一种涂层厚度的测量方法及测量系统

    公开(公告)号:CN107830810B

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201711285444.4

    申请日:2017-12-07

    Abstract: 本发明公开了一种涂层厚度的测量方法及测量系统,涉及涂层厚度测量技术领域,为解决现有的涂层厚度的测量方法适用范围比较狭窄的问题而发明。该涂层厚度的测量方法,包括以下步骤:S1、用第一脉冲激光对第一涂层进行轰击,获取所述第一脉冲激光轰击所述第一涂层时所发出的光声信号的频谱信息;S2、根据所述频谱信息确定所述第一涂层从开始被轰击到被击穿时所述第一脉冲激光的轰击次数;S3、根据与所述第一涂层的材料相同的涂层的厚度与所述第一脉冲激光的轰击次数之间的函数关系确定所述第一涂层的厚度。本发明可用于涂层的测量。

    一种材料表面硬度的测量方法及测量装置

    公开(公告)号:CN107907531A

    公开(公告)日:2018-04-13

    申请号:CN201711284327.6

    申请日:2017-12-07

    CPC classification number: G01N21/73

    Abstract: 本发明公开了一种材料表面硬度的测量方法及测量装置,涉及材料硬度测量技术领域,为解决现有的材料硬度测量不方便、测量时间慢以及测量精度受测量者的经验和技术水平制约的问题而发明。该材料表面硬度的测量方法,包括以下步骤:S1、用第一脉冲激光照射第一材料的表面,获取第一材料的激光等离子体光谱;S2、从激光等离子体光谱中获得第一分析元素的原子光谱,根据第一分析元素的原子光谱计算出激光等离子体温度,其中,第一分析元素为第一材料组成元素中的一种;S3、根据与第一材料相同的材料的表面硬度与激光等离子体温度之间的函数关系确定第一材料的表面硬度。本发明可用于材料表面硬度的测量。

    一种涂层厚度的测量方法及测量系统

    公开(公告)号:CN107830810A

    公开(公告)日:2018-03-23

    申请号:CN201711285444.4

    申请日:2017-12-07

    Abstract: 本发明公开了一种涂层厚度的测量方法及测量系统,涉及涂层厚度测量技术领域,为解决现有的涂层厚度的测量方法适用范围比较狭窄的问题而发明。该涂层厚度的测量方法,包括以下步骤:S1、用第一脉冲激光对第一涂层进行轰击,获取所述第一脉冲激光轰击所述第一涂层时所发出的光声信号的频谱信息;S2、根据所述频谱信息确定所述第一涂层从开始被轰击到被击穿时所述第一脉冲激光的轰击次数;S3、根据与所述第一涂层的材料相同的涂层的厚度与所述第一脉冲激光的轰击次数之间的函数关系确定所述第一涂层的厚度。本发明可用于涂层的测量。

    一种提高陶瓷烧结粉体分散性的方法及其设备

    公开(公告)号:CN119661238A

    公开(公告)日:2025-03-21

    申请号:CN202411886408.3

    申请日:2024-12-19

    Abstract: 本申请提供了一种提高陶瓷烧结粉体分散性的方法,包括:提供一内设有上电极、下电极、上绝缘介质板和下绝缘介质板的密封真空箱;将陶瓷烧结粉体铺设于所述下绝缘介质板;控制所述密封真空箱内气氛;开启所述交流电源,所述上电极和所述下电极在所述交流电源的作用下,于所述上绝缘介质板和所述下绝缘介质板之间产生介质阻挡放电等离子体;以及利用所述介质阻挡放电等离子体对所述陶瓷烧结粉体进行一定时间的处理。另外,本申请还提供了一种提高陶瓷烧结粉体分散性的设备。通过本申请前述方法和设备提升陶瓷烧结粉体分散性的步骤少,设备结构简单,大大提高了整体的生产效率,还有效降低陶瓷烧结制备成本。

    一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法

    公开(公告)号:CN105251737A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201510768064.0

    申请日:2015-11-11

    CPC classification number: B08B7/0042 B08B13/00

    Abstract: 一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法,包括以下步骤:(1)确定绝缘子的尺寸、形状和RTV涂层厚度、使用时间、以及RTV材料组成;(2)根据步骤(1)确定的参数,确定激光输出的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值,其中所述清除功率密度阈值为能够将待清除的RTV涂层清除的最小功率密度,所述损伤功率密度阈值为所述待清除的RTV涂层覆盖的绝缘子表面被激光辐射时能够承受的最大功率密度,超出该最大功率密度将损伤绝缘子表面;(3)按照步骤(2)确定的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值,调节激光器的功率设置,输出激光对绝缘子表面进行扫描。该方法可在不损坏绝缘子表面的前提下,高效便捷地清除绝缘子表面的老化RTV涂料。

    介电梯度材料及其应用
    10.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110265176B

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN201910515386.2

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 一种介电梯度材料,包括基体材料及填料颗粒,所述填料颗粒分散于基体材料中,至少一种填料颗粒的介电常数大于40,其中,介电梯度材料包括第一区域、第二区域以及位于第一区域及第二区域之间的第三区域;填料颗粒在所述第一区域中朝向第二区域呈链状排列,填料颗粒在第二区域中呈无序分布,填料颗粒在第三区域中呈有序到无序的过渡分布。本发明还提供一种所述介电梯度材料的应用。本发明所提供的介电梯度材料中的填料颗粒在第一区域呈链状排列,在第二区域呈无序分布,在第三区域呈有序到无序的过渡状态,从而构建介电常数具有梯度的介电梯度材料;所述介电梯度材料具有梯度范围大、应用范围广以及性能优越等特点。

Patent Agency Ranking