微机械或纳米机械颗粒检测设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109994364A

    公开(公告)日:2019-07-09

    申请号:CN201910003107.4

    申请日:2019-01-02

    IPC分类号: H01J49/04 H01J49/26

    摘要: 公开了微机械或纳米机械颗粒检测设备。颗粒检测设备包括:支撑件;用于接收颗粒的平台(4);四个梁(12.1,12.2,12.3,12.4),所述四个梁将平台(4)悬挂在支撑件(2)上,使得平台(4)能够振动;用于使所述平台(4)以共振频率振动的装置(8);用于检测平台(4)在位移方向上的位移的检测装置(10)。每个梁(12.1,12.2,12.3,12.4)具有长度l、宽度L和厚度e,并且平台(4)具有在平台的位移方向上的尺寸,并且其中,在设备具有平面外模式时l≥10×L,并且,每个梁在平台(4)的位移方向上的尺寸比平台(4)在位移方向上的尺寸小至少10倍。

    用于驱动和/或检测机械元件的运动的光机械器件

    公开(公告)号:CN104579224B

    公开(公告)日:2019-03-01

    申请号:CN201410568859.2

    申请日:2014-10-22

    IPC分类号: H03H9/02 B81B3/00

    摘要: 一种用于驱动和/或检测机械元件的运动的光机械器件。光机械器件包括支座(20),支座上具有:锚固到支座并且设计成相对于支座运动的至少一个机械元件(26),以及驱动和/或检测机械元件的运动或运动频率变化的器件,其中,驱动和/或检测装置的至少一部分在机械元件和支座之间被布置在机械元件的全体或一部分下方,其中,驱动和/或检测装置包括相对于支座固定的光学器件(21),光学器件包括在距机械元件确定距离处被布置在机械元件的全体或一部分下方的至少一个光波导(22),且至少一个光波导设计成传播至少一个与机械元件相互作用的具有给定波长的光波,且其中,光波导在距机械元件确定距离处,使得光波导的渐逝场与机械元件相互作用。