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公开(公告)号：CN218974503U
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202222876499.5
申请日：2022-10-31
Applicant: 南瑞联研半导体有限责任公司
Abstract: 本实用新型公开了一种便于更换的IGBT模块测试装置，属于IGBT模块检测技术领域，包括基座，所述基座上设有夹持模组、定位板和探针板；所述定位板上开设有多个第一通孔和第二通孔，所述基座上固定连接有多个导柱，所述定位板外边缘处布设有与导柱数量一致的第三通孔，所述导柱通过第三通孔与定位板连接；所述探针板上设有多个探针，所述IGBT模块上的端子穿过第一通孔和第二通孔与探针接触进行电性能测试；所述探针底部连接有导线，所述探针板上的探针穿过基座通过导线电性连接于基座的插头；所述插头与外置电源连接；当遇到不同种类的IGBT模块进行电性能测试时，只需更换与待测IGBT模块型号相同的定位板和探针板即可，进一步增强了测试装置的适用性能。
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