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公开(公告)号：CN107171745B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201710182465.7
申请日：2017-03-24
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： H04B17/20 , H04B17/391
摘要： 一种用于DP‑QPSK接收机的高速ADC的测试系统和方法，包括：仿真模块，用于产生DP‑QPSK数据流并进行耦合、移相后输出数据流；任意波形发生器，与仿真模块相连以接收数据流，输出高速模拟信号和时钟信号；高速ADC，与任意波形发生器相连，用于将高速模拟信号和时钟信号转换为高速数字信号；高速缓存电路，与高速ADC相连，用于将高速数字信号转换为低速数字信号；逻辑分析仪，与高速缓存电路相连，用于将低速数字信号发送至仿真模块；仿真模块接收低速数字信号进行信号恢复，将恢复的信号与原始信号进行比对实现测试。本发明的系统和方法单独对高速ADC进行测试，测试方法和步骤简单、成本低。
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公开(公告)号：CN107171718B
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN201710182502.4
申请日：2017-03-24
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： H04B10/077 , H04B10/61 , H04B17/20 , H04B17/391 , H04B17/336 , H04B1/00
摘要： 一种高速DAC测试系统和方法，包括：仿真模块，用于产生DP‑QPSK数据流，实现DP‑QPSK编码调制、解码和恢复，进行比对实现测试；任意波形发生器，用于接收DP‑QPSK数据流，输出时钟信号；码型发生器，用于接收DP‑QPSK数据流，输出低速数字信号及控制信号；高速缓存电路，用于将低速数字信号转换为高速数字信号；高速DAC，用于根据时钟信号将高速数字信号转换为高速模拟信号；高速示波器，用于将高速模拟信号发送至仿真模块。本发明的系统和方法单独对高速DAC进行测试，实现方式和方法简单、成本低。
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公开(公告)号：CN107171745A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710182465.7
申请日：2017-03-24
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： H04B17/20 , H04B17/391
CPC分类号： H04B17/20 , H04B17/3912
摘要： 一种用于DP‑QPSK接收机的高速ADC的测试系统和方法，包括：仿真模块，用于产生DP‑QPSK数据流并进行耦合、移相后输出数据流；任意波形发生器，与仿真模块相连以接收数据流，输出高速模拟信号和时钟信号；高速ADC，与任意波形发生器相连，用于将高速模拟信号和时钟信号转换为高速数字信号；高速缓存电路，与高速ADC相连，用于将高速数字信号转换为低速数字信号；逻辑分析仪，与高速缓存电路相连，用于将低速数字信号发送至仿真模块；仿真模块接收低速数字信号进行信号恢复，将恢复的信号与原始信号进行比对实现测试。本发明的系统和方法单独对高速ADC进行测试，测试方法和步骤简单、成本低。
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公开(公告)号：CN113721129A
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202110997570.2
申请日：2021-08-27
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
摘要： 本申请公开了光收发驱动芯片直流失调补偿电路的测试方法和相关设备，该方法包括：测试预处理步骤，获取测试指令，响应所述测试指令输出测试直流电压信号，所述测试直流电压值等于被测所述光收发驱动芯片的差分输入端共模电压值；采集步骤，将所述测试直流电压信号施加到所述被测光收发驱动芯片的差分输入端，采集所述被测光收发驱动芯片的差分输出两端电压差值；计算步骤，将所述差分输出两端电压差值与阈值进行比较，生成工作补偿数据，根据工作补偿数据，控制所述测试直流电压信号按照预设算法进行直流正偏或反偏变化，获取直流失调补偿电压范围。本发明测试方法实现光收发驱动芯片的直流失调补偿电路有效性和可靠性检测的技术目的。
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公开(公告)号：CN116899914B
公开(公告)日：2024-01-23
申请号：CN202311181228.0
申请日：2023-09-14
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： B07C5/34
摘要： 本发明公开一种EML激光器筛选方法，包括：步骤1、根据采用的EML激光器驱动芯片确定输入到EML激光器的最大交流电压Vmodmax，并设置VEA初始值；步骤2、将EML激光器的直流电流Ibias、TEC温度设置为生产所需的目标参数；步骤3、生成并扫描EML激光器的输出光功率与VEA值对应的曲线，找出在最大交流电压Vmodmax输入下的最大ER值和对应的VEA值；步骤4、如果最大ER值满足生产的指标要求，则EML激光器判定为良品进入后续工序，对应的VEA值作为后续工序的最佳值；如果最大ER值小于生产的指标要求，则EML激光器器件判定为不合格品。本发明不需要通过模块测试，在器件级就能够筛选掉消光比ER不达标的器件，同时找到最优的反向偏置电压VEA值给后续生产工序使用，提升生产效率和(56)对比文件CN 115021821 A,2022.09.06CN 115173946 A,2022.10.11CN 116633480 A,2023.08.22JP 7246591 B1,2023.03.27US 2002097941 A1,2002.07.25US 2005018732 A1,2005.01.27US 2005249509 A1,2005.11.10US 2006056755 A1,2006.03.16US 9967024 B1,2018.05.08WO 2020123944 A1,2020.06.18程鹏;孙莉萍;薛振峰.一种可调突发激光器的光路设计.光通信研究.2018,(第04期),全文.刘国利,王圩,许国阳,陈娓兮,张佰君,周帆,张静媛,汪孝杰,朱洪亮.选区外延制作单片集成单脊条形电吸收调制DFB激光器.中国激光.2001,(第04期),全文.《中国激光》2007年(第34卷,总第361～372期)总目次.中国激光.2007,(第12期),全文.刘国利,王圩,张佰君,许国阳,陈娓兮,叶小玲,张静媛,汪孝杰,朱洪亮.选择区域生长高质量InGaAsP多量子阱材料.半导体学报.2001,(第05期),全文.朱洪亮;梁松;李宝霞;赵玲娟;王宝军;边静;许晓冬;朱小宁;王圩.单片集成电吸收调制分布反馈激光器.光电子.激光.2011,(第01期),全文.
