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公开(公告)号：CN114671241B
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202210491016.1
申请日：2022-05-07
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种移载设备，其用于移载物料，包括机架，进料线，出料线，转盘，第一抓取机构，通过第一夹爪和第二夹爪均可位于第二位置，从而均能够对对应的转盘上的工位进行工作；于第一状态或第二状态时，第二竖轴线与第三竖轴线的连线和第四竖轴线与第五竖轴线的连线平行，第二竖轴线与第五竖轴线的连线和第四竖轴线与第三竖轴线的连线平行；第五竖轴线与第六竖轴线的连线和第七竖轴线与第八竖轴线的连线平行，且第五竖轴线与第七竖轴线的连线和第六竖轴线与第八竖轴线的连线平行,从而保证第一夹爪和第二夹爪的呈现的形态不变化，提高工作效率。
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公开(公告)号：CN114839191A
公开(公告)日：2022-08-02
申请号：CN202210338894.X
申请日：2022-04-01
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种待测物载具，其包括基座和面盖，基座沿第一方向设有凸块和围绕凸块的真空槽，其还设有第一通道和第二通道，凸块设有用于承载待测物的承载面，第一通道供真空槽连通外接真空源，第二通道连通真空槽并开口于承载面；凸块和第二通道分别被配置为其在第一平面上的投影适于位于非检测区域内；真空槽被配置为第一检测区域适于位于其在第一平面上的投影内；第一通道被配置为其在第一平面上的投影位于待测物在第一平面上的投影外；面盖密封地盖设于真空槽上并与真空槽围合形成真空腔；真空槽和面盖于第一平面上投影与第一检测区域重合的部分被配置为适于供光线透射。防止面盖变形，防止待测物损坏。
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公开(公告)号：CN114769134A
公开(公告)日：2022-07-22
申请号：CN202210338893.5
申请日：2022-04-01
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: B07C5/00 , B07C5/02 , B07C5/36 , B07C5/38 , B65G43/00 , B65G47/52 , B65G47/74 , B65G47/82 , B65G47/90
Abstract: 本发明公开了一种移载设备及其控制方法，其中移载设备用于移载物料，包括机架、滑架、步进移载机构、上料机构；滑架停靠时，两个第二承载单元之一的第二料位位于对应停靠的第一承载单元的第一承载部前且第三料位位于对应停靠的第一承载单元的间隔中，两个第二承载单元另一的第二料位位于上料位置且第三料位位于第一检测位置；步进移载机构，其数量与第一承载单元数量相同且一一对应，并在滑架停靠于对应的第一承载单元时，进行移载；上料机构，其用于在滑架停靠时将物料置于位于上料位置处的第二料位上；使物料在运输时始终以适于检测的姿态运输，使每个节点均能进行物料检测、上料、输送等动作。
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公开(公告)号：CN114742759A
公开(公告)日：2022-07-12
申请号：CN202210224626.5
申请日：2022-03-07
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本申请公开了一种用于确认透明物体待测表面缺陷种类的方法，其包括从至少两个不同的工位获取透明物体待测表面的图像的步骤、针对特定表面缺陷，在所有上述工位获取的透明物体待测表面的图像中截取该表面缺陷所在位置的缺陷图像形成针对该表面缺陷的图像组的步骤和根据图像组中各缺陷图像判断表面缺陷种类的步骤。上述技术方案相比于只基于一个图像判断缺陷种类能够降低对表面缺陷种类的误分类率。进一步地，还能够通过由经标定表面缺陷种类的多个所述图像组的样本经监督学习算法获得的表面缺陷分类器，提高判断表面缺陷种类的成功率并实现自动化。
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公开(公告)号：CN114684594A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210339386.3
申请日：2022-04-01
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种移载机构和移载设备。其中移载机构包括基座、转动件、第一滑动件、第二滑动件、移载件、第一复位件和第二复位件；转动件包括第一凸轮和第二凸轮，通过转动件转动时，第一凸轮通过第一滑动件带动移载件沿第一方向运动，第二凸轮通过第二滑动件带动移载件沿第二方向运动。在第一复位件和第二复位件的作用下，从而使移载件在运动后复位至初始位置，通过上述动作的循环实现物料沿第二方向的移载。该移载机构移载速度快，运行稳定，结构简单，成本低，方便安装和维修，工作范围小，适于多个轻小物料的移载。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112964727A
公开(公告)日：2021-06-15
申请号：CN202110174946.X
