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公开(公告)号：CN113418837A
公开(公告)日：2021-09-21
申请号：CN202110649593.4
申请日：2021-06-10
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
摘要： 本发明提供一种紫外LED封装胶质量的评估方法，包括如下步骤：A1，提供多组实验组，每组实验组均设置标有刻度尺的透明容器，在每组实验组的透明容器内倒入相同高度的透明胶，且多组实验组的透明容器内的透明胶均不相同；A2，待透明胶平稳后，往每组实验组的透明容器的透明胶表面放置相同的荧光粉颗粒；A3，同时加热多组实验组的透明胶；A4，记录同一实验组的荧光粉颗粒在相同温度下不同时间段的沉降位置，得到同一组实验组中的荧光粉颗粒的沉降速率；A5，对比不同实验组之间荧光粉颗粒的沉降速率，沉降速率越低代表采用这组实验组的透明胶进行制备的封装胶质量越好。实现快速评估和选择哪种透明胶最适合制备紫外LED的封装胶。
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公开(公告)号：CN113270528A
公开(公告)日：2021-08-17
申请号：CN202110544916.3
申请日：2021-05-19
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
摘要： 本发明属于紫外LED封装领域，涉及一种紫外固晶胶质量评估方法，包括：在厚度为0.5～1.5mm的散热基底上设置多组封胶筒，往封胶筒内注入等量的待测固晶胶，烘烤至固晶胶固化以形成固晶胶柱，分别测试每组固晶胶柱在常温以及加热条件下不同时段的透光率以及脱离散热基底的推力值，其中，加热条件下测定透光率以及脱离散热基底的推力值应在紫外灯照射以及提供5～10N恒定推力的条件下进行，之后根据固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减程度综合判断待测固晶胶的质量。采用本发明提供的方法对紫外固晶胶的质量进行评估，所得结果更为准确，极具工业应用前景。
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公开(公告)号：CN113484791A
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN202110639465.1
申请日：2021-06-08
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
IPC分类号： G01R31/44
摘要： 本发明公开了一种紫外灯珠老化单元及紫外灯珠老化方法，其中紫外灯珠老化单元涉及单紫外灯珠老化单元和多紫外灯珠老化单元，单紫外灯珠老化单元，包括一个框体、两个焊接电极和两个弹性电极，所述框体用于对所述紫外灯珠进行位置限定，所述焊接电极设置于所述框体的底部，两所述弹性电极的一端分别和两所述焊接电极固定电连接，另一端悬空，其中部形成一个凸起朝向所述框体内侧；当所述紫外灯珠放置于所述框体内时，所述框体的顶部内侧和所述紫外灯珠的顶面抵触，两所述弹性电极和分别所述紫外灯珠的两引脚电极抵触形成弹性连接。本发明实现了紫外灯珠的免焊接老化测试，降低紫外灯珠的老化成本。
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公开(公告)号：CN113358548A
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN202110664663.3
申请日：2021-06-16
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
摘要： 本发明提供一种紫外LED封装胶的质量评估方法，包括如下步骤：A1，将多种待测试的胶体分别注入容器内，并加热固化，形成多组测试组；A2，分别测试每组测试组的胶体的初始硬度值；A3，用紫外线照射测试组的胶体，并测试在紫外线照射下不同时间段时胶体的硬度值；A4，处理数据，得到每组测试组的胶体随时间的变化规律；A5，对每组测试组的胶体进行加热再冷却的循环测试；A6，观察每组测试组的胶体的开裂程度；A7，整理数据，开裂程度越小的胶体质量越好，开裂程度相当时，硬度变化越小的胶体的质量越好。能够更为快速、高效、准确的对测试胶体进行评估，从而挑选更适合紫外LED的封装。
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公开(公告)号：CN113270528B
公开(公告)日：2022-04-29
申请号：CN202110544916.3
申请日：2021-05-19
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
摘要： 本发明属于紫外LED封装领域，涉及一种紫外固晶胶质量评估方法，包括：在厚度为0.5～1.5mm的散热基底上设置多组封胶筒，往封胶筒内注入等量的待测固晶胶，烘烤至固晶胶固化以形成固晶胶柱，分别测试每组固晶胶柱在常温以及加热条件下不同时段的透光率以及脱离散热基底的推力值，其中，加热条件下测定透光率以及脱离散热基底的推力值应在紫外灯照射以及提供5～10N恒定推力的条件下进行，之后根据固晶胶柱在各时间段的透光率以及脱离散热基底推力值的衰减程度综合判断待测固晶胶的质量。采用本发明提供的方法对紫外固晶胶的质量进行评估，所得结果更为准确，极具工业应用前景。
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公开(公告)号：CN113218956A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202110520837.9
申请日：2021-05-13
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
摘要： 本发明提供一种LED灯珠的焊线评估方法，包括如下步骤：A1，提供测试组，测试组包括封装支架、固晶于封装支架上的LED芯片、焊接在LED芯片与支架电极之间的金属焊线以及包覆LED芯片和金属焊线的封装胶层；其中，金属焊线的线弧至少包括常规线弧和测试线弧；定义常规线弧的金属焊线为常规焊线，测试线弧的金属焊线为测试焊线；A2，对测试组进行高低温循环测试；A3，在显微镜下观察测试组的封装胶层在对应常规焊线的位置和对应测试焊线的位置的开裂程度并进行对比；进而判定金属焊线的线弧的好坏。能够快速判断焊线线弧差异。
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公开(公告)号：CN216285637U
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202121278771.9
申请日：2021-06-08
申请人： 厦门多彩光电子科技有限公司
IPC分类号： G01R31/44
摘要： 本实用新型公开了一种单紫外灯珠老化单元和多紫外灯珠老化单元，其中的单紫外灯珠老化单元，包括一个框体、两个焊接电极和两个弹性电极，所述框体用于对所述紫外灯珠进行位置限定，所述焊接电极设置于所述框体的底部，两所述弹性电极的一端分别和两所述焊接电极固定电连接，另一端悬空，其中部形成一个凸起朝向所述框体内侧；当所述紫外灯珠放置于所述框体内时，所述框体的顶部内侧和所述紫外灯珠的顶面抵触，两所述弹性电极和分别所述紫外灯珠的两引脚电极抵触形成弹性连接。本实用新型实现了紫外灯珠的免焊接老化测试，降低紫外灯珠的老化成本。
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