一种涂层厚度的测量方法及测量系统

    公开(公告)号:CN107830810B

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201711285444.4

    申请日:2017-12-07

    Abstract: 本发明公开了一种涂层厚度的测量方法及测量系统,涉及涂层厚度测量技术领域,为解决现有的涂层厚度的测量方法适用范围比较狭窄的问题而发明。该涂层厚度的测量方法,包括以下步骤:S1、用第一脉冲激光对第一涂层进行轰击,获取所述第一脉冲激光轰击所述第一涂层时所发出的光声信号的频谱信息;S2、根据所述频谱信息确定所述第一涂层从开始被轰击到被击穿时所述第一脉冲激光的轰击次数;S3、根据与所述第一涂层的材料相同的涂层的厚度与所述第一脉冲激光的轰击次数之间的函数关系确定所述第一涂层的厚度。本发明可用于涂层的测量。

    一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法

    公开(公告)号:CN105251737A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201510768064.0

    申请日:2015-11-11

    CPC classification number: B08B7/0042 B08B13/00

    Abstract: 一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法,包括以下步骤:(1)确定绝缘子的尺寸、形状和RTV涂层厚度、使用时间、以及RTV材料组成;(2)根据步骤(1)确定的参数,确定激光输出的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值,其中所述清除功率密度阈值为能够将待清除的RTV涂层清除的最小功率密度,所述损伤功率密度阈值为所述待清除的RTV涂层覆盖的绝缘子表面被激光辐射时能够承受的最大功率密度,超出该最大功率密度将损伤绝缘子表面;(3)按照步骤(2)确定的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值,调节激光器的功率设置,输出激光对绝缘子表面进行扫描。该方法可在不损坏绝缘子表面的前提下,高效便捷地清除绝缘子表面的老化RTV涂料。

    介电梯度材料及其应用
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110265176B

    公开(公告)日:2021-01-12

    申请号:CN201910515386.2

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 一种介电梯度材料,包括基体材料及填料颗粒,所述填料颗粒分散于基体材料中,至少一种填料颗粒的介电常数大于40,其中,介电梯度材料包括第一区域、第二区域以及位于第一区域及第二区域之间的第三区域;填料颗粒在所述第一区域中朝向第二区域呈链状排列,填料颗粒在第二区域中呈无序分布,填料颗粒在第三区域中呈有序到无序的过渡分布。本发明还提供一种所述介电梯度材料的应用。本发明所提供的介电梯度材料中的填料颗粒在第一区域呈链状排列,在第二区域呈无序分布,在第三区域呈有序到无序的过渡状态,从而构建介电常数具有梯度的介电梯度材料;所述介电梯度材料具有梯度范围大、应用范围广以及性能优越等特点。

    陶瓷烧结装置及陶瓷烧结方法

    公开(公告)号:CN110425877A

    公开(公告)日:2019-11-08

    申请号:CN201910724306.4

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种的陶瓷烧结装置,用于烧结陶瓷生坯,所述陶瓷烧结装置包括箱体、电极、阻挡介质及固定支架,所述电极及所述阻挡介质通过所述固定支架设置于所述箱体中,所述电极包括第一电极与第二电极,所述第一电极与所述第二电极相距设置,所述阻挡介质设置于所述第一电极及所述第二电极之间,所述阻挡介质与所述第一电极和/或所述第二电极相距设置,所述固定支架还用于将所述陶瓷生坯固定于所述第一电极及所述第二电极之间,并使所述陶瓷生坯与所述阻挡介质间隔或相距设置。本发明还提供一种利用陶瓷烧结装置的烧结陶瓷方法。

    提高电场辅助烧结能力的制备方法

    公开(公告)号:CN110395996A

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201910724308.3

    申请日:2019-08-07

    Abstract: 一种提高电场辅助烧结能力的制备方法,包括以下步骤:提供一陶瓷生坯;在所述陶瓷生坯的外表面设置绝缘层,所述绝缘层与所述陶瓷生坯贴合,形成一烧结前驱体;对所述烧结前驱体施加电场和加热处理,得到陶瓷。本发明实施例所提供的提高电场辅助烧结能力的制备方法,通过在陶瓷生坯的表面设置绝缘层,可抑制沿面放电的产生,增加了施加于陶瓷生坯上的电场产生的电场强度,增加了陶瓷生坯产生沿面放电的阈值;所述制备方法能对各种尺寸的陶瓷生坯进行电场辅助烧结;且所述制备方法工艺流程简单。

    介电梯度材料的制备方法及电子元器件的灌封方法

    公开(公告)号:CN110253801A

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201910515375.4

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 一种介电梯度材料的制备方法,包括以下步骤:混合无机颗粒及液态有机物,得到一悬浊液,所述无机颗粒至少包含一种介电常数大于40的磁性材料;对所述悬浊液施加磁场,在所述磁场的作用下,部分所述无机颗粒受到的磁场力大于所述部分无机颗粒在所述悬浊液中受到的粘滞阻力,以使所述部分无机颗粒沿磁场方向呈链状排列;以及对施加所述磁场后的所述悬浊液进行固化处理,使所述悬浊液固化,得到所述介电梯度材料。本发明还提供一种电子元器件的灌封方法。本发明提供的制备方法,通过对悬浊液原位施加磁场,使悬浊液中的无机颗粒沿着磁场的方向呈链状排列,制备方法简单、可控且节省成本。

    一种基于激光诱导击穿光谱技术的表面粗糙度测量方法

    公开(公告)号:CN109000597A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201810898087.7

    申请日:2018-08-08

    CPC classification number: G01B11/306

    Abstract: 一种基于激光诱导击穿光谱技术的复合材料表面粗糙度测量方法,包括:S1、准备材料相同或相近但表面粗糙度不同的复合材料样品,并得到各样品的表面粗糙度;S2、使用激光诱导击穿光谱方法,用脉冲激光光束照射各复合材料样品的表面,获得等离子体特征光谱数据;S3、建立等离子体特征光谱数据与对应粗糙度的定标关系;S4、使用激光诱导击穿光谱方法,用脉冲激光光束照射待测复合材料的表面,获得对等离子体特征光谱数据;S5、根据S4得到的等离子体特征光谱数据,利用步骤S3得到的定标关系,确定待测复合材料的表面粗糙度。利用本方法可以对复合绝缘材料进行远程、带电的现场测试,快速获得精确的复合材料表面粗糙度。

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