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公开(公告)号：CN113721129B
公开(公告)日：2023-11-17
申请号：CN202110997570.2
申请日：2021-08-27
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
摘要： 本申请公开了光收发驱动芯片直流失调补偿电路的测试方法和相关设备，该方法包括：测试预处理步骤，获取测试指令，响应所述测试指令输出测试直流电压信号，所述测试直流电压值等于被测所述光收发驱动芯片的差分输入端共模电压值；采集步骤，将所述测试直流电压信号施加到所述被测光收发驱动芯片的差分输入端，采集所述被测光收发驱动芯片的差分输出两端电压差值；计算步骤，将所述差分输出两端电压差值与阈值进行比较，生成工作补偿数据，根据工作补偿数据，控制所述测试直流电压信号按照预设算法进行直流正偏或反偏变化，获取直流失调补偿电压范围。本发明测试方法实现光收发驱动芯片的直流失调补偿电路有效性和可靠性检测的技术目的。
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公开(公告)号：CN116899914A
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202311181228.0
申请日：2023-09-14
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： B07C5/34
摘要： 本发明公开一种EML激光器筛选方法，包括：步骤1、根据采用的EML激光器驱动芯片确定输入到EML激光器的最大交流电压Vmodmax，并设置VEA初始值；步骤2、将EML激光器的直流电流Ibias、TEC温度设置为生产所需的目标参数；步骤3、生成并扫描EML激光器的输出光功率与VEA值对应的曲线，找出在最大交流电压Vmodmax输入下的最大ER值和对应的VEA值；步骤4、如果最大ER值满足生产的指标要求，则EML激光器判定为良品进入后续工序，对应的VEA值作为后续工序的最佳值；如果最大ER值小于生产的指标要求，则EML激光器器件判定为不合格品。本发明不需要通过模块测试，在器件级就能够筛选掉消光比ER不达标的器件，同时找到最优的反向偏置电压VEA值给后续生产工序使用，提升生产效率和良率。
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公开(公告)号：CN113702810A
公开(公告)日：2021-11-26
申请号：CN202111021623.3
申请日：2021-09-01
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： G01R31/28
摘要： 本申请公开了基于MCU的光收发驱动芯片功能测试方法和相关设备，方法包括：接收测试指令并解析，获取针对目标功能的测试指令；测试电信号输出步骤，响应所述测试指令，控制发出所述目标功能测试所需的对应的测试电信号；引脚转接步骤；将所述测试电信号转接到该目标功能测试匹配的引脚；分析步骤，将采集到的被测光收发驱动芯片输出的电信号进行基于所述目标功能测试的分析,针对多种芯片及测试场景采用模块化、可扩展、接口通用的测试方法，不同芯片不同功能的测试仅需转换模块及匹配管脚即可，整个功能测试的切换过程，无需重新连线大大提高了测试效率，且由于该测试方法对应得设备的高扩展性和强兼容性，进一步实现了测试低成本的技术目的。
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公开(公告)号：CN107171718A
公开(公告)日：2017-09-15
申请号：CN201710182502.4
申请日：2017-03-24
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： H04B10/077 , H04B10/61 , H04B17/20 , H04B17/391 , H04B17/336 , H04B1/00
CPC分类号： H04B10/0779 , H04B1/0039 , H04B10/613 , H04B17/20 , H04B17/336 , H04B17/391
摘要： 一种高速DAC测试系统和方法，包括：仿真模块，用于产生DP‑QPSK数据流，实现DP‑QPSK编码调制、解码和恢复，进行比对实现测试；任意波形发生器，用于接收DP‑QPSK数据流，输出时钟信号；码型发生器，用于接收DP‑QPSK数据流，输出低速数字信号及控制信号；高速缓存电路，用于将低速数字信号转换为高速数字信号；高速DAC，用于根据时钟信号将高速数字信号转换为高速模拟信号；高速示波器，用于将高速模拟信号发送至仿真模块。本发明的系统和方法单独对高速DAC进行测试，实现方式和方法简单、成本低。
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公开(公告)号：CN215378932U
公开(公告)日：2021-12-31
申请号：CN202121929035.5
申请日：2021-08-17
申请人： 厦门优迅高速芯片有限公司
IPC分类号： H04B10/40 , H04B10/077
摘要： 本实用新型公开了一种光收发驱动芯片电告警测试系统，包括上位机、误码仪、程控电衰减器、光收发驱动芯片和IIC通讯模块，所述误码仪至少包括一路模拟信号输出端口，并通过模拟信号输出端口和程控电衰减器的输入端电性连接，所述程控电衰减器至少包括一路可调输出端口，并通过可调输出端口和光收发驱动芯片的输入端电性连接，所述IIC通讯模块和光收发驱动芯片的数字通讯接口电性连接。本实用新型中，通过一次搭建测试环境，可实现光收发驱动芯片电告警功能繁复的测试需求，降低人力消耗以及测试设备的损耗。
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