公开(公告)号：CN106093080A

公开(公告)日：2016-11-09

申请号：CN201610024783.6

申请日：2016-01-14

申请人： 南昌航空大学

发明人： 高鸿波 ,  邬冠华 ,  张士晶 ,  吴伟 ,  敖波 ,  吴玉俊 ,  向奇 ,  李万立 ,  徐琨

IPC分类号： G01N23/04 ,  G01T1/16 ,  G01T1/20

CPC分类号： G01N23/04 ,  G01T1/16 ,  G01T1/2006

摘要： 本发明公开了一种基于数字射线成像技术探测器响应曲线的金属合金材料散射比测量方法。其测量方法为：首先利用剂量仪和数字射线探测器来获取数字探测器对X射线的响应特性曲线，然后分别在宽束和窄束两种条件下，将待测金属材料阶梯试块放在X射线透照场中，选取一系列不同的管电压和曝光量进行单壁垂直透照，从获取阶梯试块数字图像上读出宽束和窄束条件下各阶梯的灰度值，利用数字探测器响应特性曲线找出各灰度所对应的曝光量，进而计算出不同电压下金属合金材料对应的散射比。本发明的优点是：与传统的基于胶片的射线照相技术的测量方法相比，简单，高效，可操作性强，重复性好，可以实现对大多数金属合金材料的射线散射比测量。