一种CMOS图像传感器芯片测试系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118259135A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410183271.9

    申请日:2024-02-19

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明公开了一种CMOS图像传感器芯片测试系统,包括CMOS模块、FPGA模块、ARM模块和PC机,PC机与ARM模块连接,ARM模块与FPGA模块连接,ARM模块、FPGA模块还分别通过CMOS模块与待测CMOS图像传感器芯片连接;PC机通过ARM模块分别向FPGA模块、CMOS模块传输控制指令数据,CMOS模块接收控制指令数据时控制待测CMOS图像传感器芯片工作产生原始图像数据,FPGA模块接收控制指令数据时接收原始图像数据并进行处理,最终由FPGA模块将原始图像数据和处理结果通过ARM模块传输至PC机。本发明相比现有技术,具有测试效率高、测试过程可靠、测试准确率高的优点。

    一种PCB板用电源纹波的检测方法及装置

    公开(公告)号:CN118259190A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410183389.1

    申请日:2024-02-19

    IPC分类号: G01R31/40 G01R19/25

    摘要: 本发明公开了一种PCB板用电源纹波的检测方法,采集PCB板的电源树信息;在采集周期T时间内,基于AD采集对PCB板的电源的初始电压数据进行采集,记录并存储;根据存储的所述电源的初始电压数据,获取第一级电源对应的原始电压数据,计算第一级电源原始电压数据的均值和峰值,计算纹波百分比,记录并存储;计算第一级电源及上一级电源的主要工作频率及电压峰峰值,判断两路电源的主要工作频率;构建相关性影响矩阵,完成对PCB板电源树所有级所有路电源的分析,将构建的所有相关性影响矩阵输出至PC端。本发明通过构建电源纹波相关性影响矩阵,实现了快捷、明确的对任一PCB板的所有电源路数电源纹波分析,有利于操作人员快速设计对应处理方案。

    一种分析薄圆柱体运动姿态的高速视觉测量装置和方法

    公开(公告)号:CN117876496A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202311622349.4

    申请日:2023-11-27

    摘要: 本申请公开的一种分析薄圆柱体运动姿态的高速视觉测量装置和方法,主要包括:利用高速相机拍摄目标薄圆柱体,获取图像信息,基于对图像信息的分析计算确定相机的第一参数和第二参数;基于第一参数和第二参数结合畸变系数确定矫正图像M1和M2;基于图像分割技术确定分割图像R1和R2,基于一阶中心距确定目标薄圆柱体在所述分割图像R1和R2中的质心坐标(U1,V1)和(U2,V2);将质心坐标(U1,V1)和(U2,V2)通过预设转换关系进行全局坐标系转换确定目标薄圆柱体的质心的世界坐标(Xw,Yw,Zw);基于构造平行圆面和相互垂直的矩形平面构建薄圆柱体模型;对薄圆柱体模型进行分析处理构建目标函数,确定姿态信息。通过本申请实现简单高效的测量效果,且提高测量结果的精度。