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公开(公告)号：CN106353340A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610905045.2
申请日：2016-10-18
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: G01N21/952
CPC classification number: G01N21/952
Abstract: 本发明提出一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法，涉及表面缺陷检测技术领域，检测步骤如下：1)开启主光源照明，采集得到待检零件第一图像；2)保持第一光源开启状态并同时打开第二光源，采集得到待检零件第二图像；3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理，分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域；4)在通过步骤3)提取得到的棒状区域中对于通过步骤2)采集获得的第二图像进行图像处理，分析检测其表面质量。本发明能够克服棒状高反射率零件表面不均匀的反光造成的机器视觉检测障碍，算法简单，检测高效，可实现对棒状高反射率零件表面的多种不良缺陷的精确检测。
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公开(公告)号：CN106353340B
公开(公告)日：2019-07-16
申请号：CN201610905045.2
申请日：2016-10-18
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: G01N21/952
Abstract: 本发明提出一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法，涉及表面缺陷检测技术领域，检测步骤如下：1)开启主光源照明，采集得到待检零件第一图像；2)保持第一光源开启状态并同时打开第二光源，采集得到待检零件第二图像；3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理，分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域；4)在通过步骤3)提取得到的棒状区域中对于通过步骤2)采集获得的第二图像进行图像处理，分析检测其表面质量。本发明能够克服棒状高反射率零件表面不均匀的反光造成的机器视觉检测障碍，算法简单，检测高效，可实现对棒状高反射率零件表面的多种不良缺陷的精确检测。
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公开(公告)号：CN106323987A
公开(公告)日：2017-01-11
申请号：CN201610870870.3
申请日：2016-09-30
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
CPC classification number: G01N21/8806 , G01N21/95 , G01N2021/8816 , G01N2201/06153 , G01N2201/0631 , G01N2201/0634
Abstract: 本发明提出一种用于检测高反射表面缺陷的照明光源，涉及一种机器视觉用照明光源，包括环形照明腔和穹顶照明腔，所述穹顶照明腔设置于所述环形照明腔正上方，待检测目标放置在所述环形照明腔内，所述穹顶照明腔的腔顶部设有LED光源，所述穹顶照明腔的腔顶部及所述环形照明腔的侧壁均设有观察口，每个所述观察口外均设有半透半反镜，所述半透半反镜与漫射LED光源对应，所述漫射LED光源的光束通过所述半透半反镜反射进入所述观察口，所述LED光源和所述漫射LED光源均由多通道光源控制器控制。本发明可对任意形状的高反射表面形成均匀明亮照明，极大提高了高反射表面缺陷检测的精度和分辨率。
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公开(公告)号：CN206114547U
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：CN201621098098.X
申请日：2016-09-30
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本实用新型提出一种用于检测高反射表面缺陷的照明光源，涉及一种机器视觉用照明光源，包括环形照明腔和穹顶照明腔，所述穹顶照明腔设置于所述环形照明腔正上方，待检测目标放置在所述环形照明腔内，所述穹顶照明腔的腔顶部设有LED光源，所述穹顶照明腔的腔顶部及所述环形照明腔的侧壁均设有观察口，每个所述观察口外均设有半透半反镜，所述半透半反镜与漫射LED光源对应，所述漫射LED光源的光束通过所述半透半反镜反射进入所述观察口，所述LED光源和所述漫射LED光源均由多通道光源控制器控制。本实用新型可对任意形状的高反射表面形成均匀明亮照明，极大提高了高反射表面缺陷检测的精度和分辨率。
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