申请日：2021-02-07
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Inventor： 王磊
Abstract: 本申请公开了表面缺陷显像装置和表面缺陷检测设备。表面缺陷显像装置包括光源和相机，光源设有垂直于待测物体运动方向的折边，相机的光轴与折边虚像垂直相交并与待测物体的第一表面交于第一点，过第一点且垂直于待测物体运动方向设有第一平面，过第一点和折边设有第二平面，光轴与第一平面的第一夹角等于第一点至折边的垂线与第一平面的第二夹角，且光源任何部分均不位于第一平面与第二平面之间的区域。表面缺陷检测设备中表面缺陷检测装置将相机连续拍摄的图像合成为合成图像，并在识别到合成图像中待测表面区域内灰度值变化超过阈值时判定待测表面存在缺陷。上述方案能在光源距离待测物体表面较近的情况下避免干扰反射光对调制效果的影响。
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公开(公告)号：CN106353340A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610905045.2
申请日：2016-10-18
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: G01N21/952
CPC classification number: G01N21/952
Abstract: 本发明提出一种棒状高反射率零件表面缺陷检测方法，涉及表面缺陷检测技术领域，检测步骤如下：1)开启主光源照明，采集得到待检零件第一图像；2)保持第一光源开启状态并同时打开第二光源，采集得到待检零件第二图像；3)对通过步骤1)采集得到的第一图像进行处理，分割提取出待检零件的棒状区域并确定检测区域；4)在通过步骤3)提取得到的棒状区域中对于通过步骤2)采集获得的第二图像进行图像处理，分析检测其表面质量。本发明能够克服棒状高反射率零件表面不均匀的反光造成的机器视觉检测障碍，算法简单，检测高效，可实现对棒状高反射率零件表面的多种不良缺陷的精确检测。
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公开(公告)号：CN114769134B
公开(公告)日：2025-02-11
申请号：CN202210338893.5
申请日：2022-04-01
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
IPC: B07C5/00 , B07C5/02 , B07C5/36 , B07C5/38 , B65G43/00 , B65G47/52 , B65G47/74 , B65G47/82 , B65G47/90
Abstract: 本发明公开了一种移载设备及其控制方法，其中移载设备用于移载物料，包括机架、滑架、步进移载机构、上料机构；滑架停靠时，两个第二承载单元之一的第二料位位于对应停靠的第一承载单元的第一承载部前且第三料位位于对应停靠的第一承载单元的间隔中，两个第二承载单元另一的第二料位位于上料位置且第三料位位于第一检测位置；步进移载机构，其数量与第一承载单元数量相同且一一对应，并在滑架停靠于对应的第一承载单元时，进行移载；上料机构，其用于在滑架停靠时将物料置于位于上料位置处的第二料位上；使物料在运输时始终以适于检测的姿态运输，使每个节点均能进行物料检测、上料、输送等动作。
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公开(公告)号：CN112986257B
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202110176803.2
申请日：2021-02-07
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Inventor： 王磊
Abstract: 本申请公开了表面裂缝和划痕显像装置及相关的检测设备，其中，显像装置用于显像沿第一方向运动的透明待测物体平坦的第一表面上的裂缝和划痕，其包括光源和相机，光源的发光部沿平行于第一表面且垂直于第一方向设有第一边，第一边以第一表面为平面反射镜形成第一边虚像；相机被配置为其光轴指向所述第一表面的部分与所述光源分设于第一平面的两侧，以使所述相机的视场为暗场；所述第一平面为平行于所述光轴且过所述第一边虚像的平面。检测设备还包括表面裂缝和划痕检测装置，其用于合成图像，并在识别到合成图像中灰度值超过阈值时判定第一表面存在裂缝或划痕。
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公开(公告)号：CN114671241A
公开(公告)日：2022-06-28
申请号：CN202210491016.1
申请日：2022-05-07
Applicant: 厦门威芯泰科技有限公司
Abstract: 本发明公开了一种移载设备，其用于移载物料，包括机架，进料线，出料线，转盘，第一抓取机构，通过第一夹爪和第二夹爪均可位于第二位置，从而均能够对对应的转盘上的工位进行工作；于第一状态或第二状态时，第二竖轴线与第三竖轴线的连线和第四竖轴线与第五竖轴线的连线平行，第二竖轴线与第五竖轴线的连线和第四竖轴线与第三竖轴线的连线平行；第五竖轴线与第六竖轴线的连线和第七竖轴线与第八竖轴线的连线平行，且第五竖轴线与第七竖轴线的连线和第六竖轴线与第八竖轴线的连线平行,从而保证第一夹爪和第二夹爪的呈现的形态不变化，提高工作效率。
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