光时延测量方法,用频率固定的单频微波信号对连续的单波长光信号进行强度调制,并使用电脉冲信号对所得到的强度调制光信号进行调制,在时域上形成分立的一组光脉冲;以所述光脉冲对待测光链路进行探测,并对所得到的携带了待测光链路时延信息的光脉冲串进行拍频处理;以所述电脉冲信号为参考触发,同时对拍频信号和所述单频微波信号进行模数转换,在数字域得到拍频信号和所述单频微波信号之间的缠绕相位差;基于电脉冲信号的时域信息进行相位解缠,进而依据相推法解算得到待测光链路精确的光时延。本发明还公开了一种基于单频微波相推的光时延测量装置。本发明可实现大范围、高精度、多点的光时延测量。
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