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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101288000B
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：CN200680032797.7
申请日：2006-08-10
Applicant: 史密斯海曼有限公司 , 埃朗根-纽伦堡弗里德里希·亚历山大大学
CPC classification number: G01S13/887 , G01S13/02 , G01S13/90 , G01S2013/9088 , H01Q3/08
Abstract: 一种借助电磁波对检查对象进行成像的方法，尤其是用于对人员进行检查以发现可疑物品，其中用电磁波照射检查对象，所散射的波被接收，并根据合成孔径原理(SAR)被分析，以用于检查对象的图像显示。通过以下方式产生一个合成孔径，即从天线(1)发射出的波首先在空间上集合成束，其中较高波束的位置(5)在反射器(4)上沿着一个圆移动。
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公开(公告)号：CN101646956B
公开(公告)日：2012-05-30
申请号：CN200880005727.1
申请日：2008-02-13
Applicant: 史密斯海曼有限公司
CPC classification number: G01S13/90 , G01S7/03 , G01S13/887 , G01S2013/9088 , H01Q3/04
Abstract: 为了利用电磁波对检测对象进行成像、尤其是检查人员是否携带可疑物品，给出了具有下列特征的装置：发射电磁波、尤其是毫米波的天线(1)，对发射波进行三维聚焦的装置，以及在高聚焦点(5)对波进行适当操控的装置，使得该点(5)可作为用来进行SAR分析的虚拟运动天线，用于进行三维聚焦的装置包括可旋转安装的、聚焦或散焦的准光学元件，用于在高聚焦点(5)对波进行操控的装置包括反射器(4)。按照本发明，准光学元件(3)和反射器可围绕一个共同的旋转轴(8)以相同的角速度旋转。
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公开(公告)号：CN102803931A
公开(公告)日：2012-11-28
申请号：CN201080027037.3
申请日：2010-06-18
Applicant: 史密斯海曼有限公司
CPC classification number: G01V8/005 , G01S13/887 , G01S2013/9064 , H01Q3/46 , H01Q19/19
Abstract: 在一种用于借助于电磁毫米波检测被遮盖物体的方法中，以毫米波照射检查对象并且分析被检查对象反射的毫米波，毫米波在照射检查对象时被聚焦到检查对象的不同深度层(3，4)。
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公开(公告)号：CN101646956A
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200880005727.1
申请日：2008-02-13
Applicant: 史密斯海曼有限公司
CPC classification number: G01S13/90 , G01S7/03 , G01S13/887 , G01S2013/9088 , H01Q3/04
Abstract: 为了利用电磁波对检测对象进行成像、尤其是检查人员是否携带可疑物品，给出了具有下列特征的装置：-发射电磁波、尤其是毫米波的天线(1)，对发射波进行三维聚焦的装置，以及在高聚焦点(5)对波进行适当操控的装置，使得该点(5)可作为用来进行SAR分析的虚拟运动天线——用于进行三维聚焦的装置包括可旋转安装的、聚焦或散焦的准光学元件——用于在高聚焦点(5)对波进行操控的装置包括反射器(4)。按照本发明，准光学元件(3)和反射器可围绕一个共同的旋转轴(8)以相同的角速度旋转。
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公开(公告)号：CN101288000A
公开(公告)日：2008-10-15
申请号：CN200680032797.7
申请日：2006-08-10
Applicant: 史密斯海曼有限公司
Inventor： M·杰克
CPC classification number: G01S13/887 , G01S13/02 , G01S13/90 , G01S2013/9088 , H01Q3/08
Abstract: 一种借助电磁波对检查对象进行成像的方法，尤其是用于对人员进行检查以发现可疑物品，其中用电磁波照射检查对象，所散射的波被接收，并根据合成孔径原理(SAR)被分析，以用于检查对象的图像显示。通过以下方式产生一个合成孔径，即从天线(1)发射出的波首先在空间上集合成束，其中较高波束的位置(5)在反射器(4)上沿着一个圆移动。
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